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PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測試技術(shù)和工具白皮書Ver 8.0發(fā)布了!

SSDFans ? 來源:SSDFans ? 2023-02-24 10:28 ? 次閱讀

我們上周更新了針對PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測試技術(shù)和工具白皮書,該白皮書總計約902頁,涉及PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4等相關(guān)總線技術(shù)在測試方面的最新進展,方便大家查閱。下面是新版的目錄簡介。

Chapter 1:Saniffer開放實驗室Open Lab介紹,包括可提供的測試產(chǎn)品和服務(wù),合作實驗室提供的針對PCIe Gen5 物理層和協(xié)議層CTS測試服務(wù),以及相關(guān)培訓(xùn)錄像鏈接。

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Chapter 2:PCIe/CXL Gen5協(xié)議分析儀原理、當(dāng)前面臨的挑戰(zhàn)介紹,以及業(yè)內(nèi)最先進的Gen5協(xié)議分析儀的架構(gòu)和創(chuàng)新功能,尤其是在信號質(zhì)量,解碼性能和LTSSM分析等方面的創(chuàng)新;這些創(chuàng)新功能提供了業(yè)內(nèi)開發(fā)CPU, GPU, DPU, AI卡,加速卡等各類板卡以及SSD公司,包括各類服務(wù)器、存儲系統(tǒng)等研發(fā)中心在實際診斷PCIe Gen5問題過程中解決最頭疼問題的有利武器,解決了傳統(tǒng)PCIe Gen5分析儀由于信號問題無法使用、解碼耗時極長,LTSSM初始化問題分析不直觀等各種問題。另外,也介紹了Broadcom公司PCIe Gen5 switch芯片內(nèi)部集成的協(xié)議抓包分析功能。

Chapter 3:全球業(yè)內(nèi)應(yīng)用最廣泛的PCIe Gen5 SSD研發(fā)測試工具介紹,涉及消費類SSD和企業(yè)級SSD的重點關(guān)注的功能的測試介紹,涉及上千個測試腳本。

Chapter 4:介紹了針對各類企業(yè)級PCIe Gen5 SSD的熱插拔,各類從物理層和鏈路層的故障注入測試,功耗分析,電壓拉偏,電壓/電流/功耗和邊帶sideband信號的高分辨率(例如4us,8us, 16us直至1ms, 10ms到秒級的采樣率)、長時間(例如分鐘級、小時、天、星期)的記錄、回溯功能。當(dāng)然,對于消費類M.2 SSD或者各類插卡,除了不支持熱插拔之外,上述的其它測試功能也均適用。

Chapter 5:搭建PCIe Gen5測試環(huán)境必備的產(chǎn)品(一):Gen5 switch卡,retimer卡,測試盤柜,轉(zhuǎn)接卡,轉(zhuǎn)接線,延長線等。

Chapter 6:搭建PCIe Gen5測試環(huán)境必備的產(chǎn)品(二):介紹了業(yè)內(nèi)目前市場上絕大部分的Gen5 IntelAMD工作站和服務(wù)器,方便日常速查使用,也包括針對企業(yè)級Kioxia Gen5 SSD CD8, CM7和Samsung Gen5 PM1743 SSD的介紹,以及基于Phison E26 Gen5 M.2 SSD的介紹和評測報告。另外也順帶介紹了如何擴展更多SSD端口進行測試,以及用于溫箱內(nèi)部的PCIe Gen5測試背板。

Chapter 7:這部分介紹了針對800MT/1.6GT/2.4GT NAND,DDR5/LPDDR5特性測試,協(xié)議分析和診斷,顆粒篩選,以及連接示波器和邏輯分析儀使用的各類interposer,socket,test board等等。

Chapter 8:國外、國內(nèi)常見測試溫箱的典型架構(gòu)和功能簡介

Chapter 9:日常測試使用的各類開放式主板托架、實驗室內(nèi)部使用的機架的介紹。

Chapter 10:介紹了目前消費類手機汽車電子上常用的UFS 3.0/4.0以及eMMC 5.1協(xié)議分析設(shè)備。

Chapter 11:收錄了Wikipedia關(guān)于PCIe, NVMe, CXL, DDR, UFS, NAND的速查資料,結(jié)合協(xié)議分析儀抓取數(shù)據(jù)分析介紹了PCIe和NVMe SSD的初始化過程,NVMe&UFS解讀,PCIe協(xié)議底層雜談,以及NVMe各種接口簡介,CXL技術(shù)基礎(chǔ)和應(yīng)用場景,PCIe Gen5 reimter技術(shù)簡介等。

Chapter 12:實驗室常用PCIe Gen 5 Switch卡,retimer卡,CXL內(nèi)存擴展卡,轉(zhuǎn)接卡,轉(zhuǎn)接線,延長線圖解速查,含圖片,型號,描述,方便日常查詢。

Chapter 13:簡介了我們在PCIe Gen4/5方面的定制開發(fā)能力,可以結(jié)合客戶的需求定制開發(fā)滿足測試需求的各類Gen5工具和測試治具。

該白皮書pdf文件大小78M,需要的朋友,可以通過下面幾種方式獲取該白皮書:

1.百度網(wǎng)盤下載

白皮書下載鏈接: https://pan.baidu.com/s/1FSc8LBTKM3aGr3FZ6nvhrQ?pwd=xcb3

2.Saniffer官方網(wǎng)站下載(可能訪問速度較慢)

https://www.saniffer.com/中文/文檔下載/

3.如果你對該白皮書里面的某些主題感興趣,或者希望在后續(xù)的版本增加某些技術(shù)或者產(chǎn)品,請或者點擊“閱讀原文”留言給我們?;蛘邟呙柘旅娴亩S碼聯(lián)系我們并獲取文檔。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測試技術(shù)和工具白皮書Ver 8.0發(fā)布了!

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