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電源應(yīng)用集成電路的一般熱分析

劉娟 ? 來源:lin364884292 ? 作者:lin364884292 ? 2022-08-09 09:17 ? 次閱讀

熱分析是材料科學(xué)的一個(gè)分支,它研究作為溫度函數(shù)的材料特性。所有集成電路在承受電壓時(shí)都會(huì)產(chǎn)生熱量。因此,為了將器件的結(jié)溫保持在最大允許值以下,應(yīng)提供對(duì)通過封裝的熱流的估計(jì)。

介紹

在封裝選擇過程中,熱管理是必不可少的,以確保產(chǎn)品的高可靠性。良好的熱評(píng)估需要結(jié)合分析計(jì)算、經(jīng)驗(yàn)分析和熱建模。問題是確定特定集成電路在高溫下是否可靠。不遵循特定的分析方法,就不可能提供可靠的答案。DC 模式操作中,一些參數(shù)起作用,例如熱阻 (θ JA ) 和結(jié)溫 (θ JC)。熱阻是熱導(dǎo)的倒數(shù),測量物體或材料抵抗熱流的溫度差。另一方面,結(jié)溫是雙極晶體管、MOSFET 和整流器的半導(dǎo)體熱分析中的一個(gè)重要因素。目前,該術(shù)語用于所有電源設(shè)備,包括 IGBT 設(shè)備。AC 模式下或 LED 由使用 PWM 調(diào)制的 MOSFET 驅(qū)動(dòng)的情況下,有必要定義瞬態(tài)熱數(shù)據(jù)。我們應(yīng)該回答的問題是:在遇到熱問題之前,芯片可以在某個(gè)功率水平下運(yùn)行多久?在接下來的段落中,我們將嘗試做的是確定與功耗相關(guān)的熱方程,以便可以將芯片的結(jié)溫預(yù)測為時(shí)間的函數(shù)。這種方法將用于任何類型的芯片。基于這些方程,將定義一個(gè) RC 等效電路模型(使用 SPICE 很容易模擬),代表 IC 的瞬態(tài)熱特性。

熱力學(xué)

溫度和時(shí)間之間的關(guān)系源自兩個(gè)主要定律:牛頓冷卻定律和能量守恒定律。第一個(gè)可以表示如下:

pYYBAGHFeRyAaHXRAAAIxV1BzUY254.jpg

其中 T B是體溫,T A是環(huán)境溫度,K A是比例常數(shù)。相反,第二個(gè)由以下關(guān)系給出:

pYYBAGHFeSeAMzC-AAAFf_SFALM172.jpg

其中 P 是施加到物體上的功率,m 是質(zhì)量,c 是比容量。牛頓定律指出,身體熱量損失的速度與身體與環(huán)境之間的溫度差成正比。另一方面,能量守恒定律表明能量不能被創(chuàng)造或消失,而只能從一種形式改變?yōu)榱硪环N形式或從一個(gè)物體轉(zhuǎn)移到另一個(gè)物體。結(jié)合前面提到的方程,我們得到了本文下一部分所需的公式:

poYBAGHFeTOAGlBeAAAKJ-ARCPI991.jpg

如上所述,熱阻是要分析的第一個(gè)因素:它可以很容易地在 IC 數(shù)據(jù)表中找到。計(jì)算應(yīng)在熱平衡條件下進(jìn)行,即:

poYBAGHFeT6ATh96AAAFCPh3w_w675.jpg

我們現(xiàn)在可以使用以下關(guān)系計(jì)算功率:

poYBAGHFeUqAIHZWAAAFzqhglQc697.jpg

在哪里:

pYYBAGHFeVaAPe0dAAAFeZFklgQ113.jpg

該參數(shù)是物體與外界環(huán)境之間的熱阻。

熱模型

此時(shí),應(yīng)定義物理數(shù)學(xué)模型,以便應(yīng)用上述方程。圖 1 顯示了安裝在 PCB 上的芯片的示意圖:涉及不同的材料,包括環(huán)氧樹脂、芯片和封裝。我們將要分析的模型基于熱流方向:熱量從外部源流向模具(當(dāng)主要熱源為外部時(shí))和熱從模具流向環(huán)境(當(dāng)主要熱源為外部時(shí))死)。

poYBAGHFeWGAUwg6AAAzadthVGk522.jpg
圖 1:PCB 上的芯片布局

在第一種情況下,我們將求解第二段中計(jì)算的關(guān)于 T B 的微分方程 (dT B /dt) 無需過多贅述,我們將得到的方程如下:

pYYBAGHFeW6AO_vJAAAJpk2eOk8388.jpg

當(dāng)熱源為外部時(shí),前面的公式可用于估算芯片溫度(在封裝和管芯層面)。一個(gè)例子是靠近大電流芯片的 MOSFET,它會(huì)散發(fā)大量熱量。 我們現(xiàn)在可以考慮另一種情況,其中物體在管芯上產(chǎn)生熱量并通過環(huán)氧樹脂和封裝在環(huán)境中散發(fā)熱量. 為了解決這個(gè)系統(tǒng),有必要定義所有三個(gè)物體的微分方程:

pYYBAGHFeXiAbErZAAAgfZ0IuKg260.jpg

其中 T Bi (i = 1、2 和 3)是主體(芯片、環(huán)氧樹脂和封裝)的瞬時(shí)溫度。術(shù)語 P 表示從一個(gè)物體傳輸?shù)搅硪粋€(gè)物體的功率(例如,P 12是從物體 1 傳輸?shù)轿矬w 2 的功率),而 P G是源功率。考慮單體的冪P的表達(dá)式并應(yīng)用拉普拉斯變換,我們得到每個(gè)體的以下三個(gè)微分方程:

pYYBAGHFeYOAGQWvAAAmhx3GER0719.jpg

而以下公式給出了模具的溫度:

pYYBAGHFeY-ARgYCAAAR6QnLk08601.jpg

其中T變量是積分常數(shù),米 系數(shù)是k的函數(shù)和θ IJ是從本體的熱阻i到身體?。要求解上述方程,我們需要知道所有參數(shù)。為了避免繁瑣的計(jì)算,我們可以嘗試將模型實(shí)現(xiàn)為一個(gè)簡單的RC網(wǎng)絡(luò),這樣我們就可以使用電路分析軟件(Spice)通過確定相關(guān)參數(shù)來求解微分方程。

主要思想是使用無源 RC 電路對(duì)上一段中獲得的微分方程進(jìn)行建模,以模擬管芯上產(chǎn)生的功率。如圖 2 所示,電容器上的電壓代表管芯 (C 1 )、環(huán)氧樹脂 (C 2 ) 和封裝 (C 3 )的初始溫度。V A表示環(huán)境溫度,而 I S(進(jìn)入電容器 C 1電流)是管芯上產(chǎn)生的功率。替換V C1和T B1,V C2和T B2,V C3和T B3和我小號(hào)以P ?,我們得到以下微分方程:

poYBAGHFeZyAPoDRAAAowkgD8mE871.jpgpoYBAGHFeaeAbgBjAAARynTcHZw308.jpg
圖 2:當(dāng)芯片(管芯)內(nèi)部產(chǎn)生熱量時(shí),用于模擬熱瞬態(tài)的等效 RC 電路

電容器上的電壓直接對(duì)應(yīng)于芯片各部分的溫度。

模具溫度測量

可以使用不同的技術(shù)進(jìn)行芯片溫度測量。其中之一利用了 ESD 二極管的正向壓降。為確保測量精度水平在允許范圍內(nèi),所選的 ESD 二極管不應(yīng)具有大的寄生電阻。此外,建議將二極管放置在非??拷酒顭狳c(diǎn)的位置。如果您選擇使用FET的 R ds (on) 作為溫度指示器進(jìn)行操作,您必須確保 FET 在測量點(diǎn)處于壓降模式。R ds (on),即導(dǎo)通電阻,表示晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)的內(nèi)阻(V GS= 0)。ESD二極管連接在芯片引腳和電源電壓之間,直接極化。由于我們通過測量獲得二極管上的電壓,因此我們還必須考慮二極管上的電壓與溫度之間的關(guān)系。

RC網(wǎng)絡(luò)測量

MAX16828/MAX16815 LED 驅(qū)動(dòng)器將用于測試剛剛描述的模型。這些芯片可以在高達(dá) 40V 的電壓下工作,只需要幾個(gè)外部組件。MAX16828 提供約 200 mA 的最大 LED 電流。這兩種驅(qū)動(dòng)器都用于汽車應(yīng)用,例如側(cè)燈、外部燈、背光和指示燈為了獲得芯片溫度的直接指示,測量連接在 DIM 和 IN 引腳之間的內(nèi)部 ESD 二極管的直流電壓。吸收電流約100μA,產(chǎn)生約2mV/K的電壓變化。圖 3 顯示了一個(gè)可行的電路配置。

poYBAGHFebOALVSbAAAyWHpNmLc449.jpg
圖 3:芯片溫度測量電路原理

圖 3 的配置確保讀取和估計(jì)溫度的誤差約為 ± 10 mV。到計(jì)算K和θ JA芯片應(yīng)使用熱風(fēng)槍進(jìn)行加熱。可以通過測量二極管電壓來監(jiān)控芯片溫度。

結(jié)論

使用全芯片熱模型分析芯片溫度對(duì)于發(fā)現(xiàn)和避免潛在的熱風(fēng)險(xiǎn)非常重要。使用 Maxim 驅(qū)動(dòng)程序獲得的實(shí)驗(yàn)結(jié)果很好地表明了該模型。可以使用 Spice 輕松模擬 RC 網(wǎng)絡(luò),以便輕松指示 IC 的瞬態(tài)溫度。該模型適用于任何芯片,并允許定義操作模式以避免過熱。

審核編輯:湯梓紅

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