ADC 失調和 ADC 增益誤差規(guī)格

了解ADC的失調和增益誤差規(guī)格，如ADC傳遞函數(shù)，并了解ADC失調誤差和ADC增益誤差的示例。

模數(shù)轉換器 （ADC） 有很多規(guī)格。 根據(jù)應用要求，其中一些規(guī)范可能比其他規(guī)范更重要。 直流規(guī)格，如失調誤差、增益誤差、 積分非線性 （INL）和微分非線性 （DNL），在使用ADC對慢速移動的信號（例如來自應變片和溫度傳感器的信號）進行數(shù)字化處理的儀器儀表應用中尤為重要。

本文深入探討失調和增益誤差規(guī)格。

模數(shù)轉換器傳遞函數(shù)

3位單極性ADC的理想傳遞函數(shù)如圖1所示。

圖1. 3位單極性ADC的數(shù)字輸出與模擬輸入（傳遞函數(shù)）

理想情況下，ADC具有均勻的階梯輸入-輸出特性。 請注意，輸出代碼不對應于單個模擬輸入值。 相反，每個輸出代碼代表一個等于 1 的小輸入電壓范圍LSB（最低有效位） 在寬度上。 如上圖所示，第一次代碼轉換發(fā)生在0.5 LSB，此后每個連續(xù)的轉換發(fā)生在上一個轉換的1LSB處。 最后一次躍遷發(fā)生在低于滿量程（FS）值1.5 LSB處。

由于使用有限數(shù)量的數(shù)字代碼來表示連續(xù)范圍的模擬值，因此ADC表現(xiàn)出階梯響應，這本質上是非線性的。 在評估某些非理想效應（如失調誤差、增益誤差和非線性）時，通過穿過階躍中點的直線對ADC傳遞函數(shù)進行建模非常有用。 這條線可以用以下等式表示：

其中 V是輸入電壓，N表示位數(shù)。 如果我們不斷提高ADC分辨率（或輸出代碼的數(shù)量），階梯響應將越來越接近線性模型。 因此，直線可以被視為具有無限數(shù)量輸出代碼的理想ADC的傳遞函數(shù)。 然而，在實踐中，我們知道ADC分辨率是有限的，直線只是實際響應的線性模型。

ADC失調誤差和傳遞函數(shù)

由于內部元件不匹配等非理想效應，ADC的實際傳遞函數(shù)會偏離理想的階梯響應。 偏移誤差沿水平軸移動傳遞函數(shù)，從而導致代碼轉換點偏移。 圖2中的紫色曲線顯示了失調為+1LSB的ADC的響應。

圖2. 顯示 +1 LSB 偏移、實際響應和理想響應的圖表。

對于單極性三位理想ADC，第一次轉換應發(fā)生在0.5 LSB，將輸出從000變?yōu)?01。 但是，在上述響應下，ADC輸出在0.5
LSB時從001轉換到010。 理想情況下，001到010的躍遷應該發(fā)生在1.5 LSB處。 因此，與理想特性相比，非理想響應向左移動1 LSB。 這稱為+1
LSB失調誤差。 考慮非理想響應的線性模型（圖中的橙色曲線），我們還可以觀察到，對于0V輸入，系統(tǒng)輸出001，對應于+1 LSB失調。

圖3顯示了失調誤差為-1.5 LSB的ADC的響應。

圖3. 具有-1.5 LSB失調誤差的ADC響應。

由于失調誤差將整個傳遞函數(shù)偏移相同的值，因此可以通過從ADC輸出中減去失調值來輕松校準。 為了確定失調誤差，通常測量第一個代碼轉換，并將其與理想響應的相應轉換進行比較。 使用第一個代碼轉換（而不是下一個代碼轉換）可以產生更準確的測量，因為根據(jù)定義，失調誤差是指零伏輸入時與理想響應的偏差。

查找ADC失調誤差示例

考慮滿量程值為FS = 5 V的10位ADC。 如果從全零輸出代碼過渡到 00.。.01發(fā)生在8 mV的輸入電壓下，ADC的失調誤差是多少？

對于FS = 5 V的10位ADC，LSB值為4.88 mV，計算如下：

理想情況下，第一次躍遷應在0.5 LSB = 2.44 mV時發(fā)生，而測得的響應在8 mV時發(fā)生這種躍遷。 因此，ADC的失調值為-5.56mV。 失調誤差也可以表示為LSB的倍數(shù)，如下所示：

模數(shù)轉換器增益誤差

消除失調誤差后，實際響應的第一次轉換與理想特性的轉換一致。 但是，這并不能保證兩條特征曲線的其他轉換也將在相同的輸入值下發(fā)生。 增益誤差指定上次躍遷與理想值的偏差。 圖4說明了增益誤差概念。

圖4. 顯示增益誤差概念的圖表。

讓我們將上一次轉換上方的一半LSB定義為“增益點”。 消除失調誤差后，理想增益點與實際增益點之間的差異決定了增益誤差。

在上例中，非理想特性的增益誤差為+0.5LSB。 上圖中的橙色曲線是非理想響應的線性模型。 如您所見，測量增益點和理想增益點之間的差異實際上會改變系統(tǒng)線性模型的斜率。 圖5顯示了具有-1LSB增益誤差的ADC的響應。

圖5. 具有-1 LSB增益誤差的ADC的響應。

請注意， 一些技術文檔 將增益誤差定義為實際增益點與理想ADC直線模型之間的垂直差。 在本例中，繼續(xù)圖 5 中描述的示例，我們得到圖 6中的圖表。

圖6. 增益誤差為ADC實際增益點與直線模型之間的垂直差值。

垂直和水平差異產生相同的結果，因為理想線性模型的斜率為 1。

查找ADC增益誤差示例

假設滿量程值為FS = 5 V的10位ADC在4.995 V時從3FE的十六進制值最后一次轉換到3FF。
假設失調誤差為零，計算ADC增益誤差。

ADC的LSB為4.88 mV，如上例所示。 理想情況下，最后一次轉換應發(fā)生在FS -1.5 LSB = 4992.68
mV時。 發(fā)生躍遷時的測量值為4995 mV。 因此，ADC的增益誤差為-2.32 mV或-0.48 LSB。

用滿量程誤差表示增益誤差

基于上述概念，我們可以根據(jù)滿量程誤差來定義增益誤差。 如圖 7 所示。

圖7. 滿量程誤差。 圖片由 微片

在上圖中，實際響應受到失調和增益誤差的影響。 因此，實際最后一次轉換與理想最后一次轉換的偏差（用滿量程誤差表示）包含失調和增益誤差。 為了找到增益誤差，我們可以從滿量程誤差中減去失調誤差：

這相當于首先補償失調誤差，然后測量與理想響應的最后一次躍遷的偏差，以得出增益誤差。 請注意，在本例中，增益誤差為正，失調誤差為負，導致滿量程誤差小于增益誤差。

定義中的一些ADC規(guī)格不一致

值得一提的是，一些ADC規(guī)格在技術文獻中定義不一致。 一個令人困惑的不一致是失調和增益誤差的標志。 例如，雖然 微片 和 美信集成與本文中使用的定義一致，一些制造商，例如 意法半導體 （ST），不同。 ST以相反的方式定義這些誤差項的符號。 來自同一芯片制造商的文檔之間也觀察到不一致。 例如，圖
8 取自此 德州儀器 （TI） 使用相反符號約定的文檔。

圖8. TI 的 ADC 增益誤差示例。 圖片由 鈦

但是，圖 9（同樣來自 TI）使用的定義與本文中使用的定義一致。

圖9. TI 失調誤差示例。 圖片（改編）由 鈦

圖9（以及整篇本文）中使用的符號約定似乎在各種技術文獻中得到了更廣泛的接受。 盡管如此。 這種不一致可能會導致混淆，但如果您掌握了本文中討論的基本概念，則可以解決此問題。 例如，如果您測量ADC，并觀察到其第一次轉換發(fā)生在0.5LSB以上（類似于圖3中描述的情況），則無論使用何種符號約定，都應在ADC讀數(shù)中添加適當?shù)恼狄匝a償失調誤差。