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電流檢測(cè)電阻原理圖與電流檢測(cè)電阻TCR解讀

建立建利12 ? 來源:Bill Schweber ? 作者:Bill Schweber ? 2023-01-05 11:48 ? 次閱讀
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作為電流檢測(cè)電阻并不容易。人們對(duì)通過簡(jiǎn)單測(cè)量已知電阻兩端的電壓(即 I = V/R)然后應(yīng)用歐姆定律(圖 1)來確定電流的基本功能寄予厚望。什么可以更簡(jiǎn)單?

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圖 1:電流檢測(cè)電阻原理圖

使用電阻器 (“R”) 和相關(guān)電壓降 (“B 到 C 的 V”) 測(cè)量電流 (“A 到 D 的 I”) 原則上很簡(jiǎn)單,但有一些必須承認(rèn)的微妙之處。四線、高阻抗開爾文傳感通常在電流較高且電阻在 100mΩ 或更低范圍內(nèi)時(shí)使用。

因此,它并不像看起來那么簡(jiǎn)單。首先,存在決定電阻值的問題。一方面,較大的值會(huì)增加電阻兩端的電壓降,因此讀數(shù)范圍會(huì)變大,從而提高信噪比 (SNR) 和分辨率精度。但是,較大的值會(huì)浪費(fèi)功率,可能會(huì)影響環(huán)路穩(wěn)定性,因?yàn)樗鼤?huì)在源和負(fù)載之間放置更多的空閑電阻,并導(dǎo)致電阻器自熱增加。因此,較低的值會(huì)更好。實(shí)際上,許多設(shè)計(jì)人員將電阻器的最大壓降 100mV 作為折衷點(diǎn)。無論選擇何種電阻值,自熱都是一個(gè)隱蔽的潛在問題,尤其是當(dāng)它承載數(shù)安培及以上時(shí)。盡管它們的標(biāo)稱值很低,通常只有幾毫歐,

這是不容忽視的現(xiàn)實(shí)。第一個(gè)問題是自熱會(huì)降低電阻器的可靠性——開/關(guān)熱循環(huán)是最糟糕的。這是一個(gè)合理但長(zhǎng)期的擔(dān)憂。其次,最直接的問題是,這種自熱會(huì)改變檢測(cè)電阻器本身的標(biāo)稱值,從而破壞感知電流值讀數(shù)。

該怎么辦?除非您處于毫安或微安電流范圍內(nèi),在該范圍內(nèi)任何自熱都可以接受,否則負(fù)責(zé)任的設(shè)計(jì)人員必須使用供應(yīng)商提供的電阻溫度系數(shù) (TCR) 數(shù)據(jù)來執(zhí)行電阻變化分析。請(qǐng)注意,這可能是一個(gè)迭代過程,考慮到電阻變化可能會(huì)影響電流(取決于將電流驅(qū)動(dòng)到負(fù)載的是什么),這可能(反過來)影響自熱,這可能會(huì)影響電阻,這可能......(它可以繼續(xù)下去?。?。

TCR 不是一個(gè)可以忽略的小數(shù)字。它通常以每攝氏度百萬分之一 (ppm/°C) 的形式指定。一個(gè)普通的 1% 電阻器的 TCR 大約為每攝氏度百萬分之幾千??傠娮枳兓Q于電阻元件中使用的材料以及組件的額定功率和實(shí)際物理尺寸。幸運(yùn)的是,供應(yīng)商提供了 TCR 非常低的專用精密金屬箔電阻器。

他們通過使用由銅、錳和其他元素組成的各種合金來管理 TCR 來實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。例如, Bourns?型號(hào)CRL2010 -FW-R050ELF是一個(gè) 50mΩ、百分之一的器件,TCR 為 ±200ppm/°C;但是,可以使用具有較低 TCR 的設(shè)備。對(duì)于儀器儀表應(yīng)用中的終極精密測(cè)量,最低 TCR 電阻器還具有其電阻與溫度的完全表征曲線,該曲線具有拋物線形狀并取決于合金混合物。這是一個(gè)棘手的合金配方。例如,有點(diǎn)違反直覺的是,盡管銅的 TCR 高達(dá) 4,000ppm/°C,但它仍被添加到混合物中;然而,這樣做是為了改善整體散熱并減少元件的自熱。電阻引線的 TCR 也必須納入高精度分析。

當(dāng)然,有些應(yīng)用程序不需要高精度,但粗略的量規(guī)就可以了。對(duì)于這些情況,標(biāo)準(zhǔn)電阻器可能會(huì)起作用。但很多情況確實(shí)需要合理的一致性和準(zhǔn)確性,而電阻自熱加上TCR很容易使推定的電流值出奇地不正確。

因此,應(yīng)在物料清單 (BOM) 中指定低 TCR 器件,但只有在設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)完成分析和批準(zhǔn)后,才應(yīng)接受成本更低、更高 TCR 的器件。在系統(tǒng)(例如帶有大電池組的電動(dòng)汽車 (EV) 或混合動(dòng)力電動(dòng)汽車 (HEV)、光伏 (PV) 陣列或電機(jī)驅(qū)動(dòng)器)中使用錯(cuò)誤電流值的后果可能包括無法解釋的行為(起初)不合格的性能和效率簡(jiǎn)直是危險(xiǎn)的。

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Bill Schweber是Mouser Electronics的特約撰稿人和電子工程師,他撰寫了三本有關(guān)電子通信系統(tǒng)的教科書,以及數(shù)百篇技術(shù)文章、觀點(diǎn)專欄和產(chǎn)品功能。在過去的角色中,他曾擔(dān)任EE Times多個(gè)特定主題網(wǎng)站的技術(shù)網(wǎng)站經(jīng)理,以及EDN的執(zhí)行編輯和模擬編輯。

Analog Devices, Inc.(一家領(lǐng)先的模擬和混合信號(hào) IC 供應(yīng)商),Bill 負(fù)責(zé)營銷傳播(公共關(guān)系);因此,他一直在技術(shù)公關(guān)職能的兩邊,向媒體展示公司產(chǎn)品、故事和消息,同時(shí)也是這些內(nèi)容的接受者。

在 Analog 擔(dān)任 MarCom 職位之前,Bill 是他們備受推崇的技術(shù)期刊的副主編,還曾在他們的產(chǎn)品營銷和應(yīng)用工程團(tuán)隊(duì)工作。在擔(dān)任這些職務(wù)之前,Bill 在 Instron Corp. 從事材料試驗(yàn)機(jī)控制的模擬和電源電路設(shè)計(jì)和系統(tǒng)集成實(shí)踐。

他擁有 MSEE(馬薩諸塞大學(xué))和 BSEE(哥倫比亞大學(xué)),是一名注冊(cè)專業(yè)工程師,并持有高級(jí)業(yè)余無線電執(zhí)照。Bill 還計(jì)劃、編寫和介紹了各種工程主題的在線課程,包括 MOSFET 基礎(chǔ)知識(shí)、ADC 選擇和驅(qū)動(dòng) LED

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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