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可靠性基礎(chǔ)知識(shí)第二期

新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 來(lái)源:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 作者:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 2023-04-11 16:25 ? 次閱讀

1.快速溫變和冷熱沖擊的區(qū)別?

快速溫變和冷熱沖擊都統(tǒng)稱溫度變化。溫度變化的方式有兩種:一種是規(guī)定溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間,一種是規(guī)定轉(zhuǎn)換率。前者是非線性,后者是線性。所以目前大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室按照溫變率的界定,把前者定義為冷熱沖擊,把后者定義為快速溫變。

失效機(jī)理不一樣導(dǎo)致試驗(yàn)的模式不一樣。如果需要了解產(chǎn)品的耐環(huán)境應(yīng)力能力,可以用冷熱沖擊試驗(yàn),其快速變化的溫度條件,是使互連缺陷變?yōu)楣收系闹饕囼?yàn)方法;如果需要了解產(chǎn)品在工作過(guò)程中由疲勞引起的失效,往往采用溫度循環(huán)試驗(yàn),這種可控的溫度變化在互連部分由于局部的熱不平衡,導(dǎo)致互連部分疲勞失效,激發(fā)上升與下降過(guò)程中對(duì)產(chǎn)品的影響及工作時(shí)氣候條件變化對(duì)產(chǎn)品的影響。

2.溫濕度組合循環(huán)與交變濕熱及其他濕熱測(cè)試的區(qū)別?

溫濕度組合循環(huán)在給定的時(shí)間內(nèi),存在多次的溫度變化或“呼吸”作用,有較大的溫度循環(huán)范圍,較大的溫度變化速率,有包含多次零度以下的溫度變化。

3.高溫或者低溫測(cè)試主要應(yīng)用在哪些方面?

主要是用于考核電工電子產(chǎn)品的高溫或者低溫條件貯存和使用的適應(yīng)性。

1.恒溫恒濕主要應(yīng)用于電子產(chǎn)品、元器件和材料在恒定濕熱條件下的使用和貯存的適應(yīng)性。

2.交變濕熱主要是考核電子產(chǎn)品或材料的溫度循環(huán)變化,以及在產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應(yīng)性。

3.溫度變化主要是應(yīng)用于確定元件,器件或者產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力或者工作能力,兩液槽式溫度變化主要是適用于玻璃、金屬組成的密封器件或者類似樣品。

4.光老化測(cè)試的目的是什么?

通過(guò)模擬自然陽(yáng)光長(zhǎng)期暴露作用的加速試驗(yàn),以評(píng)估材料耐候性的結(jié)果。

材料如涂料、建筑用塑料、橡膠制品等,應(yīng)用于室外經(jīng)受氣候的考驗(yàn),如光照、冷熱、風(fēng)雨、細(xì)菌等造成的綜合破壞,其耐受能力叫耐候性。

5.氙燈常用的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

氙燈是利用氙氣放電而發(fā)光的電光源。由于燈內(nèi)放電物質(zhì)是惰性氣體氙氣,其激發(fā)電位和電離電位相差較小。

填充氙氣的光電管或閃光電燈,其能量分布與陽(yáng)光中的紫外線和可見(jiàn)光的光譜相似。

其常用標(biāo)準(zhǔn)如下:

AS TMG 155-2013非金屬材料曝光用氙弧燈設(shè)備使用標(biāo)準(zhǔn)慣例

ISO 4892.2-2013塑料 實(shí)驗(yàn)室光源曝曬方法第2部分氙燈光源

GB/T16422.2-2014塑料 實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第2部分:氙弧燈

6.UV與氙燈測(cè)試的區(qū)別?

UV測(cè)試主要是考核紫外光對(duì)于產(chǎn)品的影響,其波長(zhǎng)范圍為600~400nm。

氙燈測(cè)試不僅考慮紫外光的影響,還考慮可見(jiàn)光的影響,其波長(zhǎng)范圍300~800nm。

7.不同的UV燈管用途有何不同?

UVA-340模擬陽(yáng)光中的紫外線部分,主要用于戶外產(chǎn)品的光老化試驗(yàn);

UVA 351模擬穿過(guò)窗戶玻璃的紫外線部門,主要用于室內(nèi)產(chǎn)品的光老化試驗(yàn),汽車內(nèi)飾等;

UVB-313EL廣泛應(yīng)用于耐久性材料測(cè)試,測(cè)試本身具備快速和省時(shí)的特點(diǎn),會(huì)但加速材料的老化。

8.什么是高壓蒸煮試驗(yàn)?

高壓蒸煮測(cè)試即高溫、高濕、高氣壓測(cè)試,主要考核塑料封裝的半導(dǎo)體集成電路和空封器件等電子器件的綜合影響;是用高加速的試驗(yàn)方式評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱和密封的能力,常用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。高壓蒸煮試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:大氣壓力、相對(duì)濕度(飽和或非飽和)、溫度、試驗(yàn)時(shí)間。常用于塑料封裝的半導(dǎo)體器件、集成電路、密封繼電器,密封器件等。

9.高壓蒸煮有哪些分類?它們的區(qū)別是?

高壓蒸煮試驗(yàn)主要分為HAST和PCT兩種。

HAST:溫度, 壓力, 濕度隨試驗(yàn)條件隨意設(shè)定,不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響,即為非飽和控制;

PCT:壓力是對(duì)應(yīng)溫度飽和壓力,濕度也是對(duì)應(yīng)該溫度條件下的飽和蒸汽濕度。

10.高壓蒸煮的標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

JESD 22-A102-C-2008加速抗?jié)裥阅軠y(cè)試(非飽和氣壓) ;

JESD 22-A110-B-1999高加速溫度濕度應(yīng)力測(cè)試等等。

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新陽(yáng)檢測(cè)中心有話說(shuō):

關(guān)于可靠性基礎(chǔ)知識(shí)百問(wèn)百答,本篇文章是第二期,后續(xù)將以專題的形式不定期更新,敬請(qǐng)關(guān)注。

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新陽(yáng)檢測(cè)中心將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評(píng)價(jià)、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識(shí),點(diǎn)擊關(guān)注獲取更多知識(shí)分享與資訊信息。

審核編輯黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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