LCR測試儀使用概要和連接方法

隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了LRC電橋這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

電橋測試儀測量原理

Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT接入電路時，放大器的負(fù)反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測定DUT兩端電壓，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。

HP的測試端Hp，Hc，Lp，Lc，Guard的配置可導(dǎo)致測試的誤差的差異。

LCR測試儀一般用于測試電感和電容，測量步驟如下：

1、設(shè)置測試頻率

2、測試電壓或者電流水平

3、選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS、LP、CS、CP、D等

4、儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進行開路、短路校準(zhǔn)，***的儀器要進行負(fù)載校準(zhǔn)

5、選擇測試夾具

6、夾具補償

7、將DUT放在夾具上開始測試。

LCR測試儀能準(zhǔn)確并穩(wěn)定地測定不同的元件參數(shù)，主要是用來測試電感、電容、電阻的測試儀。它具有功能直接、操作簡便等特點，能以較低的預(yù)算來滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進貨檢驗、電子維修業(yè)對器件的測試要求。

LCR測試儀使用概要

如何正確地測量電子零部件的參數(shù)?

電阻、電容、電感是電子線路中必定使用的零部件。在進行電子線路的設(shè)計的基礎(chǔ)上，準(zhǔn)確地測量這些零部件的值是極其重要的。測量這些零部件的值，一般使用LCR測試儀。

用LCR測試儀來測量零部件時，與試樣之間的“連接”容易成為引起測量誤差的原因。本特集介紹進行這種“連接”的方法、以及測量誤差校正方法的要點。

LCR測試儀與試樣的連接方法

用LCR測試儀來測量零部件的參數(shù)時，其關(guān)鍵問題在于測量誤差。首先是LCR測試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各樣的原因，而與試樣的連接所引起的誤差，就是其中之一。

由于LCR測試儀的型號不同，可能的連接方法也會有區(qū)別，在此我們整理一下五種連接方法的各自特點。一般來說，連接方法越麻煩，越能準(zhǔn)確地進行測量。

1.端子法

雖然連接容易，但是由于接觸電阻、連接電纜的串聯(lián)阻抗(r)、連接電纜以及端子之間的雜散電容(Cs)會引起較大的誤差，如果不是中等數(shù)量級的阻抗，那么測量誤差就會比較大。

2.端子法

對測試電纜和試樣進行屏蔽，通過抑制雜散電容，減少對于高阻抗零部件的測量誤差。主要可用于測量較小的電容量。

3.端子法

設(shè)置獨立的電壓檢測電纜，以消除由于測試電纜的串聯(lián)阻抗所引起的電壓降和接觸電阻的影響等，是一種減少低阻抗零部件的測量誤差的方法。需要考慮由于電纜之間的互電感(M)所產(chǎn)生的影響。

如果使用在一個夾子上有2個相互絕緣的電極的開耳芬夾子，那么用2個夾子可以容易地進行4個端子的連接。

4.端子法

是一種減少測量阻抗誤差的方法。

5.端子對法

對于交流阻抗的測量，與直流測量不同，其特點是不會受到溫差電動勢的影響。但是，由于電流電纜與電壓電纜之間的電磁感應(yīng)，測量的頻率越高，要想測量低阻抗就越困難。對于這個問題，可以利用電纜的屏蔽層，使電流的去路和歸路相互重疊，以抑制磁通量的產(chǎn)生，由此來減少由于電磁感應(yīng)所引起的殘留阻抗。

如何才能校正誤差?

為了減少測量誤差，LCR測試儀具有若干校正功能。校正值根據(jù)頻率和阻抗的量程不同會有所不同，所以進行全范圍的校正要花費很多時間。

這里，對零點校正和負(fù)荷校正進行解說。

零點校正:當(dāng)LCR測試儀的零點漂移對于測量值不能忽略時，就需要進行零點校正。因為零點漂移會隨著電纜和電極的物理配置不同而變化，所以進行開路和閉路的零點校正時，必須與連接零部件時的電纜布線、電極間隔等相同。

負(fù)荷校正:除了測量夾具等不同所引起的零點漂移以外，如果還有不能夠忽略的測量誤差，那么可以進行負(fù)荷校正。即使對于沒有負(fù)荷校正功能的LCR測試儀，也能夠?qū)Ω鱾€阻抗量程和頻率求取校正系數(shù)，自己進行校正。

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