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淺談連接器的可靠性測試項目及檢測方法

connra ? 來源:connra ? 作者:connra ? 2022-12-02 14:41 ? 次閱讀

隨著智能設(shè)備的快速發(fā)展,連接器被廣泛應(yīng)用于各類設(shè)備中。它們是電子工程技術(shù)人員經(jīng)常接觸的一類元器件,是電子電路中溝通的橋梁。通過電信號的快速、穩(wěn)定、低損耗、高保真?zhèn)鬏?,保證設(shè)備的正常功能。連接器的形式和結(jié)構(gòu)千變?nèi)f化,有各種不同應(yīng)用對象、頻率、功率和應(yīng)用環(huán)境的連接器。

連接器的可靠性應(yīng)考慮以下因素:

1.連接器產(chǎn)品設(shè)計和產(chǎn)品制造的材料;

2.操作環(huán)境;

3.功能要求的應(yīng)用環(huán)境,特別是溫度、濕度、腐蝕性等。確定其自身的哪種故障機(jī)制將起作用,而連接器的功能要求確定允許的故障程度。

為了了解連接器的可靠性,通常對連接器進(jìn)行各種測試。測試一般包括以下項目:插拔力測試、耐久性測試、絕緣電阻測試、振動測試、機(jī)械沖擊測試、冷熱沖擊測試、混合氣體腐蝕測試等。具體測試項目如下:

1.封堵力試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-13

目的:驗證連接器的插入力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求;

原理:以規(guī)定的速度完全插拔連接器,記錄相應(yīng)的力值。

2.耐久性試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-09

目的:評估反復(fù)插拔對連接器的影響,模擬連接器在實際使用中的插拔情況。

原理:以規(guī)定的速度連續(xù)插拔連接器,直到達(dá)到規(guī)定的次數(shù)。

3.絕緣電阻測試

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-21

目的:驗證連接器在經(jīng)受高溫、潮濕等環(huán)境應(yīng)力時,其絕緣性能是否滿足電路設(shè)計的要求或其電阻值是否滿足相關(guān)技術(shù)條件的要求。

原理:在連接器的絕緣部分施加電壓,使絕緣部分表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流。

4.耐壓試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-20

目的:驗證連接器能否在額定電壓下安全工作并承受過電壓,從而評價連接器的絕緣材料或絕緣間隙是否合適。原理:在連接器觸點之間和觸點與外殼之間施加規(guī)定的電壓,持續(xù)規(guī)定的時間,觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。

5.接觸電阻測試

參考:EIA-364-06/EIA-364-23

目的:驗證電流流過接觸片接觸面時產(chǎn)生電阻值的原理:通過對連接器施加規(guī)定的電流,測量連接器兩端的電壓降,得到電阻值。

6.振動測試:

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-28

目的:驗證振動對電連接器及其組件性能的影響。

振動類型:隨機(jī)振動、正弦振動。

7.機(jī)械沖擊試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-27

目的:驗證連接器及其部件的抗沖擊性能或評估其結(jié)構(gòu)是否牢固;

測試波形:半正弦波,方波。

8.冷熱沖擊試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-32

目的:評價大溫差快速變化下連接器對其功能質(zhì)量的影響。

9、溫濕度組合循環(huán)測試

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-31

目的:評價連接器在高溫高濕環(huán)境下儲存對連接器性能的影響。

10.高溫測試

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-17

目的:評價連接器是否在規(guī)定的時間內(nèi)暴露在高溫下,端子和絕緣體的性能是否發(fā)生變化。

1.鹽霧試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-26

目的:評價連接器、端子和涂層的耐鹽霧腐蝕性能。

12.混合氣體腐蝕試驗

參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-65

目的:評價連接器在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕性及其對性能的影響。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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