納米軟件分享：基于ATECLOUD平臺(tái)，電源模塊批量快速測(cè)試解決方案

項(xiàng)目背景

某客戶是權(quán)威的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，主要從事快速測(cè)試電源模塊等方面產(chǎn)品。目前客戶有某品牌定制的電源測(cè)試系統(tǒng)以及各品牌專用的電源測(cè)試系統(tǒng)。但由于送檢客戶產(chǎn)品類別很多，功率大小不一?，F(xiàn)有專用測(cè)試系統(tǒng)不能滿足所有的產(chǎn)品測(cè)試需求，導(dǎo)致測(cè)試效率低下。

納米軟件解決方案

為了幫助企業(yè)解決快速測(cè)試難題，提高測(cè)試效率，并且讓測(cè)試系統(tǒng)具有更好的擴(kuò)展性以及兼容性。該第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)選擇了納米軟件Namisoft自主研發(fā)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)，可以針對(duì)產(chǎn)品快速搭建測(cè)試系統(tǒng)，15分鐘即可搭建一整套測(cè)試方案；測(cè)試完成自動(dòng)生成測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表，且支持用戶定制測(cè)試報(bào)告。投入成本小，測(cè)試系統(tǒng)搭建速度快，完美解決了客戶目前測(cè)試過(guò)程中面臨的諸多問(wèn)題。

基于硬件

萬(wàn)用表、電子負(fù)載、電源

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)特點(diǎn)

ATECLOUD去LabVIEW化，無(wú)需編程，15分鐘快速搭建自動(dòng)化測(cè)試；

自定義報(bào)告模板，可實(shí)現(xiàn)快速建立、快速修改；

充分利用大數(shù)據(jù)、云計(jì)算，發(fā)揮數(shù)據(jù)的無(wú)限價(jià)值；

ATECLOUD-APP在任何時(shí)間任何，地點(diǎn)皆能滿足您的遠(yuǎn)程測(cè)試要求；

數(shù)據(jù)可視化為您提供第一手的測(cè)試數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)分析實(shí)時(shí)展示。

直流電源模塊測(cè)試方案測(cè)試使用流程

1、平臺(tái)登錄

連接設(shè)備，登錄ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)。

2、測(cè)試項(xiàng)目構(gòu)建

本次測(cè)試的項(xiàng)目包括啟動(dòng)電壓、空載輸入電流+輸出電壓、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率等。平臺(tái)封裝了算子、各類儀器指令，將測(cè)試步驟進(jìn)行拖拽即可完成測(cè)試項(xiàng)目流程的構(gòu)建。針對(duì)不同的客戶的測(cè)試需求，可以隨時(shí)在該模塊下新增對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目。

3、搭建測(cè)試方案

將構(gòu)建好的3個(gè)測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行封裝，這樣一套簡(jiǎn)單的直流電源模塊測(cè)試方案就搭建完成了?；贏TECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)強(qiáng)大的擴(kuò)展性和靈活性，用戶可以通過(guò)已有的測(cè)試項(xiàng)目快速搭建出針對(duì)其他新產(chǎn)品的測(cè)試方案。

4、參數(shù)設(shè)置運(yùn)行測(cè)試

選擇該測(cè)試方案，對(duì)啟動(dòng)電壓、空載輸入電流+輸出電壓、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率等測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行相應(yīng)的參數(shù)設(shè)置。輸入產(chǎn)品編號(hào)后啟動(dòng)測(cè)試，可視化數(shù)據(jù)面板實(shí)時(shí)分析實(shí)時(shí)展示測(cè)試數(shù)據(jù)。

5、導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)提供豐富算法模型，用戶可自定義報(bào)告模板，一鍵導(dǎo)出高質(zhì)量的分析報(bào)告。

ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)可以針對(duì)產(chǎn)品快速搭建測(cè)試系統(tǒng)，并且生成測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表，針對(duì)眾多的測(cè)試方案可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化管理，無(wú)需更多精力人手對(duì)測(cè)試方案的后續(xù)維護(hù)，讓用戶真正做到小投入大收獲。

審核編輯黃昊宇