今天和大家分享芯片的兩個概念,一個是工作溫度,一個是結溫,二者的定義和區(qū)別,以及應用時的關注點。
首先我們知道一顆芯片的熱性能是十分關鍵的參數(shù),在任何一個經(jīng)驗豐富的工程師都不會忽略這個參數(shù),很簡單,溫度變化會導致芯片工作的性能下降,參數(shù)變化,甚至影響產(chǎn)品失效。這是一個合格產(chǎn)品尤其是批量生產(chǎn)的產(chǎn)品所不能接受的,因此在芯片選型時,一般都會關注溫度這個參數(shù)。
1.關于溫度等級的劃分
芯片溫度參數(shù)在設計產(chǎn)品時都會規(guī)定,不同類型行業(yè)的產(chǎn)品一般有不同的行業(yè)需求,如
商業(yè)級芯片:0度到+70度;
工業(yè)級芯片:-40到+85度;
汽車級芯片:-40到+125度;
軍用級芯片:-55到+125度。
2.芯片溫度參數(shù)示例:
常見的芯片手冊都會規(guī)定芯片的工作溫度,一般在開頭或者在芯片的絲印編號會給出芯片的溫度范圍,如下圖的例子:
3.芯片工作溫度和工作性能相關示例:
在STM32F429芯片中明確規(guī)定,在供電范圍不同時,芯片所能承受的溫度是不同的,這也從側面印證在設計芯片的應用時,工程師必須關注芯片的工作溫度。
4.芯片結溫(Tj):
結溫(Junction Temperature)是芯片中開關MOS管等器件的實際工作溫度。芯片內(nèi)部是由于一堆材料做成的各種微小的元器件,有微小的MOS,二極管,集成電阻,電容等等,它們在經(jīng)過電流時,也會發(fā)熱,尤其在一些過大電流的功率芯片的應用中,結溫就成了一個必須考慮的參數(shù),超過了就會使這些內(nèi)部元器件損壞,由于這些內(nèi)部的結構器件距離芯片外部還有封裝隔離,因此它通常高于外殼溫度(Case Temperature)高。也就是會高于芯片標定的工作溫度。如下圖:
5.溫度和芯片應用的關系:
一般我們說的溫度都是指芯片的工作溫度,這樣在使用時,我們就知道了我們的產(chǎn)品在什么溫度下,芯片不會損壞,在嚴格要求的場合,如汽車,軍工等苛刻的應用場景,還會進行熱分析等計算,這時候就需要判定在產(chǎn)品工作溫度極限下,芯片的結溫不能被損壞。
另外在設計試驗環(huán)境時,一般都會以芯片的工作溫度作為輸入?yún)?shù),也就是說到-40到85度的芯片,產(chǎn)品在試驗時極限到達85度高溫時,是沒有問題,而如果使用結溫TJ作為最高試驗參數(shù),則會導致芯片損壞,因此在使用時,二者不可混淆。
而在嚴格的產(chǎn)品應用中,二者均要關注,也是工程師能力的一個體現(xiàn),尤其對于功率器件,如果設計導致芯片個體發(fā)熱嚴重,也會造成產(chǎn)品的損壞。因此也不能說芯片滿足工作環(huán)境,就一定不會損害產(chǎn)品。還是和設計者的設計有很大關系的。
審核編輯:湯梓紅
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原文標題:芯片的溫度之結溫和工作溫度的區(qū)別分析
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