0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

功率器件模塊封裝結構演進趨勢

今日半導體 ? 來源:今日半導體 ? 作者:今日半導體 ? 2022-07-27 15:08 ? 次閱讀

IGBT模塊是新一代的功率半導體電子元件模塊,誕生于20世紀80年代,并在90年代進行新一輪的改革升級,通過新技術的發(fā)展,現(xiàn)在的IGBT模塊已經(jīng)成為集通態(tài)壓降低、開關速度快、高電壓低損耗、大電流熱穩(wěn)定性好等等眾多特點于一身,而這些技術特點正式IGBT模塊取代舊式雙極管成為電路制造中的重要電子器件的主要原因。

近些年,電動汽車的蓬勃發(fā)展帶動了功率模塊封裝技術的更新迭代。目前電動汽車主逆變器功率半導體技術,代表著中等功率模塊技術的先進水平,高可靠性、高功率密度并且要求成本競爭力是其首先需要滿足的要求。

01 功率器件模塊封裝結構演進趨勢

IGBT作為重要的電力電子的核心器件,其可靠性是決定整個裝置安全運行的最重要因素。由于IGBT采取了疊層封裝技術,該技術不但提高了封裝密度,同時也縮短了芯片之間導線的互連長度,從而提高了器件的運行速率。傳統(tǒng)Si基功率模塊封裝存在寄生參數(shù)過高,散熱效率差的問題,這主要是由于傳統(tǒng)封裝采用了引線鍵合和單邊散熱技術,針對這兩大問題,SiC功率模塊封裝在結構上采用了無引線互連(wireless interconnection)和雙面散熱(double-side cooling)技術,同時選用了導熱系數(shù)更好的襯底材料,并嘗試在模塊結構中集成去耦電容、溫度/電流傳感器以及驅(qū)動電路等,研發(fā)出了多種不同的模塊封裝技術。

01 直接導線鍵合結構(DLB)

直接導線鍵合結構最大的特點就是利用焊料,將銅導線與芯片表面直接連接在一起,相對引線鍵合技術,該技術使用的銅導線可有效降低寄生電感,同時由于銅導線與芯片表面互連面積大,還可以提高互連可靠性。三菱公司利用該結構開發(fā)的IGBT模塊,相比引線鍵合模塊內(nèi)部電感降低至57%,內(nèi)部引線電阻減小一半。

dc52e5e6-0d62-11ed-ba43-dac502259ad0.png

DLB結構

02 SKiN結構

SKiN模塊結構也是一種無引線鍵合的結構,它采用了雙層柔軟的印刷線路板同時用于連接MOSFET和用作電流通路。

dc6722f4-0d62-11ed-ba43-dac502259ad0.jpg

SKiN結構

03 2.5D和3D模塊封裝結構

為進一步降低寄生效應,使用多層襯底的2.5D和3D模塊封裝結構被開發(fā)出來用于功率芯片之間或者功率芯片與驅(qū)動電路之間的互連。在2.5D結構中,不同的功率芯片被焊接在同一塊襯底上,而芯片間的互連通過增加的一層轉(zhuǎn)接板中的金屬連線實現(xiàn),轉(zhuǎn)接板與功率芯片靠得很近,需要使用耐高溫的材料,低溫共燒陶瓷(LTCC)轉(zhuǎn)接板常被用于該結構,下圖為一種2.5D模塊封裝結構。

dc792c74-0d62-11ed-ba43-dac502259ad0.jpg

2.5D模塊封裝結構

而在3D模塊封裝結構中,兩塊功率芯片或者功率芯片和驅(qū)動電路通過金屬通孔或凸塊實現(xiàn)垂直互連,下圖是一種利用緊壓工藝(Press-Pack)實現(xiàn)的3D模塊封裝,這種緊壓工藝采用直接接觸的方式而不是引線鍵合或者焊接方式實現(xiàn)金屬和芯片間的互連,該結構包含3層導電導熱的平板,平板間放置功率芯片,平板的尺寸由互連的芯片尺寸以及芯片表面需要互連的版圖結構確定,整個結構的厚度一般小于5mm。

dc8901c6-0d62-11ed-ba43-dac502259ad0.png

采用緊壓工藝的3D模塊封裝結構

下圖是另一種3D模塊封裝結構,該結構通過低溫共燒陶瓷工藝,實現(xiàn)了功率芯片和驅(qū)動電路的垂直互連,該結構還可以方便地將被動元件集成在低溫共燒陶瓷襯底上。

dc9b69b0-0d62-11ed-ba43-dac502259ad0.jpg

3D模塊封裝結構

02 IGBT模塊封裝流程簡介

1、絲網(wǎng)印刷:將錫膏按設定圖形印刷于散熱底板和DBC銅板表面,為自動貼片做好前期準備 印刷效果;

2、自動貼片:將IGBT芯片與FRED芯片貼裝于DBC印刷錫膏表面;

3、真空回流焊接:將完成貼片的DBC半成品置于真空爐內(nèi),進行回流焊接;

4、超聲波清洗:通過清洗劑對焊接完成后的DBC半成品進行清洗,以保證IGBT芯片表面潔凈度滿足鍵合打線要求;

5、X-RAY缺陷檢測:通過X光檢測篩選出空洞大小符合標準的半成品,防止不良品流入下一道工序;

6、自動鍵合:通過鍵合打線,將各個IGBT芯片或DBC間連結起來,形成完整的電路結構;

7、激光打標:對模塊殼體表面進行激光打標,標明產(chǎn)品型號、日期等信息;

8、殼體塑封:對殼體進行點膠并加裝底板,起到粘合底板的作用;

9、功率端子鍵合

10、殼體灌膠與固化:對殼體內(nèi)部進行加注A、B膠并抽真空,高溫固化 ,達到絕緣保護作用;

11、封裝、端子成形:對產(chǎn)品進行加裝頂蓋并對端子進行折彎成形;

12、功能測試:對成形后產(chǎn)品進行高低溫沖擊檢驗、老化檢驗后,測試IGBT靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)以符合出廠標準 IGBT 模塊成品。

功率半導體模塊封裝是其加工過程中一個非常關鍵的環(huán)節(jié),它關系到功率半導體器件是否能形成更高的功率密度,能否適用于更高的溫度、擁有更高的可用性、可靠性,更好地適應惡劣環(huán)境。功率半導體器件的封裝技術特點為:設計緊湊可靠、輸出功率大。其中的關鍵是使硅片與散熱器之間的熱阻達到最小,同樣使模塊輸人輸出接線端子之間的接觸阻抗最低。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 封裝技術
    +關注

    關注

    12

    文章

    550

    瀏覽量

    68007
  • 功率器件
    +關注

    關注

    41

    文章

    1781

    瀏覽量

    90533

原文標題:揭秘:IGBT模塊封裝與流程

文章出處:【微信號:today_semicon,微信公眾號:今日半導體】歡迎添加關注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    雙面散熱IGBT功率器件 | DOH 封裝工藝

    功率模塊一直是汽車應用中最常見的封裝結構之一。傳統(tǒng)的IGBT功率模塊主要由IGBT芯片,氧化鋁覆
    的頭像 發(fā)表于 01-11 06:32 ?167次閱讀
    雙面散熱IGBT<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b> | DOH <b class='flag-5'>封裝</b>工藝

    SiC模塊封裝技術解析

    較多的闡述,比如IGBT模塊可靠性設計與評估,功率器件IGBT模塊封裝工藝技術以及IGBT封裝
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:20 ?242次閱讀
    SiC<b class='flag-5'>模塊</b><b class='flag-5'>封裝</b>技術解析

    下一代主流SiC IGBT模塊封裝技術研發(fā)趨勢——環(huán)氧灌封技術

    的影響 引線框架氧化對模塊分層的影響 去溢料的過程對模塊分層的影響 在之前,國內(nèi)絕大多數(shù)功率器件IGBT SiC模塊廠家采用傳統(tǒng)硅膠灌封方式
    的頭像 發(fā)表于 12-30 09:10 ?229次閱讀
    下一代主流SiC IGBT<b class='flag-5'>模塊</b><b class='flag-5'>封裝</b>技術研發(fā)<b class='flag-5'>趨勢</b>——環(huán)氧灌封技術

    DOH新材料工藝封裝技術解決功率器件散熱問題

    DOH:DirectonHeatsink,熱沉。助力提升TEC、MOSFET、IPM、IGBT等功率器件性能提升,解決孔洞和裂紋問題提升產(chǎn)品良率及使用壽命。為綜合評估SiC功率模塊的液
    的頭像 發(fā)表于 12-24 06:41 ?199次閱讀
    DOH新材料工藝<b class='flag-5'>封裝</b>技術解決<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>散熱問題

    功率器件熱設計基礎(十)——功率半導體器件結構函數(shù)

    系統(tǒng)的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統(tǒng)地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。為什么引入結構函數(shù)?在功率器件的熱設計基礎系
    的頭像 發(fā)表于 12-23 17:31 ?292次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>熱設計基礎(十)——<b class='flag-5'>功率</b>半導體<b class='flag-5'>器件</b>的<b class='flag-5'>結構</b>函數(shù)

    功率器件封裝新突破:納米銅燒結連接技術

    隨著第三代半導體材料如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)的快速發(fā)展,功率器件的性能要求日益提高。傳統(tǒng)的封裝材料已無法滿足功率器件在高
    的頭像 發(fā)表于 12-07 09:58 ?451次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>封裝</b>新突破:納米銅燒結連接技術

    功率模塊封裝工藝

    封與雙面散熱模塊 1 常見功率模塊分類 一、智能功率模塊(IPM)封裝工藝 工藝特點: 塑封、多
    的頭像 發(fā)表于 12-06 10:12 ?512次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>模塊</b><b class='flag-5'>封裝</b>工藝

    功率模塊封裝工藝有哪些

    本文介紹了有哪些功率模塊封裝工藝。 功率模塊封裝工藝 典型的
    的頭像 發(fā)表于 12-02 10:38 ?357次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>模塊</b><b class='flag-5'>封裝</b>工藝有哪些

    SiC功率器件中的溝槽結構測量

    汽車和清潔能源領域的制造商需要更高效的功率器件,能夠適應更高的電壓,擁有更快的開關速度,并且比傳統(tǒng)硅基功率器件提供更低的損耗,而溝槽結構
    的頭像 發(fā)表于 10-16 11:36 ?356次閱讀
    SiC<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>中的溝槽<b class='flag-5'>結構</b>測量

    功率模塊封裝全攻略:從基本流程到關鍵工藝

    功率模塊作為電力電子系統(tǒng)的核心組件,其封裝技術直接關系到器件的性能、可靠性以及使用壽命。隨著電力電子技術的不斷發(fā)展,功率
    的頭像 發(fā)表于 09-11 11:02 ?1393次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>模塊</b><b class='flag-5'>封裝</b>全攻略:從基本流程到關鍵工藝

    如何通過創(chuàng)新封裝技術提升功率器件性能

    由于對提高功率密度的需求,功率器件封裝和冷卻技術面臨獨特的挑戰(zhàn)。在功率轉(zhuǎn)換過程中,高溫和溫度波動限制了設備的最大
    的頭像 發(fā)表于 09-03 10:37 ?434次閱讀
    如何通過創(chuàng)新<b class='flag-5'>封裝</b>技術提升<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>性能

    探究電驅(qū)動系統(tǒng)中碳化硅功率器件封裝的三大核心技術

    在電動汽車、風力發(fā)電等電驅(qū)動系統(tǒng)中,碳化硅功率器件以其優(yōu)異的性能逐漸取代了傳統(tǒng)的硅基功率器件。然而,要充分發(fā)揮碳化硅功率
    的頭像 發(fā)表于 08-19 09:43 ?421次閱讀
    探究電驅(qū)動系統(tǒng)中碳化硅<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>封裝</b>的三大核心技術

    碳化硅器件挑戰(zhàn)現(xiàn)有封裝技術

    共讀好書 曹建武 羅寧勝 摘要: 碳化硅 ( SiC ) 器件的新特性和移動應用的功率密度要求給功率器件封裝技術提出了新的挑戰(zhàn)。現(xiàn)有
    的頭像 發(fā)表于 06-23 17:50 ?804次閱讀
    碳化硅<b class='flag-5'>器件</b>挑戰(zhàn)現(xiàn)有<b class='flag-5'>封裝</b>技術

    基本半導體獲新專利:功率模塊、封裝結構及電子設備

    該專利主要涉及半導體技術領域,提出了一種全新的功率模塊、封裝結構以及電子設備設計方案。其中,功率模塊
    的頭像 發(fā)表于 04-22 09:58 ?521次閱讀
    基本半導體獲新專利:<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>模塊</b>、<b class='flag-5'>封裝</b><b class='flag-5'>結構</b>及電子設備

    倒裝焊器件封裝結構設計

    共讀好書 敖國軍 張國華 蔣長順 張嘉欣 (無錫中微高科電子有限公司) 摘要: 倒裝焊是今后高集成度半導體的主要發(fā)展方向之一。倒裝焊器件封裝結構主要由外殼、芯片、引腳(焊球、焊柱、針)、蓋板(氣密性
    的頭像 發(fā)表于 02-21 16:48 ?872次閱讀
    倒裝焊<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>封裝</b><b class='flag-5'>結構</b>設計