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基于DAC的低相位噪聲頻率合成適用于快速跳頻寬帶微波應用

星星科技指導員 ? 來源:ADI ? 作者:ADI ? 2022-12-15 15:20 ? 次閱讀

ADI最新一代高速DAC具有出色的相位噪聲,可在下一代低相位噪聲、快速跳頻捷變RF/微波頻率合成器中實現(xiàn)尺寸、重量、功耗/性能和成本優(yōu)勢。一個挑戰(zhàn)是,為了實現(xiàn)這種DAC功能,固定DAC采樣時鐘必須具有非常低的SSB相位噪聲,這超出了主流寬帶VCO PLL的能力。本文提供了一種采用模擬鑒相器(PD)的方法,與傳統(tǒng)的相位/頻率鑒相器頻率合成器相比,該方法可將環(huán)內相位噪聲性能提高10 dB至20 dB。為了滿足最苛刻的相位噪聲系統(tǒng)要求,建議的固定時鐘實現(xiàn)方案是使用模擬PLL鎖定的介質諧振器振蕩器(DRO)。其它更常規(guī)的例子是采用市售的MMIC VCO提供的。本文解釋了基于DAC的粗/細混頻器微波合成器的優(yōu)勢,并提供了框圖、測量的相位噪聲結果和應用電路,以便感興趣的工程師可以在實驗室中試用。

介紹

航空航天與國防(ADEF)社區(qū)對相位噪聲有著合理的癡迷。例如,雷達、電子戰(zhàn)(EW)和大量其他應用需要快速跳頻頻率合成器和激勵器提供一流的相位噪聲性能。這些頻率功能模塊通常設置關鍵系統(tǒng)性能,例如雷達雜波衰減,并用于更大的頻率轉換、調諧器和調制方案。ADI公司最新一代高速DAC具有極低的加性相位噪聲,實現(xiàn)了簡化敏捷頻率生成架構的長期夢想。向基于 DAC 的頻率合成的演進可實現(xiàn)更小的尺寸、重量、功耗和成本 (SWaP-C) 解決方案,取代更大、更昂貴的信號鏈。然而,為了實現(xiàn)潛在的相位噪聲,系統(tǒng)設計人員不能只使用任何舊的采樣時鐘源方案。本文介紹在實現(xiàn)采樣時鐘以獲得最佳DAC相位噪聲時的相位噪聲考慮因素和權衡。更進一步,本文探討了一種在Ku波段至Ka波段范圍內實現(xiàn)寬帶快速跳頻頻率合成器的低相位噪聲方法。提供應用電路框圖和測量數(shù)據(jù),以便設計人員可以在工作臺上復制實驗數(shù)據(jù),并在設計中利用該方法。

電子戰(zhàn)和雷達中的SSB相位噪聲影響

ADEF傳感系統(tǒng)需要在惡劣的電磁環(huán)境中以時間關鍵的方式攔截不希望被檢測到的敵方目標的微小信號或回波。瞬時無雜散動態(tài)范圍(SFDR)是一個品質因數(shù),通常用于表示接收系統(tǒng)在存在大阻塞信號的情況下對小信號的檢測能力。SFDR以IMD2或IMD3和本底噪聲表示,本底噪聲假定是均勻的,即從任何載波相位噪聲肩上充分偏移,以避免頻率偏移依賴性使方程過于復雜。這是一個可接受的假設,比如說,距離載波10 MHz。然而,電子戰(zhàn)和雷達應用需要在這個10 MHz偏移區(qū)域內更靠近載波的位置運行。因此,SFDR中沒有明確捕獲的一個重要方面是,在不埋在載波噪聲肩中的情況下,可以保持多近的發(fā)射載波動態(tài)范圍。該噪聲肩是單邊帶(SSB)相位噪聲,表示為載波頻率偏移的函數(shù):L(f)。

通信和衛(wèi)星通信系統(tǒng)可能更關心單個集成均方根抖動數(shù),該抖動數(shù)將相位噪聲肩負中的總噪聲積分在目標偏移上,而大多數(shù)雷達和電子戰(zhàn)設計人員更關心載波特定頻率偏移處的點SSB相位噪聲包絡。通常,這需要盡可能低,特別是在1 kHz至1 MHz范圍內的多普勒偏移時。頻率合成器設計人員面臨的挑戰(zhàn)是,這個關鍵任務區(qū)域通常是與鎖相環(huán)(PLL)噪聲結構相關的高相位噪聲平臺期。最小化該區(qū)域的噪聲貢獻是本文的主要目標。

如果本文有一個要點,請記住,大多數(shù)雷達和電子戰(zhàn)系統(tǒng)理想情況下希望采樣時鐘SSB相位噪聲饋送到DAC以下~10 dB,允許DAC設置系統(tǒng)的相位本底噪聲,而不是時鐘!在實踐中,我們將看到這是非常困難的。這證明了ADI公司的DAC相位噪聲性能已經變得多么出色,以及基于DAC的合成器具有多么大的變革性。

在整個討論中,DPLL 通常是指采用有源相位/頻率檢測器 (PFD) 和分頻器方案的任何集成 PLL 或頻率合成器芯片。圖1所示為經典數(shù)字PFD。

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圖1.經典的數(shù)字相位/頻率檢測器(PFD)。

APLL是指采用無源混頻器作為鑒相器(PD)。需要明確的是,SSB相位噪聲適用性對每個人來說意味著不同的東西,這取決于特定的任務要求和應用用例。多倍頻程微波調諧、可編程性、易用性和低SWaP-C是寬帶MMIC PLL-VCO合成器的現(xiàn)代優(yōu)勢。對于本文未介紹的大多數(shù)寬帶調諧頻率合成器應用,ADI的集成PLL-VCO頻率合成器是最佳選擇。我們只考慮DAC固定采樣時鐘的這個特定用例。例如,表 1 中使用的描述符旨在傳達與此利基用例相關的比較性能。

現(xiàn)在有什么不同?

過去,使用真實中頻實現(xiàn)基于DAC的高速合成的障礙是DAC的采樣速率相對較低(即100 MSPS)和低模擬頻率帶寬(即250 MHz)。在使用較舊的DAC時,低IF使轉換變得困難,并迫使一些笨重的,也許是不可能的RF濾波器。另一種選擇,倍頻,是不切實際的,因為所需的高乘法因子(稱為N)轉化為DAC加性相位噪聲L代數(shù)轉換器(f) 過高,特別是在地板上。提醒從F1上變頻到F2時相干頻率轉換的影響:

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換言之,ADI的較低采樣速率DAC加成相位噪聲很好,但它的直接載波頻率太低,無法在低SWaP-C下實際轉換為微波范圍。

快進到今天,游戲已經改變。DAC采樣速率、模擬帶寬和由此產生的直接實際中頻頻率能力已增加到多GHz,加性相位噪聲L代數(shù)轉換器(f) 仍然非常出色,因此我們終于有了一款多功能構建模塊,為實現(xiàn)低 SWaP、微波、寬帶、快速調諧頻率合成器開辟了各種新選擇。

使用高速DAC的寬帶微波頻率合成器

圖2是我們在此提及的基于DAC的頻率合成器的基本描述。每個功能塊在與載波的不同偏移處對整體相位噪聲的貢獻略有不同。本次討論的中心點是如何設計每個模塊,以使出色的DAC添加劑(也稱為殘差)相位噪聲能力L代數(shù)轉換器(f) 設置系統(tǒng)相位噪聲。我們會發(fā)現(xiàn)這不是微不足道的。

?代數(shù)轉換器(f) 加性相位噪聲由多個因素組成,例如器件 1/f 噪聲和隨機模式等實現(xiàn)技術。電源相位噪聲下降是一個臭名昭著的妖怪,謹慎的低噪聲LDO實現(xiàn)至關重要。

參考振蕩器 F裁判是頻率合成器將被鎖定的系統(tǒng)相位參考信號,通常在100 MHz范圍內。?裁判(f) 是絕對源相位噪聲,它將頻率合成器相位噪聲設置為最接近的偏移,通常為 <1 kHz。使用SWaP-C平衡參考相位噪聲性能和頻率是一項重要的系統(tǒng)權衡:如果參考相位噪聲不足,則下游相位噪聲的恢復介于不可能和非常痛苦之間。不要在參考時鐘上偷工減料。

固定頻率模塊是鎖相環(huán) (PLL) 所在的位置,鎖相環(huán)將本地 RF 電壓控制源 (RF 源) 鎖定到頻率參考。射頻源絕對相位噪聲的選擇L射頻源(f)是與SWaP-C權衡的另一個權衡,SWaP-C設置肩部與本底噪聲相遇處的遠偏移相位噪聲。PLL技術是一種加性相位噪聲貢獻者L鎖 相 環(huán)(f) 確定臨界中間偏移平臺(通常為 1 kHz 至 1 MHz)處的相位噪聲。PLL有源環(huán)路濾波器使用的運算放大器具有重要的噪聲貢獻,因此歸入這一類。這個中間偏移SSB相位噪聲區(qū)域對L 的影響最大射頻發(fā)展委員會(f)并且經常決定合成器任務的適用性。本討論的第一部分側重于最小化采樣時鐘相位噪聲L中科達克(f) 允許DAC相位噪聲L代數(shù)轉換器(f) 支配L射頻發(fā)展委員會(f)。

調諧發(fā)生器模塊是加性相位噪聲貢獻者L根(f) 將DAC RF輸出與一組固定頻率與絕對相位噪聲L 混合粗(f) 上變頻為寬帶捷變射頻輸出。本討論的第二部分側重于最小化相位噪聲L的技術外(f) 和雜散,一旦你有你的DAC輸出,需要將其轉換為更高的微波頻段。

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圖2.基于DAC的寬帶頻率合成和相位噪聲貢獻因素框圖。

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圖3.相位噪聲對整個DAC時鐘源相位噪聲的貢獻。

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圖4.您需要較低相位噪聲采樣時鐘的原因。

總結圖2、圖3和圖4中的重要相位噪聲關系:

關鍵目標是 L代數(shù)轉換器(f) 設定 L射頻發(fā)展委員會(f),L的捐款盡可能少中科達克(f)。

?外(f < 1 kHz) 為 L裁判(f < 1 kHz) + 20LogN (N = 最終/參考頻率比)。

?中科達克(f > 1 kHz) 高度依賴于我們選擇如何實現(xiàn) L射頻源(f)和L鎖 相 環(huán)(f). L裁判(f) 本底噪聲也將在這里發(fā)揮作用。

?外(f > 1 kHz)取決于上述因素,以及我們如何選擇上變頻L射頻發(fā)展委員會 (f > 1 kHz)。建議使用 L 的方法粗(f < 1 kHz)。

新的DAC優(yōu)勢,新的時鐘挑戰(zhàn)

我的一位同事引用了悲傷守恒的自然法則,當傳統(tǒng)的信號鏈被重新吸吮以支持較低的SWaP-C進步時。該定律在這里適用,因為我們只需要舊SWaP-C的一小部分來執(zhí)行基于DAC的調諧發(fā)生器功能塊(悲傷減少),但固定頻率源變得更加微妙(悲傷增加)。由于DAC的加性相位噪聲非常低(這是一件好事,這也是本文的原因),并且由于采樣時鐘現(xiàn)在相當高,為12 GSPS(這也是一件好事,允許可以合理濾除真正的IF),采樣時鐘源所需的SSB相位噪聲迫使我們考慮更復雜的時鐘源解決方案。換言之,使用MMIC VCO-PLL不足以實現(xiàn)DAC加性相位噪聲潛力。

我們首先考慮圖2中參考振蕩器、固定頻率塊和DAC的相互作用。固定頻率模塊由鎖相環(huán)中的RF壓控振蕩器(VCO)組成,該鎖相環(huán)將RF源鎖定到參考振蕩器。鎖相環(huán)由一個分頻器或轉換器、PFD和采用運算放大器的有源環(huán)路濾波器組成。

在以后的討論中比較了三個不同的實現(xiàn)示例:

描述 射頻 Osc PD/PFD SSB 相位
噪聲
SWaP-C
易用性

毫米式 VCO DPPL 多媒體視頻 主動式聚苯乙烯 最好 最好
MMIC VCO APLL 多媒體視頻 無源
混頻器PD
更好 更好
德羅阿普爾 剛果民主共和國 無源
混頻器PD
最好

舊的又是新的

模擬鑒相器比污垢更古老,是現(xiàn)代集成有源相位/頻率檢測器(PFD)合成器的祖父。在絕大多數(shù)現(xiàn)代寬帶頻率合成器應用中,它們已經過時,考慮到集成頻率合成器IC的進步,這是理所當然的。當需要在最佳SWaP-C下使用寬帶調諧VCO-PLL時,模擬PD是一個糟糕的選擇。那么,為什么在此DAC時鐘用例中選擇模擬PD?這與無源模擬PD的出色附加相位噪聲有關。PD比較兩個輸入頻率,并輸出代表相位差的拍頻信號。當比較頻率正交或鎖定時,PD輸出0 V DC信號。在采用有源PFD的整數(shù)N分頻和小數(shù)N分頻頻率合成器中,兩個比較輸入信號的最大工作頻率通常在100 MHz至500 MHz左右。 HMC698系列等頻率合成器/PFD可以工作高達1.3 GHz的PFD輸入,這有利于相位噪聲,但代價是更高的直流功率。最重要的是,有源PFD本身會產生加性1/f噪聲,并且高度依賴于實現(xiàn),也就是說,并非所有結果都是平等的。因此,在此示例中選擇了HMC440,其具有非常低的PFD 1/f噪聲。在將環(huán)內PD頻率轉換為RF輸出頻率時,以盡可能高的頻率操作PD的經驗法則可降低該環(huán)內加性PD相位噪聲平臺的理論20LogN增加。像ADF4401A這樣的轉換環(huán)路可以實現(xiàn)盡可能高的PFD頻率,同時避免來自有源分頻器的噪聲。

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圖5.模擬鎖相環(huán) (APLL) 的簡化框圖。

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圖6.數(shù)字鎖相環(huán) (DPLL) 的簡化框圖。

例如,讓我們考慮使用PFD的鎖相10 GHz RF輸出信號,其附加噪聲為–153 dBc/Hz。為了簡化起見,我們假設PFD是主要的環(huán)內噪聲貢獻因素(并不總是正確的)。以10 MHz運行PFD將獲得以下帶內相位噪聲(即平臺):

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對于完全相同的情況,讓我們在 100 MHz 時將 PFD 頻率高出 10×。環(huán)內相位噪聲改善至:

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20 dB 的優(yōu)勢是巨大的。始終將您的 PFD 時鐘盡可能高。使用基于模擬混頻器的PD有幾個優(yōu)點。

無源混頻器的加法噪聲非常低,因此通常可以忽略不計。運算放大器有源環(huán)路濾波器噪聲成為環(huán)內限制噪聲貢獻者。

比較頻率可以根據(jù)需要高,通常為多個GHz,這與環(huán)內組件的殘余噪聲相平衡。通常,頻率越高,可用的殘余噪聲RF放大器選擇越小。

總之,最佳無源PD頻率足夠高,使得PD和帶內分頻器的加性噪聲低于乘法參考振蕩器的絕對相位噪聲,但又不會太高,以免RF放大器殘余噪聲降低性能。需要多個RF放大器。

RF放大器殘余相位噪聲本身就是一個話題。工藝技術以及節(jié)點和電路架構是重要因素。一般來說,Si BJT提供最佳性能,但頻率范圍(<1 GHz)有限。砷化鎵HBT是次佳的器件,通常可通過Ku波段獲得(例如,ADL8150、HMC606LC5、HMC3653和HMC3587)。

pHEMT放大器在高頻下廣泛使用,但由于殘余相位噪聲變化很大,因此應謹慎使用。一般來說,pHEMT相位噪聲不是很大,并且會出現(xiàn)溫度變化。

圖7至圖10示出了由此產生的DAC輸出信號相位噪聲L射頻發(fā)展委員會(f) 適用于表 1 中概述的三種時鐘實現(xiàn)方案。測得的相位噪聲值如圖18至圖20所示。圖7顯示,高性能DRO RF振蕩器和模擬鎖相環(huán)(DRO APLL)在狹窄區(qū)域內推動DAC殘余噪聲,但在DAC噪聲之下在很大程度上可以被認為是“不可見的”。這提供了比圖8所示的傳統(tǒng)MMIC VCO DPLL采樣時鐘更好的性能,后者在非常寬的失調范圍內占主導地位,浪費了DAC相位噪聲能力,盡管提供了最佳的SWaP-C和易用性。SWaP-C和性能的最佳平衡可能是圖9中的MMIC VCO APLL,它在一段良好的關鍵失調范圍內保持DAC相位噪聲能力,但由于MMIC VCO相位噪聲低于DRO,因此性能會降低到較高的失調。圖10顯示了時鐘源選項相對于DAC加性相位噪聲的復合疊加。

應該注意的是,即使在DRO之間,SSB相位噪聲也有很大差異。這里使用的選項是一個大約大理石大小的小型SWaP-C DRO。存在更高性能的DRO,可以將曲線完全推低到DAC殘余噪聲以下。但是,DRO 相位噪聲電平與 SWaP-C 之間存在直接關聯(lián),也就是說,該解決方案將比彈珠大得多,僅 DRO 組件就可能要花費數(shù)千美元!

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圖7.DAC 射頻輸出 SSB 相位噪聲,使用 DRO 鎖定和模擬 PD。

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圖8.DAC 射頻輸出 SSB 相位噪聲,使用 MMIC VCO 鎖定,有源 PFD 鎖定。

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圖9.DAC射頻輸出SSB相位噪聲使用MMIC VCO鎖定和模擬PD。

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圖 10.DAC射頻輸出SSB相位噪聲比較三種方法。

微波合成器實現(xiàn)

到目前為止,我們已經考慮了相對于DAC加性相位噪聲電位的采樣時鐘源的實現(xiàn)選項?,F(xiàn)在我們將研究調諧生成器的實現(xiàn)。設計人員根據(jù)多種DAC和ADC目標(包括奈奎斯特區(qū)、瞬時帶寬和數(shù)據(jù)有效載荷等)選擇數(shù)據(jù)轉換器采樣時鐘頻率。一個有趣的難題是如何有效地規(guī)劃從可用的采樣時鐘及其次諧波、N諧波和/N兄弟中生成一組固定音調的頻率。這些固定音調是粗頻集,與DAC輸出的精細頻率集混合。

圖11是粗/細混合方案的框圖。在本例中,我們使用MxFE RF ADC AD9081/AD9082,采樣時鐘為12 GSPS,來自VCO的VCO,該VCO也以6 GHz輸出RF/2。這些音調是“免費”的,因為您需要它們來為DAC提供時鐘,因此將粗調發(fā)生器建立在它們周圍是非常有意義的。結果表明,將可編程分頻器饋送到單邊帶混頻器方案的18 GHz會產生一組粗頻率,當與DAC輸出混合時,可以覆蓋大多數(shù)Ku和K頻段的合成??烧{諧帶通濾波器對于衰減許多混頻和DAC雜散至關重要。精密DAC將SPI控制轉換為低噪聲模擬控制信號,調諧可調諧濾波器(例如ADV7125)。?

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圖 11.推薦使用模擬PD源的基于DAC的粗/細混頻器合成器。

當然,這種混頻方案聽起來有點復雜,一個蠻力更簡單的選擇是頻率乘以DAC輸出而不是混頻。倍頻很有吸引力,因為它更簡單且SWaP-C更低,因為圖11中的橙色突出顯示功能塊被圖12b中的乘法器功能塊取代。倍頻的問題,以及為什么我們在這里不認真考慮它作為一種選擇,是20LogN DAC本底噪聲和DAC雜散退化。直接RF DAC輸出具有出色的附加相位噪聲和雜散性(通常DAC產生的雜散遠低于60 dBc)。但是,要將3 GHz至6 GHz DAC RF輸出轉換為Ku波段,至少需要乘以4,即DAC雜散和相位噪聲下降12 dB。從任務的角度來看,這種12 dB的降級很有可能使DAC雜散和噪聲從合規(guī)變?yōu)椴缓弦?guī)。

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圖 12.(a) 性能較低的替代方案:集成數(shù)字PLL采樣時鐘。(b) 性能較低的替代辦法:乘數(shù)塊。

粗/細混頻器方法增加的復雜性值得麻煩,因為它避免了DAC的倍增,因此DAC雜散和相位噪聲電平以1:1轉換為上變頻RF輸出(不增加12 dB!

圖13至圖16說明了粗略和精細的SSB相位噪聲如何結合,在所需的上變頻微波頻率下產生最終的SSB相位噪聲。測量的相位噪聲值稍后如圖18至圖20所示。倍頻與將信號與自身副本混合相同。同樣,混合不同頻率的相干信號具有與乘法相同的20LogN相位噪聲影響。換句話說,在圖13至圖16中,在標注為“相干”的偏移區(qū)域中,采用混合與乘法方法沒有相位噪聲優(yōu)勢。在將灰度所示的采樣時鐘上變頻為更高的LO頻率時,整個相位噪聲曲線被簡單地向上轉換20LogN。粗/細混音的主要動機是當相位噪聲肩接近本底噪聲時,在較大的偏移下獲得的好處。由于在這些偏移處,LO粗音相位噪聲遠低于DAC加性噪聲水平,因此它基本上沒有任何貢獻,您只能看到DAC相位噪聲1:1轉換為上變頻微波信號。圖16比較了每種方法的最終頻率合成器相位噪聲,并注釋了混頻與乘法的遠失調優(yōu)勢。

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圖 13.微波合成器SSB相位噪聲使用DRO鎖定與模擬PD。

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圖 14.微波合成器SSB相位噪聲使用MMIC VCO鎖定,有源PFD鎖定。

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圖 15.微波合成器SSB相位噪聲使用MMIC VCO鎖定與模擬PD。

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圖 16.微波合成器SSB相位噪聲比較的三種方法。

圖17是實驗室中用于獲取圖18所示的SSB相位噪聲的元件鏈。超低噪聲100 MHz晶體振蕩器乘以60。圖18中產生的6 GHz參考相位噪聲的底限為–137 dBc/Hz。作為健全性檢查,將100 MHz晶體本底噪聲加上乘法鏈的加性相位噪聲置于–173 dBc,這是有道理的?;鶞孰妷涸? GHz信號饋送HMC558雙平衡混頻器的LO端口,該混頻器用作模擬PD。 (請注意,混頻器的IF端口必須直流耦合。PD 常數(shù) (K帕金森)來計算運算放大器有源濾波器值。這是使用機械延遲塊和電壓表通過實驗測量的。實驗設置在RF振蕩器點測量了DRO和MMIC VCO(HMC1166)。因為 KVCO兩者之間有很大不同,需要不同的環(huán)路濾波器值。使用HMC606時,放大器不會增加殘余相位噪聲。

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圖 17.評估電路。

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圖 18.測量的SSB相位噪聲比較了采樣時鐘場景、DAC加法和基準電壓源。所有走線歸一化為測得的DAC輸出頻率5.5 GHz。

如前所述,根據(jù)–137 dBc/Hz的倍增參考底電平選擇6 GHz作為PD比較頻率。環(huán)內相位噪聲將升高20Log10 (12/6 GHz) = 6 dB,表示為N=2。在此參考本底噪聲電平下,相反支路的運算放大器、分頻器和放大器殘余噪聲完全低于基準基準,因此它們不會產生影響。如果改為選擇3 GHz PD頻率,則參考底值為–143 dBc/Hz(與6 GHz方案相比,改進了6 dB)和N=4(與6 GHz情景相比,降低了6 dB),因此參考絕對相位噪聲對最終相位噪聲的影響隨著頻率的放大或縮小而受到洗刷。但是,環(huán)內分頻器、放大器和運算放大器的加性噪聲現(xiàn)在必須有效提高6 dB,才能在3 GHz時保持無貢獻者。隨著PD頻率的降低,您將達到這種加性噪聲占主導地位的點。反過來,將PD頻率提高到12 GHz可以消除環(huán)內分頻器的附加噪聲(良好),并且可能是可行的。RF放大器的附加噪聲會隨著頻率的增加而增加,但在12 GHz時可能很好。 K帕金森需要在 12 GHz 下重新測量。本文未評估 12 GHz PD 設置,但此設置可能工作正常。

如果在產品中實現(xiàn),則需要鎖采集電路。這沒有被證明。V調整需要“預充電”以將VCO頻率控制得足夠接近基準電壓源,以便可以捕獲鎖定。

在圖19中,使用帶有模擬PLL和AD829 o的HMC1166測得的相位噪聲結果令人印象深刻。P 放大器有源環(huán)路濾波器。使用相同的HMC1166 VCO,我們演示了使用模擬PLL的~15 dB改進,而基于HMC440的PD采用1 GHz方案則提高了~1 dB。最重要的是,時鐘主導相位噪聲的失調被限制在200 kHz至2 MHz,DAC加性相位噪聲的最壞情況降級為~10 dB。與此形成對比的是HMC440方案,在HMC440實現(xiàn)中,時鐘在20 kHz至2 MHz之間占據(jù)了額外的十倍,DAC加性噪聲的最壞情況會降低17 dB。在閉合失調時,VCO APLL跟蹤參考相位噪聲,在中間失調處有來自環(huán)路濾波器的一點峰化。這個大約 500 kHz 的區(qū)域可能會隨著進一步的迭代而得到改善。在建模中顯示出有希望的結果的建議技術是減少KVCO的VCO。上述方案使用現(xiàn)成的 COTS 組件,并且以低成本相當容易演示。

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圖 19.使用VCO (HMC1166)使用模擬PLL鎖定測得的DAC輸出SSB相位噪聲。所有走線歸一化為測得的DAC輸出頻率5.5 GHz。

真正令人興奮的性能來自圖 20 中的 DRO 場景,盡管 SWaP-C 更高??紤]到DRO APLL的性能,我們幾乎將其降低到足以在DAC相位噪聲下不可見。DAC RF輸出相位噪聲在CLK峰值接近DAC相位噪聲的10 kHz區(qū)域確實上升了幾dB。環(huán)路帶寬非常窄,以便獲得到極低DRO相位噪聲的最佳轉換點。DRO APLL的峰值被懷疑是運算放大器噪聲。總體而言,我們認為目標在幾dB內實現(xiàn),可以推薦使用模擬PLL鎖定的12 GHz DRO,用于需要MxFE器件全相位噪聲能力的最低相位噪聲合成器。

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圖 20.使用模擬PLL鎖定的DRO測量的DAC輸出SSB相位噪聲。所有走線歸一化為測得的DAC輸出頻率5.5 GHz。其他優(yōu)點。

使用基于 DAC 的混頻器頻率合成器的其他優(yōu)勢

除了相位噪聲優(yōu)勢外,基于 MxFE DAC 的粗/細混頻器頻率合成器在僅快速跳頻 (FFH) NCO 模式下能夠實現(xiàn) ~300 ns 的捷變跳頻。在32個獨立的NCO之間跳頻時,頻率跳相位相干性保持不變,如圖21所示。此外,該合成器不僅限于敏捷音調生成。DAC提供了通過JESD204B/JESD204C數(shù)據(jù)鏈路實現(xiàn)任意調制的靈活性。

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圖 21.跳頻相位相干性。

結論

ADI公司最新一代高速DAC(例如AD9162、AD9164、AD9172、AD9174、AD9081、AD9082)具有出色的相位噪聲,使SWaP-C在下一代低相位噪聲、快速跳頻、捷變RF/微波頻率合成器中具有優(yōu)勢。固定DAC采樣時鐘必須具有非常低的SSB相位噪聲,這超出了主流寬帶VCO-PLL的能力。與傳統(tǒng)的基于PFD的有源PLL頻率合成器相比,模擬PD可提供10 dB至20 dB的環(huán)內相位噪聲性能改進。為了滿足最苛刻的相位噪聲系統(tǒng)要求,建議的固定時鐘實現(xiàn)方案是使用模擬PLL鎖定的DRO。提供了基于DAC的粗/細混頻器頻率合成器示例、測量的相位噪聲結果和應用電路。

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