超低電阻表面貼裝電流檢測(cè)電阻器似乎是理想的封裝。物理設(shè)計(jì),金屬表帶,似乎是理想的,提供盡可能低的電感。這些電阻通常需要某種電阻電容濾波器來(lái)限制開關(guān)噪聲尖峰。問(wèn)題在于分流器的時(shí)間常數(shù)是封裝電感除以電路電阻。因此,分流電阻越低,衰減時(shí)間越長(zhǎng)。
超低電阻表面貼裝電流檢測(cè)電阻器似乎是理想的封裝。物理設(shè)計(jì),金屬表帶,似乎是理想的,提供盡可能低的電感。這些電阻通常需要某種電阻電容濾波器來(lái)限制開關(guān)噪聲尖峰。問(wèn)題在于分流器的時(shí)間常數(shù)是封裝電感除以電路電阻。因此,分流電阻越低,衰減時(shí)間越長(zhǎng)。
大多數(shù)超低電阻表面貼裝元件的模型類似于一根電線。理想的電路模型是電阻器。許多工程師部署了四端子開爾文檢測(cè)方法,以減少接地層中的誤差。這對(duì)檢測(cè)電阻本身的誤差沒(méi)有任何作用。一個(gè) 1 W、0.005Ω 表面貼裝電阻器可具有高達(dá) 5nH 的封裝電感。在電流測(cè)量應(yīng)用中依賴電阻元件時(shí),電路將具有有限的頻率,可以定義為感抗等于分流電阻的點(diǎn),或者
其中
在圖1所示的情況下,可用頻率上限為160kHz!RL 網(wǎng)絡(luò)的時(shí)間常數(shù)為 L/R 或 1uS。對(duì)于同一封裝中的較低電阻值,問(wèn)題只會(huì)變得更糟。
圖1.
這個(gè)問(wèn)題可以通過(guò)RC電路糾正,如圖2所示。對(duì)于電流檢測(cè)應(yīng)用,我們需要 I(jw) × Rs = V2。圖2中的電路可以通過(guò)使R1、C1網(wǎng)絡(luò)中的極點(diǎn)抵消分流電阻中的零點(diǎn)來(lái)得出此結(jié)果。
圖2.
因?yàn)?/p>
和
因此,通過(guò)在第二個(gè)方程中替換 V1,我們得到了
因?yàn)槲覀兛释?/p>
我們可以將上面的表達(dá)式修改為
通過(guò)簡(jiǎn)化,我們發(fā)現(xiàn)
通過(guò)取消兩個(gè)部首,我們得到了預(yù)期的結(jié)果。從這里我們制作
其中
,然后選擇
通過(guò)簡(jiǎn)化,我們發(fā)現(xiàn)
或
簡(jiǎn)化為
所以
該模型假設(shè)分流器由電流源(高阻抗)如電感器驅(qū)動(dòng)。必須注意的是,圖2中的網(wǎng)絡(luò)不提供高頻濾波,因?yàn)轫憫?yīng)是平坦的。必須添加第二個(gè)極用于高頻滾降。用低阻抗(例如MOSFET源)驅(qū)動(dòng)分流器會(huì)在V1處引入一個(gè)極點(diǎn)。此極點(diǎn)發(fā)生在以下情況下
或
如果需要,可以通過(guò)插入帶有R2的零點(diǎn)來(lái)消除此極點(diǎn)。如果需要更高的精度,您可以嘗試使用R1和R2的電位計(jì),并對(duì)C1進(jìn)行最佳猜測(cè)。
圖3.
測(cè)量這些超低電阻元件可能會(huì)使最昂貴的電感橋和網(wǎng)絡(luò)分析儀達(dá)到其容量極限。使用高頻掃描和最大激勵(lì)水平有助于將這些測(cè)量結(jié)果從本底噪聲中調(diào)高出來(lái)。但電路布局(如接地層)可能會(huì)改變測(cè)量結(jié)果。
總之,理想的檢流電阻似乎尚不存在。隨著電源輸出電流的持續(xù)上升,這些分流電阻可能很快就會(huì)進(jìn)入亞毫歐級(jí)。隨著工作頻率的增加,謹(jǐn)慎對(duì)待這些二階和三階效應(yīng)是很好的建議。
審核編輯:郭婷
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