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功率密度權(quán)衡——開關(guān)頻率與熱性能

lPCU_elecfans ? 來源:未知 ? 2022-12-26 07:15 ? 次閱讀
電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/李寧遠)電源模塊功率密度越來越高是行業(yè)趨勢,每一次技術(shù)的進步都可以讓電源模塊尺寸減小或者讓功率輸出能力提高。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,電源模塊的尺寸會越來越小。功率密度不斷提高的好處也顯而易見,更少的組件,更高的集成度以及更低的成本。

更高的功率密度和溫度

功率密度是在給定空間內(nèi)可處理多少功率的度量,基于轉(zhuǎn)換器的額定功率以及電源組件的體積計算得出。電流密度也是一種與功率密度有關(guān)的指標,轉(zhuǎn)換器的額定電流可用于計算電流密度,量化為單位體積的電流。電流密度通常更適合應(yīng)用于負載點穩(wěn)壓器等應(yīng)用的常見品質(zhì)因數(shù),因為它可以排除輸出電壓的影響。
體積密度則和電路板面積息息相關(guān),電路板面積是影響功率密度的幾個關(guān)鍵因素之一,提高功率密度需要找到堆疊或3D 集成組件的方法,以減少功率解決方案的空間占用。半導(dǎo)體電源高性能、高能效的關(guān)鍵是實現(xiàn)更高水平的功率密度,也就是能在更小的體積中提供更高的功率處理能力。但更高的功率密度也會在較小的體積中產(chǎn)生更多熱量,這就需要先進的熱管理技術(shù)來維持性能和保護元件。
從電網(wǎng)到通信設(shè)備,從電動汽車到個人電子產(chǎn)品,各類電子系統(tǒng)都需要由密度更大、熱效率更高的電源芯片提供更高的性能和效率。

優(yōu)化功率密度——開關(guān)頻率與損耗

開關(guān)頻率和損耗是限制功率密度的因素之一,這一參數(shù)具有兩面性。增加開關(guān)頻率的確可以提高功率密度,但頻率的增加也會使損耗隨之增加,并可能引起溫升。
以同步降壓轉(zhuǎn)換器為例,同步降壓轉(zhuǎn)換器是當今低壓調(diào)節(jié)器中最流行的拓撲結(jié)構(gòu)之一。隨著單個處理器中晶體管計數(shù)的不斷增加,低壓、大電流電壓調(diào)節(jié)器的設(shè)計出現(xiàn)了各種挑戰(zhàn)。同步降壓轉(zhuǎn)換器的功率損耗包括以下幾個部分,MOSFET損耗、電感損耗、印刷電路板PCB損耗等,其中又以MOSFET損耗最為復(fù)雜。
同步降壓變換器中與MOSFET相關(guān)的功率損耗由導(dǎo)電損耗和開關(guān)損耗組成。傳導(dǎo)損耗是高側(cè)(HS)和低側(cè)(LS)FETs傳導(dǎo)損失的總和。這種損耗與開關(guān)頻率無關(guān)??梢酝ㄟ^減少MOSFET的導(dǎo)通狀態(tài)電阻來降低傳導(dǎo)損耗。然而,減少導(dǎo)通狀態(tài)電阻也將導(dǎo)致與器件開關(guān)相關(guān)的損耗增加,并增加裸片總面積和成本。
開關(guān)損耗則包括HS FET管開關(guān)損耗、LS FET開關(guān)損耗、柵極驅(qū)動損耗、LS二極管損耗和FET管輸出電容損耗,開關(guān)損耗隨開關(guān)頻率的增加呈線性增加。MOSFET開關(guān)損耗由過渡時間決定,并受到柵極驅(qū)動回路中的幾個參數(shù)的影響。共源電感(CSI)是其中最重要的參數(shù)之一。根據(jù)不同的應(yīng)用,不同的開關(guān)損耗對總體功率損耗的影響會有所不同,必須慎重地控制開關(guān)速度。

優(yōu)化功率密度——熱性能

器件中的任何電阻都會拉低效率,既浪費了電力又產(chǎn)生了額外的熱量。從封裝角度來說,散熱效果越好,通??梢猿惺艿墓β蕮p耗就越多不會出現(xiàn)溫升現(xiàn)象。比如QFN封裝就有一個大面積裸露焊盤用來導(dǎo)熱,這種封裝設(shè)計提供了以前認為不可能的大接地焊盤,從而在器件到印刷電路板之間形成了良好的散熱路徑,可以高效地將熱量從芯片轉(zhuǎn)移到電路板上去。晶圓芯片級封裝WCSP也能將大部分熱量直接從凸塊傳導(dǎo)出去,在越來越小的封裝尺寸下實現(xiàn)預(yù)期的熱性能。
為進一步減少產(chǎn)生額外熱量的功率損耗,很多廠商會將FET、電容器等多種元件直接集成到電源芯片中。這種集成可以讓開關(guān)速度變得更快且更高效,在實現(xiàn)高電流密度的同時提供更出色的熱性能。還可以在芯片上進行元件三維堆疊,實現(xiàn)更高的集成度。

小結(jié)

這只是如何突破功率密度瓶頸幾個途徑,提高功率密度從來不是將幾種辦法孤立拼湊在一起,而是需要全盤考慮互相權(quán)衡??傊诟〉目臻g內(nèi)實現(xiàn)更大的功率,還是離不開先進的工藝、封裝和電路設(shè)計技術(shù)。

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原文標題:功率密度權(quán)衡——開關(guān)頻率與熱性能

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