晶振可是擁有頻率,精度誤差,負載電容,工作溫度,電壓等各項指標參數(shù)的元器件,在深圳很多電子工廠,在尋找新供應商的時候,往往會讓供應商送樣,以便他們測試晶振功能以及各項指標參數(shù),但并不是每一家電子工廠都有專業(yè)的晶振測試儀器用來前期審核供應商的樣品,做數(shù)據(jù)分析的。比如他們往往僅用一個示波器來測晶振的頻率,但實際這樣是不夠準確的,并且要熟練掌握探頭的使用方法,比如測試晶振的時候,要將X1探頭換成X10探頭,只要探頭的帶寬夠了,才不會將晶振的頻率給過濾掉。我們可以參考愛普生晶振TSX-3225,看看晶振都有哪些參數(shù),并且需要什么設備測試。
圖中案例是EPSON TSX-3225貼片晶振的規(guī)格書參數(shù),其中晶振頻率,工作溫度,頻率公差,負載電容,串聯(lián)電阻,等是他的指標參數(shù)。像傳統(tǒng)的250B高精度測試儀,以及最新出的3195A等,是一臺可以用于測量石英晶體串聯(lián)諧振電阻Rr、串聯(lián)諧振頻率fs、負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL(機內(nèi)帶可調(diào)負載電容12.5pF~50pF,且等效電阻和諧振頻率直接讀數(shù),激勵功率可調(diào))的儀器設備。廣瑞泰擁有多臺高精度精密測試設備,如您在前期選型過程中,需要我們附帶產(chǎn)品數(shù)據(jù)報告,可提前與我們的客服溝通哦。
我們都知道實際應用中,改變匹配電容,可以微調(diào)晶振工作頻率,所以實際工作頻率和匹配電容是有個關系式的,所謂的匹配電容就是電路中晶振兩旁的電容值,如若芯片固定了晶振的負載電容值,比如選一款NDK晶振的一款NX3215SA,要求其晶振電容是12.5PF,我們根據(jù)以下公式來套用得出兩旁的電容值大小,晶振的負載電容=[(Cd*Cg)/(Cd+Cg)]+Cic+△C式中Cd,Cg為分別接在晶振的兩個腳上和對地的電容,Cic(集成電路內(nèi)部電容)+△C(PCB上電容)經(jīng)驗值為3至5pf。匹配電容可以選擇15-20PF之間。
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