摘要
本文介紹了對(duì)一種斬波運(yùn)算放大器輸入電流噪聲的理論分析和測(cè) 量,該放大器具有 10 pF輸入電容、5.6 nV/√Hz電壓噪聲PSD和4 MHz單位增益帶寬。當(dāng)配置的閉環(huán)增益更高時(shí),輸入電流噪聲以輸入斬波器處動(dòng)態(tài)電導(dǎo)的熱噪聲為主。此外,理論分析確定了輸入電流噪聲的另一個(gè)來(lái)源—由輸入斬波器處動(dòng)態(tài)電導(dǎo)采樣的放大器電壓噪聲所引起。而且,在采樣時(shí),寬帶電壓噪聲譜密度會(huì)折回到低頻,使得相應(yīng)的電流噪聲譜密度實(shí)際上隨著閉環(huán)帶寬的加寬而增加,因而配置的閉環(huán)增益越小,電流噪聲譜密度越大。當(dāng)閉環(huán)增益為10時(shí),測(cè)得的電流噪聲為0.28pA/√Hz,但在單位增益配置時(shí),電流噪聲增加到 0.77 pA/√Hz。
I.引言
斬波技術(shù)周期性地校正放大器的失調(diào)電壓,故能實(shí)現(xiàn)微伏級(jí)失調(diào) 電壓和非常小的1/f噪聲(其轉(zhuǎn)折頻率低于亞赫茲) ^1,2^ 。因此,許多斬波運(yùn)算放大器和儀表放大器主要用于檢測(cè)源阻抗和信號(hào)頻率相對(duì)較低的小輸入電壓。其重要應(yīng)用之一是放大反映光、溫度、磁場(chǎng)、力的毫伏級(jí)傳感器信號(hào),此類信號(hào)的頻率大多低于千赫茲^2^ 然而,相比于沒(méi)有斬波的傳統(tǒng)CMOS放大器,輸入斬波器的開(kāi)關(guān)會(huì)引入高得多的輸入偏置電流和輸入電流噪聲 ^3,4^ 。當(dāng)放大器的輸入由高源阻抗驅(qū)動(dòng)時(shí),這種輸入電流噪聲會(huì)被轉(zhuǎn)換為電壓噪聲,其 在放大器整體噪聲中可能占據(jù)主導(dǎo)地位 ^3,4^ 。
文章"[斬波放大器中輸入電流噪聲的測(cè)量和分析]"^4^解釋了輸入電 流噪聲的各種可能來(lái)源,并且將與輸入 MOS開(kāi)關(guān)的電荷注入相關(guān) 的散粒噪聲確定為主要噪聲源。然而,文章"[帶開(kāi)關(guān)輸入的放大器中的額外電流噪聲]"^5^將輸入斬波器處的動(dòng)態(tài)電導(dǎo)的熱噪聲確定為主要噪聲源。在所有先前的測(cè)量中,放大器的輸出電壓噪聲通過(guò)放大器輸出到輸入的反饋衰減與輸入斬波器隔離。
雖然斬波運(yùn)算放大器傳統(tǒng)上用于高閉環(huán)增益配置,但低閉環(huán)增益 和/或高源阻抗配置也需要其低失調(diào)電壓和低1/f噪聲特性 ^2^ 。因此, 了解其在這些配置中的電流噪聲行為十分重要。這篇文章簡(jiǎn)單介 紹了高和低兩種閉環(huán)增益配置下斬波運(yùn)算放大器的輸入電流噪聲 分析和測(cè)量,參見(jiàn)"[采用自適應(yīng)時(shí)鐘增強(qiáng)技術(shù)的5.6 nV/√Hz斬波運(yùn) 算放大器在軌到軌輸入范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大0.5μV失調(diào)]" ^6^ 。它確定了輸入電流噪聲的另一個(gè)來(lái)源,即由輸入斬波器的動(dòng)態(tài)電導(dǎo)采樣的運(yùn) 算放大器寬帶電壓噪聲所引起。此外,在采樣時(shí),來(lái)自斬波的偶次諧波頻率的電壓噪聲功率譜密度(PSD)會(huì)折回到低頻,導(dǎo)致相應(yīng)的電流噪聲PSD增加。因此,當(dāng)閉環(huán)增益較低時(shí),此噪聲源在總輸入電流噪聲中可能占主導(dǎo)地位,使得運(yùn)算放大器的輸出電壓噪聲以較小的衰減到達(dá)輸入斬波器。
第II部分回顧了先前報(bào)告的輸入電流噪聲源,第III部分解釋了由采樣寬帶電壓噪聲和相關(guān)的噪聲譜折疊效應(yīng)引起的輸入電流噪聲源的機(jī)制。第I V部分對(duì)運(yùn)算放大器的各種電流噪聲源進(jìn)行了一些數(shù)值計(jì)算 ^6^ 。第V部分將計(jì)算出的電流噪聲與仿真和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較,以驗(yàn)證分析。第VI部分提出了關(guān)于降低輸入電流噪聲的一些建議,文章最后在第VII部分中給出了一些結(jié)論。
II. 先前報(bào)告的輸入電流噪聲源
"斬波放大器中輸入電流噪聲的測(cè)量和分析"一文中解釋了如下三種電流噪聲源。第一,輸入開(kāi)關(guān)的通道電荷注入可以近似為平均電流 Iq_ave ,從而導(dǎo)致散粒噪聲:
其中fCHOPP為斬波頻率,而( WLCox )SW和( V~GS ~ – V~TH)~ SW分別為開(kāi)關(guān)~~的柵極氧化層電容和過(guò)驅(qū)電壓。
第二,時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生kTCC噪聲電荷,其被采樣到開(kāi)關(guān)的柵極氧化層電容上,然后噪聲電荷在每次斬波時(shí)流入放大器的輸入:
圖1.斬波和輸入電容引起的動(dòng)態(tài)輸入電流。
第三,如圖1所示,每當(dāng)輸入斬波器CHOP1切換時(shí),動(dòng)態(tài)輸入電流 IIN ( t )就會(huì)流入放大器的輸入電容 C~IN。~ 當(dāng)施加直流電壓源 V~IN(~ t ) =VIN_DC時(shí),平均輸入電流IIN_ave由下式給出:
然后,相關(guān)的動(dòng)態(tài)輸入電導(dǎo) GIN_ave和熱噪聲in_GIN由下式給出:
注意,三個(gè)噪聲方程式1、2、5中的任何一個(gè)都包含一組獨(dú)特的電路和開(kāi)關(guān)參數(shù),根據(jù)參數(shù)值不同,任何一種噪聲都可能在整體噪聲中占主導(dǎo)地位。在所有三個(gè)測(cè)量的放大器中(一個(gè)開(kāi)環(huán)斬波儀表放大器和兩個(gè)斬波運(yùn)算放大器,閉環(huán)增益為100),方程式1所示的散粒噪聲均在總電流噪聲中占主導(dǎo)地位 ^4^ 。該開(kāi)環(huán)儀表放大器僅有125 fF輸入電容,因此方程式5所示的動(dòng)態(tài)電導(dǎo)的熱噪聲無(wú)關(guān)緊要。
在文章“帶開(kāi)關(guān)輸入的放大器中的額外電流噪聲”中,測(cè)量了由分立FET構(gòu)成的斬波器,當(dāng)添加10pF至100pF的分立電容時(shí),方程式5所示的熱噪聲在總電流噪聲中占主導(dǎo)地位。請(qǐng)注意,電流噪聲隨電容值增加而增加。
III.采樣電壓噪聲和噪聲譜折疊效應(yīng)引起的電流噪聲
如方程式5所暗示的,動(dòng)態(tài)電導(dǎo)本身會(huì)產(chǎn)生熱電流噪聲,而且其采樣操作還會(huì)將輸入斬波器上的電壓噪聲轉(zhuǎn)換為電流噪聲。
采樣交流輸入電壓引起的動(dòng)態(tài)輸入電流
直流輸入電壓下的動(dòng)態(tài)輸入電流由方程式3給出?,F(xiàn)在考慮一種具有交流正弦差分輸入電壓 VIN ( t )和頻率 2 × fCHOPP的情況,如圖2所示??梢钥闯觯?dāng)斬波時(shí)鐘CHOP和CHOP_INV切換時(shí), VIN ( t )達(dá)到其峰值 VIN_AC 。因此,就像直流差分輸入電壓一樣,該交流差分輸入電壓產(chǎn)生動(dòng)態(tài)輸入電流 IIN ( t ),其平均電流IIN_ave由下式給出:
圖2. 交流差分輸入電壓下的動(dòng)態(tài)輸入電流波形。
圖3. 電壓噪聲PSD被采樣并轉(zhuǎn)換為電流噪聲PSD時(shí)的噪聲譜折疊效應(yīng)
當(dāng)輸入電壓和斬波時(shí)鐘之間的相位差是隨機(jī)的時(shí)候,方程式可以使用輸入電壓VIN_RMS的有效值和相應(yīng)的輸入電流IIN_ave_RMS來(lái)重寫(xiě):
當(dāng)以較高的斬波偶次諧波頻率(例如4 × fCHOP 或6 × fCHOP )施加交流輸入差分電壓時(shí),輸入電流也會(huì)以相同方式出現(xiàn)。
采樣電壓噪聲PSD和噪聲譜折疊效應(yīng)引起的輸入電流噪聲PSD
當(dāng)輸入電壓的頻譜包括斬波的多個(gè)偶次諧波頻率時(shí),它們?nèi)空刍氐降皖l,這被稱為噪聲譜折疊效應(yīng) ^1^ 。 斬波被認(rèn)為是一種調(diào)制技術(shù),而不是采樣技術(shù)。然而,此動(dòng)態(tài)輸入電流基于采樣的輸入電壓而出現(xiàn),不是基于連續(xù)輸入電壓而出現(xiàn),因此會(huì)發(fā)生噪聲譜折 疊。換句話說(shuō),平均動(dòng)態(tài)電流量?jī)H由斬波情況下的差分輸入電壓決定,而不是由任何其他時(shí)間的差分輸入電壓決定。
圖3顯示了噪聲譜折疊效應(yīng),其中輸入電壓噪聲PSD在DC到5 × fCHOP之間為enn,但在5 × fCHOPP以上為零。這就產(chǎn)生了DC到± fCHOP (即奈奎斯特頻率)之間的輸入電流噪聲PSD。±fCHOP之間的輸入電壓噪聲PSD en ( fen )會(huì)貢獻(xiàn)無(wú)頻移的輸入電流噪聲PSDin_en_GIN_0
。
w其中,fen和fin分別是輸入電壓噪聲PSD和相應(yīng)的輸入電流噪聲PSD 的頻率。高于fCHOP且低于3 × fCHOP的輸入電壓噪聲PSD會(huì)貢獻(xiàn)頻移 為–2 × fCHOP的輸入電流噪聲PSD:
總輸入電流噪聲PSD in_en_GIN_RSS ( f )是通過(guò)對(duì)運(yùn)算放大器閉環(huán)帶寬內(nèi)的所有頻率折疊的PSD進(jìn)行求和得到的,包括方程式8和9中的那些PSD,采用和方根(RSS)計(jì)算:
當(dāng)電壓噪聲PSD在en處是平坦的,并且?guī)揞l率為 fen_BW ,相應(yīng)的 低頻電流噪聲PSD由下式給出:
當(dāng) fen_BW /fCHOP >> 1時(shí),方程式可近似為:
其中,en × √fen_BW由積分有效值電壓噪聲en_RMSINT代替。該輸入電流 噪聲源大致與差分輸入端的有效值電壓噪聲、輸入電容大小和斬波頻率的平方根成比例。
斬波運(yùn)算放大器的輸入電流噪聲估計(jì)
斬波運(yùn)算放大器框圖
本部分及后面的部分分析、仿真并測(cè)量“采用自適應(yīng)時(shí)鐘增強(qiáng)技術(shù)的5.6 nV/√H z斬波運(yùn)算放大器在軌到軌輸入范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大0.5μ V失調(diào)”中介紹的斬波運(yùn)算放大器。該運(yùn)算放大器采用0.35μm CMOS工藝實(shí)現(xiàn),輔之以5 V晶體管,實(shí)現(xiàn)了5.6 nV/√Hz的電壓噪聲PSD和4 MHz的單位增益帶寬。其框圖如圖4所示,表1總結(jié)了輸入斬波器(CHOP1)的參數(shù)。為實(shí)現(xiàn)軌到軌輸入共模范圍,輸入跨導(dǎo)放大器級(jí)Gm11由n溝道和p溝道差分對(duì)組成,二者都會(huì)貢獻(xiàn)輸入電容 CIN 。此外需要較大尺寸的輸入MOS器件,從而以高功效比增加Gm1的跨導(dǎo)。輸入斬波器CHOP1中有四個(gè)開(kāi)關(guān),每個(gè)開(kāi)關(guān)都是由NMOS實(shí)現(xiàn),并且其柵極電壓基于輸入電壓而自適應(yīng)偏置,使得在輸入電壓變化時(shí),其過(guò)驅(qū)電壓恒定在0.5 V。
圖4. 斬波運(yùn)算放大器框圖
表1. 輸入斬波器(CHOP1)的參數(shù)| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 值 | 單位 |
| ---------------------------- | ------ | ---- | ------ |
| fCHOP | 斬波頻率 | 200 | kHz |
| CIN | Gm1 的輸入電容Gm1 | 10 | pF |
| (WLC OX )SW | CHOP1中開(kāi)關(guān)的柵極氧化層電容 | 30 | fF |
| (V GS – V TH )SW | CHOP1中開(kāi)關(guān)的柵極過(guò)驅(qū)電壓 | 0.5 | V |
| k | 玻爾茲曼常數(shù) | 1.38 × 10^–23^ | J/K |
| T | 絕對(duì)溫度 | 300 | K |
| q | 單位電子電荷 | 1.60 × 10^–19^ | C |
差分輸入端上的電壓噪聲
為計(jì)算方程式12中所示的電流噪聲PSD,需要知道積分有效值電壓噪聲 vin_RMSINT 。使用閉環(huán)增益=1、2、5、10仿真斬波運(yùn)算放大器。圖5(a)和(b)分別顯示了運(yùn)算放大器差分輸入端的電壓噪聲PSD及其積分有效值噪聲。本文中的所有仿真均由SpectreRF周期性噪聲仿真(P NOISE )進(jìn)行,以考慮斬波的開(kāi)關(guān)效應(yīng) ^7^ 。由于斬波,噪聲PSD在100 kHz以下是平坦的,但在200 kHz的斬波頻率處達(dá)到峰值 ^6^ 。請(qǐng)注意,這些數(shù)字表示運(yùn)算放大器差分輸入端的噪聲,而不是輸出端噪聲,因此低于100kHz的噪聲PSD在不同閉環(huán)增益下是恒定的。在1MHz以上,噪聲PSD也會(huì)增加,并以 Gm2 , Gm3 ,和Gm4的熱噪聲為主,原因是Gm1的增益下降。因此,其積分有效值噪聲在1 MHz以上也會(huì)增加,特別是在閉環(huán)增益較低的情況下,主要原因是閉環(huán)帶寬較高。增益 = 10時(shí),差分輸入端的積分有效值電壓噪聲為11 μVrms,但增益 = 1時(shí)為68 μVrms。
圖5. 斬波運(yùn)算放大器的仿真差分輸入電壓噪聲
每個(gè)輸入電流噪聲源的估算
接下來(lái)將仿真得到的積分有效值電壓噪聲應(yīng)用于方程式12以計(jì)算電流噪聲PSD。另外,其他噪聲源^4^引起的電流噪聲PSD是通過(guò)將表1中的參數(shù)應(yīng)用于方程式1、2、5來(lái)計(jì)算的。圖6顯示了閉環(huán)增益從1到10時(shí)計(jì)算出的四個(gè)噪聲源的電流噪聲PSD。當(dāng)閉環(huán)增益為1和2時(shí),采樣寬帶電壓噪聲PSD引起的電流噪聲PSD(方程式12)在總電流噪聲PSD中占主導(dǎo)地位。它隨著閉環(huán)增益提高而減小,當(dāng)閉環(huán)增益為10時(shí),其僅使總輸入電流噪聲PSD增加7%。相反,當(dāng)閉環(huán)增益高于5時(shí),總電流噪聲PSD以動(dòng)態(tài)電導(dǎo)本身的熱噪聲(方程式5)為主,故而幾乎保持恒定。因此,對(duì)于該運(yùn)算放大器,使用最高10倍的閉環(huán)增益來(lái)評(píng)估電流噪聲即足夠^6^
V. 仿真和測(cè)量結(jié)果
為了驗(yàn)證分析,將圖6所示的總電流噪聲PSD計(jì)算結(jié)果與仿真和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較。PNOISE仿真和測(cè)量均利用圖7所示電路設(shè)置進(jìn)行。電壓噪聲PSDen_OUT是通過(guò)短路RS來(lái)測(cè)量,總噪聲PSDen_OUT_RS是在RS = 100 kΩ下進(jìn)行測(cè)量。電流噪聲PSD in_IN則由下式給出:
其中,(1 + RF / RG )是運(yùn)算放大器周圍的閉環(huán)增益,GPOST =100是后置增益,用以簡(jiǎn)化動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀HP 35670A的測(cè)量。注意在方程式13中, en_OUT_RS和en_OUT以RSS形式減去,因?yàn)殡娏髟肼昉SD主要由較高頻率的折疊噪聲引起,因而與電壓噪聲PSD不相關(guān)。
圖6. 不同來(lái)源的輸入電流噪聲貢獻(xiàn)計(jì)算結(jié)果
圖7. 用于輸入電流噪聲仿真和測(cè)量的電路設(shè)置
外部電容 CS = 100 pF 將RS的噪聲帶寬限制在截止頻率16 kHz。在這種情況下,RS的熱噪聲在斬波的第一偶次諧波頻率(400kHz)處得到充分衰減,因此不會(huì)通過(guò)噪聲譜折疊效應(yīng)貢獻(xiàn)電流噪聲。另一方面,運(yùn)算放大器寬帶輸出電壓噪聲達(dá)到負(fù)輸入V INN , ,由輸入斬波器處的動(dòng)態(tài)電導(dǎo)采樣,可能會(huì)貢獻(xiàn)相當(dāng)多的電流噪聲。隨后,低頻中的電流噪聲PSD再次被RS轉(zhuǎn)換為電壓噪聲,此噪聲可以在后置增益級(jí)的輸出端進(jìn)行測(cè)量。
圖8顯示了增益 = 1配置(RG開(kāi)路且RF短路,如圖7所示)下仿真和測(cè)量得到的全頻率范圍輸入電流噪聲PSD。在0.01 kHz時(shí),仿真和測(cè)量得到的噪聲PSD分別為0.69 pA/√Hz和0.78 pA/√Hz。然后,噪聲PSD在由 RS和CS產(chǎn)生的16 kHz截止頻率處開(kāi)始下降。圖9顯示了不同閉環(huán)增益下0.01 kHz時(shí)的輸入電流噪聲PSD,以將圖6中的計(jì)算 值與仿真和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較。仿真和測(cè)量得到的電流噪聲PSD均隨著閉環(huán)增益的降低而增加,與計(jì)算結(jié)果有良好的相關(guān)性。增益=10時(shí)測(cè)得的輸入電流噪聲PSD為0.28 pA/√Hz,但增益 = 1時(shí)提高到最大0.77 pA/√Hz。
圖8. 輸入電流噪聲PSD與頻率的關(guān)系
圖9. 10 Hz時(shí)的輸入電流噪聲PSD與閉環(huán)增益的關(guān)系
VI. 減少輸入電流噪聲的建議
方程式1、2、5、12給出的所有電流噪聲源都與斬波頻率的平方根成比例增加。此外,與輸入斬波器處動(dòng)態(tài)電導(dǎo)相關(guān)的電流噪聲源(方程式5和12)隨著放大器的輸入電容增加而增加。這意味著針對(duì)較低電壓噪聲PSD而設(shè)計(jì)的斬波運(yùn)算放大器往往具有較高的輸入電流噪聲PSD,因?yàn)樾枰黾悠漭斎肫骷拇笮?。在給定源阻抗下,必須理解這種權(quán)衡才能實(shí)現(xiàn)最佳電壓噪聲和電流噪聲PSD。如果可能,應(yīng)避免在弱反轉(zhuǎn)區(qū)下使用互補(bǔ)輸入對(duì)或輸入晶體管,以便減小輸入電容。
方程式12表明,電流噪聲PSD隨著放大器差分輸入上的積分有效值電壓噪聲增加而增加,因而會(huì)隨著噪聲帶寬增加而增加。與開(kāi)環(huán)斬波儀表放大器相比,斬波運(yùn)算放大器更容易受到這種噪聲源的影響,因?yàn)槠漭敵鲈肼暱梢酝ㄟ^(guò)反饋網(wǎng)絡(luò)到達(dá)輸入端。如果可能,可以使用較高閉環(huán)增益來(lái)降低噪聲帶寬。降低噪聲帶寬的另一種辦法是將電容與R G ,RS和/或放大器差分輸入并聯(lián),如圖7所示。
七、結(jié)論
本文確定了另一種輸入電流噪聲源,它是由輸入斬波器處動(dòng)態(tài)電導(dǎo)采樣的放大器寬帶電壓噪聲所引起的。本文還發(fā)現(xiàn),與先前告的其他噪聲源不同,該電流噪聲PSD隨著閉環(huán)帶寬的加寬而增加,原因在于與輸入斬波器相關(guān)的噪聲譜折疊效應(yīng)。測(cè)量結(jié)果證實(shí)了本文的分析:增益=10時(shí),電流噪聲為0.28pA/√Hz;增益=1時(shí),由于閉環(huán)帶寬增加,電流噪聲提高到0.77pA/√Hz。本文為放大器設(shè)計(jì)人員和用戶提供了一些關(guān)于降低斬波放大器輸入電流噪聲的建議。表2比較了本文評(píng)估的斬波運(yùn)算放大器^6^與其他具有類似電壓噪聲PSD的新近斬波運(yùn)算放大器^8, 9, 10^的整體性能。
表2.斬波運(yùn)算放大器的規(guī)格|參數(shù) |本項(xiàng)工作 |LMP2021 |MAX44250 |OPA388 |
|--------------------------------------------- |---------- |--------- |---------- |-------- |
|電源電流(mA) |1.4 |0.95 |1.17 |1.7 |
|斬波頻率(kHz) |200 |30 |60 |150 |
|增益帶寬積(MHz) |4.0 |5.0 |10.0 |10.0 |
|最大失調(diào)電壓(μV) |0.5 |5.0 |8.5 |5.0 |
|最大輸入偏置(pA) |400 |100 |1400 |350 |
|電壓噪聲PSD(nV/√Hz) |5.6 |11.0 |6.2 |7.0 |
|電流噪聲PSD(pA/√Hz) |0.28 |0.35 |0.60 |0.10 |
參考電路
^1^ Christian Enz 和 Gabor C. Temes."[用于降低運(yùn)算放大器缺陷影響的電路技術(shù):自穩(wěn)零、相關(guān)雙采樣和斬波穩(wěn)定]." IEEE論文集 ,第84卷第9期,1320-1324頁(yè),1996年9月。
^2^ 楠田義典。""減少斬波放大器中的開(kāi)關(guān)偽像",博士論文。荷蘭代爾夫特理工大學(xué),2018年5月。
^3^ 樊勤文、約翰惠京、科菲·馬金瓦“[斬波多路徑電流反饋儀表放大器的輸入特性]”。2011年第四屆IEEE傳感器與接口進(jìn)展國(guó)際研討會(huì)(IWASI),2011年6月。
^4^ Jiawei Xu, Qinwen Fan, Johan Huijsing, Chris Van Hoof, Refet Firat Yazicioglu, and Kofi Makinwa “[斬波放大器輸入電流噪聲的測(cè)量和分析。]“IEEE固態(tài)電路雜志,第48卷第7期,1575-1584頁(yè),2013年7月。
^5^ Dietmar Drung 和 Christian Krause.“[帶開(kāi)關(guān)輸入的放大器中的額外電流噪聲]。“IEEE儀器與測(cè)量論文集,第64卷第6期,1455-1459頁(yè),2015年6月。
^6^ 楠田義典?!癧采用自適應(yīng)時(shí)鐘增強(qiáng)技術(shù)的5.6 nV/√Hz斬波運(yùn)算放大器在軌到軌輸入范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大0.5μV失調(diào)]?!?IEEE固態(tài)電路雜志 ,第51卷第9期,2119-2128頁(yè),2016年9月。
^7^ 肯·昆德特?!癧利用SpectreRF仿真開(kāi)關(guān)電容濾波器]?!?設(shè)計(jì)師指南咨詢公司, 2006年7月。
^8^[LMP2021數(shù)據(jù)手冊(cè)]。德州儀器,2009年9月。
^9^MAX44250 數(shù)據(jù)[資料MAX44250數(shù)據(jù)手冊(cè)]。Maxim Integrated,2011年10月。
^10^[OPA388數(shù)據(jù)手冊(cè)]。德州儀器,2016年12月。
作者
楠田義則
Yoshinori Kusuda 是線性和精密技術(shù)部門的IC設(shè)計(jì)工程師,工作地點(diǎn)在加利福尼亞圣何塞市。他主要負(fù)責(zé)精密CMOS放大器和開(kāi)關(guān)電容設(shè)計(jì), 分別于2002年和2004年獲得東京工業(yè)大學(xué)的電氣工程學(xué)士和碩士學(xué)位。
審核編輯 黃昊宇
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