應(yīng)力測(cè)試原理:電路板在生產(chǎn)組裝過程中,容易造成形變,過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量,是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。深圳市品控科技開發(fā)有限公司的應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀器,可以準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)電路板生產(chǎn)過程中的形變值,137+柒陸壹伍+ 7083=VX,對(duì)電路板生產(chǎn)工藝的改進(jìn)有非常重要的參考意義。
TSK-64-64C應(yīng)力測(cè)試儀器,能快速進(jìn)行測(cè)量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動(dòng)生成報(bào)告,應(yīng)力測(cè)試報(bào)告如何分析呢,137+柒陸壹伍+ 7083=VX?
TSK-64-64C是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀,精度高,效率快。主要用于SMT各工序測(cè)試,如分板應(yīng)力測(cè)試、點(diǎn)膠應(yīng)力測(cè)試、焊錫應(yīng)力測(cè)試、過爐應(yīng)力測(cè)試、貼片應(yīng)力測(cè)試、差價(jià)應(yīng)力測(cè)試、ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、跌落應(yīng)力測(cè)試等,也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試,玻璃應(yīng)力測(cè),以及一些結(jié)構(gòu)件的 業(yè)務(wù)交流:137+柒陸壹伍+ 7083=VX 應(yīng)力測(cè)試等等。
特點(diǎn):儀器體積小,便放攜帶;軟件操作簡(jiǎn)單,上手快,能快速進(jìn)行測(cè)量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動(dòng)生成報(bào)告。對(duì)生產(chǎn)測(cè)試流程進(jìn)行完整的應(yīng)力測(cè)試分析,該系統(tǒng)在滿足常規(guī)的應(yīng)力數(shù)值分析、應(yīng)力速率分析,等基本功能要求的同時(shí),根據(jù)客戶后續(xù)發(fā)展需求,進(jìn)行功能和通道數(shù)的擴(kuò)展(8通道、16通道、24通道、32通道、40通道、48通道、56通道、64通道可根據(jù)情況選配)。
相關(guān)參數(shù)
1、采用模塊化方式,每個(gè)應(yīng)變模塊有8個(gè)采集通道,最大可以擴(kuò)展到32通道
TSK-32-8C最少含1個(gè)8通道應(yīng)變采集卡,為8通道,可以進(jìn)行擴(kuò)展。
2、通過USB接口連接,能夠在主機(jī)硬盤上存儲(chǔ)長(zhǎng)時(shí)間的數(shù)據(jù)。
3、采集信號(hào)為120/350歐姆應(yīng)變片(采用不同模塊)。
4、最高采樣率為10KHz(32通道同時(shí)采樣)。
5、操作菜單以對(duì)話框形式,中文界面,簡(jiǎn)單快速。
6、結(jié)合國(guó)際上應(yīng)變片測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)Intel標(biāo)準(zhǔn)和IPC-9704標(biāo)準(zhǔn),一鍵全自動(dòng)生成報(bào)告,并判斷“Pass” or“ Failed”
◆單模塊通道數(shù):8個(gè)模擬輸入通道
◆最大采樣率:320KS/s/機(jī)箱
◆采樣模式:多通道同步采樣
◆ADC分辨率:24位
◆支持應(yīng)變式傳感器電阻值:EX-410A系列支持120Ω,EX-410B系列支持350Ω
◆支持惠斯通電橋類型:1/4 橋
◆轉(zhuǎn)換精度:3.5062nV/V/LSB
◆精度增益誤差:0.02%(已校準(zhǔn),常規(guī)測(cè)量條件25℃,±5℃)
◆全量程范圍:±29.4mV/V(+62500uE/-55500uE)
◆端子間過壓保護(hù):±30V
◆穩(wěn)定性:增益漂移6ppm/℃
◆機(jī)箱接口類型:USB2.0高速輸入
◆供電電源:11到30VDC,220VAC
◆工作溫度:-40℃~70℃,工作濕度:10%~90% RH,無凝結(jié)
◆存儲(chǔ)溫度:-40℃~85℃,存儲(chǔ)濕度:5%~90% RH,無凝結(jié)
◆防護(hù)等級(jí):IP 40
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