本文介紹流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的架構(gòu)和工作原理。它討論了架構(gòu)、延遲、數(shù)字糾錯、元件精度和數(shù)字校準(zhǔn)等關(guān)鍵性能特征。本文還簡要比較了流水線ADC與其他數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器架構(gòu)。
流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)已成為最流行的ADC架構(gòu),采樣速率從每秒幾兆采樣(Msps)到100Msps+。分辨率范圍從較快采樣率的 16 位到較低采樣率的 <> 位。這些分辨率和采樣率涵蓋了廣泛的應(yīng)用,包括 CCD 成像、超聲醫(yī)學(xué)成像、數(shù)字接收器、基站、數(shù)字視頻(例如 HDTV)、xDSL、電纜調(diào)制解調(diào)器和快速以太網(wǎng)。
采樣率較低的應(yīng)用仍然是逐次逼近寄存器(SAR)和集成架構(gòu)的領(lǐng)域,以及最近的過采樣/Σ-Δ型ADC。最高采樣速率(幾百M(fèi)sps或更高)仍然使用閃存ADC獲得。盡管如此,近年來,各種形式的流水線ADC在速度、分辨率、動態(tài)性能和低功耗方面都有了很大的改進(jìn)。
流水線型 ADC 架構(gòu)
圖1所示為12位流水線ADC的框圖。
圖1.具有四個3位級的流水線ADC(每級解析<>位)。
在本原理圖中,模擬輸入,V在,首先通過采樣保持(S&H)進(jìn)行采樣并保持穩(wěn)定,而第一階段的閃存ADC將其量化為三位。然后將3位輸出饋送到3位DAC(精確到約12位),并從輸入中減去模擬輸出。然后將該“殘留物”增加四倍并送入下一階段(階段2)。這種增益殘差繼續(xù)通過流水線,每級提供4位,直到到達(dá)4位閃存ADC,后者解析最后<>LSB位。由于每個階段的位是在不同的時間點(diǎn)確定的,因此對應(yīng)于同一樣本的所有位在饋送到數(shù)字糾錯邏輯之前,都與移位寄存器進(jìn)行時間對齊。請注意,當(dāng)一個階段完成對樣品的處理、確定位并將殘余物傳遞到下一個階段時,它可以開始處理從每個階段中嵌入的采樣保持接收的下一個樣品。這種流水線操作是高吞吐量的原因。
數(shù)據(jù)延遲
由于每個樣本必須在整個流水線中傳播,然后其所有相關(guān)位才能組合到數(shù)字糾錯邏輯中,因此數(shù)據(jù)延遲與流水線ADC相關(guān)聯(lián)。在圖 1 的示例中,此延遲約為三個周期(參見圖 2)。
圖2.流水線 ADC 中的數(shù)據(jù)延遲。
數(shù)字糾錯
大多數(shù)現(xiàn)代流水線ADC采用一種稱為“數(shù)字糾錯”的技術(shù),以大大降低閃存ADC(從而降低各個比較器)的精度要求。在圖1中,請注意,求和節(jié)點(diǎn)輸出端的3位殘差的動態(tài)范圍是原始第1級輸入的八分之一(V在),但隨后的增益僅為4。因此,第2級的輸入僅占第3級2位ADC范圍的一半(即,當(dāng)?shù)?級的第一個1位轉(zhuǎn)換沒有誤差時)。
如果第一個3位閃存ADC中的一個比較器在施加接近該比較器跳變點(diǎn)的模擬輸入時具有明顯的失調(diào),則會導(dǎo)致錯誤的3位代碼,從而導(dǎo)致錯誤的3位DAC輸出,從而產(chǎn)生不同的殘余。只要該增益殘差不會超出后續(xù)3位ADC的范圍,就可以證明剩余流水線生成的LSB代碼(當(dāng)添加到不正確的3位MSB代碼時)將給出正確的ADC輸出代碼。這意味著圖1中沒有一個閃存ADC必須與整個ADC一樣精確。事實(shí)上,第3至1級的4位閃存ADC只需要大約<>位精度。
數(shù)字糾錯不會校正最終4位閃存轉(zhuǎn)換中的錯誤。在該轉(zhuǎn)換中發(fā)生的任何錯誤都會被大 (44) 4 位閃存之前的累積增益。因此,最后階段只需要精度超過4位。
雖然在圖1示例中,每級產(chǎn)生三個原始位,但由于級間增益僅為4,因此每級(級1至4)僅有效解析3位。如上所述,額外的位只是將殘余的大小減小一半,從而在下一個1位ADC中允許額外的范圍用于數(shù)字糾錯。此過程稱為相鄰階段之間的“2 位重疊”。因此,整個ADC的有效位數(shù)為2 + 2 + 2 + 4 + 12 = <>位。
組件精度
數(shù)字糾錯不能校正單個DAC和增益放大器中的增益或線性誤差。前端S&Hs和DAC實(shí)際上需要大約12位精度,而后續(xù)階段的組件需要較低的精度(例如,第10級為2位精度,第8級為3位,依此類推)。這種降低精度的需求是因?yàn)楹笃诩壍恼`差項(xiàng)除以前面的級間增益。這一事實(shí)經(jīng)常被用來通過使流水線級逐漸變小來節(jié)省額外的功率。
在大多數(shù)采用CMOS或BiCMOS技術(shù)設(shè)計的流水線ADC中,S&H、DAC、求和節(jié)點(diǎn)和增益放大器通常作為單個開關(guān)電容電路模塊實(shí)現(xiàn),稱為乘法DAC(MDAC)。限制MDAC精度的主要因素是固有的電容失配。純雙極性實(shí)現(xiàn)將更加復(fù)雜,并且主要受到電流源DAC和級間增益放大器中的電阻失配的影響。
通常,對于大約12位或更高的精度,需要某種形式的電容/電阻調(diào)整或數(shù)字校準(zhǔn),特別是對于前兩級。
數(shù)字校準(zhǔn)
MAX1200 (16位,1Msps)、MAX1201 (14位2Msps)和MAX1205 (14位,1Msps)系列ADC1采用數(shù)字校準(zhǔn),以確保出色的精度和動態(tài)性能。 每個器件都是一個CMOS流水線ADC,具有四個4位級(具有1位重疊),末端有一個5位閃存ADC,總共提供3 + 3 + 3 + 3 + 5 = 17個原始位(見圖3)。數(shù)字校準(zhǔn)需要額外的14到16位來量化誤差項(xiàng),使其比ADC本身更高精度;額外的位也被丟棄,以提供 <> 位或 <> 位。
校準(zhǔn)從第三階段的MDAC開始;超出第三級后,MDAC 誤差項(xiàng)足夠小,無需校準(zhǔn)。第三級輸出由剩余的流水線ADC數(shù)字化,誤差項(xiàng)存儲在片內(nèi)RAM中。校準(zhǔn)第三個 MDAC 后,可用于以類似的方式校準(zhǔn)第二個 MDAC。同樣,一旦校準(zhǔn)了第二個和第三個 MDAC,它們就會用于校準(zhǔn)第一個 MDAC。使用平均(特別是在第一個和第二個MDAC中)來確保校準(zhǔn)是無噪聲的。在正常轉(zhuǎn)換期間,這些誤差項(xiàng)從RAM中調(diào)用,并用于調(diào)整數(shù)字糾錯邏輯的輸出。
圖3.MAX1200流水線ADC架構(gòu)
不同的變化
圖1中的示例顯示,流水線ADC可以有很多變化,取決于幾個變量:每級解析多少位;LSB閃存ADC中的位數(shù);以及是否使用數(shù)字校準(zhǔn)或調(diào)整來提高前幾個階段的精度。每級的位劃分部分由目標(biāo)采樣速率和分辨率決定。一般而言,高速CMOS流水線ADC傾向于每級較低的位數(shù)(每級低至2位,因此級間增益僅為<>),因?yàn)樵贑MOS中很難實(shí)現(xiàn)增益非常高的寬帶放大器。采樣速率較低的CMOS流水線ADC和雙極性流水線ADC(即使是采樣速率非常高的ADC)往往有利于每級使用更多位。這也減少了數(shù)據(jù)延遲。
CMOS MAX1425 (10位,20Msps)和MAX1426 (10位,10Msps)系列采用流行的每級1.5位架構(gòu);每個階段解析一位,具有 0.5 位重疊。每個1.5位級都有一個1.5位閃存ADC(只有兩個比較器),而全2位閃存ADC則為一個??梢宰C明,通過數(shù)字糾錯,這與具有2位閃存ADC和DAC的常規(guī)MDAC級的工作方式相同。這些轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)了 59dB 的高 SNR,10MHz 模擬輸入采樣速率為 20Msps。
MAX1444/MAX1446/MAX1448/MAX1449系列(分別為10位、40/60/80/105Msps)是最新一代高速、超低功耗、10位ADC,采用每級1.5位架構(gòu)。這些CMOS器件集成了寬帶低失真采樣保持放大器,以確保在整個奈奎斯特頻段內(nèi)外具有出色的動態(tài)性能。欠采樣是數(shù)字接收器設(shè)計中常見的,這些ADC系列可以實(shí)現(xiàn)。
每級1.5位流水線ADC
圖4.V殘留與 V在傳輸特性
1.5位閃存ADC(兩個比較器)將模擬輸入與比較器門限進(jìn)行比較,在本例中為-0.25V和+0.25V。然后,ADC提供與模擬輸入落點(diǎn)區(qū)域相對應(yīng)的數(shù)字輸出。1.5 位表示 V 上有三個區(qū)域殘留與 V在轉(zhuǎn)移特性。1 位 ADC 在傳輸特性上有兩個區(qū)域(1/高或 0/低),2 位 ADC 在傳輸特性上有兩個區(qū)域(00、01、10 和 11)。
根據(jù)閃存ADC輸入的下降區(qū)域,殘余電壓計算如下,并作為輸入電壓饋送到下一級。
表1舉例說明了在0級流水線ADC中,采樣的+6.7模擬輸入電壓如何轉(zhuǎn)換為數(shù)字輸出。流水線ADC的第一級負(fù)責(zé)最高有效位,第七級提供數(shù)字輸出的最低有效位。
階段 | V在(五) |
V 上的區(qū)域殘留與 V在傳輸特性 (見圖4) |
數(shù)字輸出(- 1、0 或 +1) | 小數(shù)位值 | V殘留(五在下一階段) |
1 | 0.6 | 區(qū)域 3 | +1 | 64 | 2 × 0.6 - 1 |
2 | 0.2 | 區(qū)域 2 | 0 | 32 | 2 × 0.2 |
3 | 0.4 | 區(qū)域 3 | +1 | 16 | 2 × 0.4 - 1 |
4 | -0.2 | 區(qū)域 2 | 0 | 8 | 2 × (-0.2) |
5 | -0.4 | 區(qū)域 1 | -1 | 4 | 2 × (-0.4) + 1 |
6 | 0.2 | 區(qū)域 2 | 0 | 2 | 2 × 0.2 |
7 | 0.4 | 區(qū)域 3 | 1 | 1 | 不需要 |
使用每級的數(shù)字輸出及其小數(shù)位,采樣的+0.6V模擬輸入電壓對應(yīng)于:
[(64 × 1) + (32 × 0) + (16 × 1) + (8 × 0) + (4 × -1) + (2 × 0) + (1 × 1)] = 77
127(全部1s)的數(shù)字輸出對應(yīng)于1V的模擬輸入。因此,77的數(shù)字輸出將對應(yīng)于77/127 = 0.606V,這是施加到流水線ADC的采樣模擬輸入的良好近似值。
流水線型模數(shù)轉(zhuǎn)換器與其他模數(shù)轉(zhuǎn)換器的比較
與SAR相比
在逐次逼近寄存器(SAR)ADC中,位由單個高速、高精度比較器逐位決定,從MSB到LSB。SAR ADC將模擬輸入與DAC進(jìn)行比較,DAC的輸出按先前確定的位更新,并依次接近模擬輸入。SAR的這種串行特性將其工作速度限制在不超過幾個Msps,對于非常高的分辨率(14至16位)仍然較慢。然而,流水線ADC采用并行結(jié)構(gòu),其中每級同時處理1到幾位(連續(xù)采樣)。雖然SAR中只有一個比較器,但該比較器必須快速(時鐘頻率約為位數(shù)x采樣速率),并且與ADC本身一樣精確。相比之水線ADC內(nèi)部的比較器都不需要這種速度或精度。
然而,流水線ADC通常需要比等效SAR多得多的硅面積。SAR 還顯示僅一個周期的延遲(一個周期 = 1/F樣本),而典型流水線ADC中的周期約為12個或更多。與流水線一樣,精度超過<>位的SAR通常需要某種形式的調(diào)整或校準(zhǔn)。
與閃光燈
盡管具有固有的并行性,但流水線ADC仍然需要在DAC和級間增益放大器中進(jìn)行精確的模擬放大,因此需要很長的線性建立時間。然而,純閃存ADC具有大量比較器,每個比較器由寬帶、低增益前置放大器組成,后跟一個鎖存器。與流水線ADC中的放大器不同,前置放大器必須提供不需要線性或精度的增益;只有比較器的跳變點(diǎn)必須準(zhǔn)確。因此,流水線ADC的速度無法與設(shè)計良好的閃存ADC的速度相媲美。
極快的8位閃存ADC(或其折疊/插值變體)的采樣速率高達(dá)1.5Gsps(例如MAX104/MAX106/MAX108)。找到10位閃存要困難得多,而12位(或更高)閃存ADC不是商業(yè)上可行的產(chǎn)品。這僅僅是因?yàn)樵陂W存ADC中,每增加一位分辨率,比較器的數(shù)量就會增加2倍;同時,每個比較器的精度必須提高一倍。然而,在管道中,對于一階,復(fù)雜性僅隨分辨率線性增加,而不是呈指數(shù)增加。
在流水線和閃存轉(zhuǎn)換器均可獲得的采樣速率水線器件的功耗通常比閃存低得多。流水線ADC通常不太容易受到比較器亞穩(wěn)態(tài)的影響。閃存中的比較器亞穩(wěn)態(tài)可能導(dǎo)致閃光碼誤差,在這種情況下,ADC會提供不可預(yù)測的不穩(wěn)定轉(zhuǎn)換結(jié)果。
與Σ-Δ轉(zhuǎn)換器相比
傳統(tǒng)上,數(shù)字音頻中常用的過采樣/Σ-Δ型轉(zhuǎn)換器的帶寬有限,約為22kHz。最近,一些高帶寬Σ-Δ轉(zhuǎn)換器的帶寬達(dá)到1MHz至2MHz,分辨率為12至16位。這些規(guī)格表明,集成了多位ADC和多位反饋DAC的非常高階Σ-Δ調(diào)制器(例如,第四個甚至更高)。它們的主要應(yīng)用是在ADSL中。Σ-Δ轉(zhuǎn)換器不需要特殊的調(diào)整/校準(zhǔn),即使是16至18位的分辨率。它們還要求在模擬輸入端使用陡峭的滾降抗混疊濾波器,因?yàn)椴蓸铀俾蔬h(yuǎn)高于有效帶寬。后端數(shù)字濾波器負(fù)責(zé)該任務(wù)。Σ-Δ轉(zhuǎn)換器的過采樣特性也傾向于“平均”模擬輸入端的任何系統(tǒng)噪聲。
Σ-Δ轉(zhuǎn)換器以速度換取分辨率。需要多次采樣(例如,至少16次,但通常要高得多)才能產(chǎn)生一個最終采樣,導(dǎo)致Σ-Δ調(diào)制器中的內(nèi)部模擬元件的運(yùn)行速度比最終數(shù)據(jù)速率快得多。數(shù)字抽取濾波器的設(shè)計也很簡單,并且消耗大量的硅面積。最快的高分辨率Σ-Δ型轉(zhuǎn)換器預(yù)計在不久的將來不會有超過幾MHz的帶寬。與流水線ADC一樣,Σ-Δ轉(zhuǎn)換器也存在延遲。
與半(兩步)閃光相比
兩步閃存轉(zhuǎn)換器可以概括為兩級流水線器件。然而,隨著數(shù)字糾錯時位數(shù)的增加(例如,12位或更高),每級都需要集成一個6至7位閃存ADC。級間增益放大器也需要非常高的增益。因此,對于更高的分辨率,使用兩個以上的階段是更明智的。
結(jié)論
流水線型ADC是采樣速率從幾Msps到100Msps+的首選架構(gòu)。設(shè)計復(fù)雜性僅隨位數(shù)線性(非指數(shù))增加,因此同時為轉(zhuǎn)換器提供高速、高分辨率和低功耗。流水線ADC在廣泛的應(yīng)用中非常有用,尤其是在數(shù)字通信中,轉(zhuǎn)換器的動態(tài)性能通常比傳統(tǒng)的直流規(guī)格(如差分非線性(DNL)和積分非線性(INL))更重要。在大多數(shù)應(yīng)用中,流水線ADC的數(shù)據(jù)延遲幾乎無關(guān)緊要。 Maxim不斷為其流水線ADC產(chǎn)品組合開發(fā)新的轉(zhuǎn)換器。這些流水線ADC很好地補(bǔ)充了其采用其他架構(gòu)設(shè)計的ADC系列。
審核編輯:郭婷
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