過零檢測(cè)在交流電路中常用于提供相位參考,在交流頻率固定甚至不斷變化的環(huán)境中,相位信息有助于系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜更精密的內(nèi)部調(diào)節(jié)。在整體電路系統(tǒng)的效率、響應(yīng)速度和穩(wěn)定性設(shè)計(jì)上,都可以看到過零檢測(cè)的身影。
我們知道,傳統(tǒng)的AC過零檢測(cè)大多使用分立器件搭建,在電路設(shè)計(jì)中,往往會(huì)消耗一部分PCB面積。過零檢測(cè)電路工作時(shí),AC電壓過零與輸出檢測(cè)信號(hào)存在一個(gè)短延時(shí),一般用過零延遲時(shí)間來描述,常稱作Zero Cross Delay Time。分立器件最大的弊端在于,受光耦、二極管、電容器等型號(hào)、容差的影響。即便使用相同的電路結(jié)構(gòu),也可能出現(xiàn)不同的過零延遲時(shí)間;即便使用相同的分立器件,同一批產(chǎn)品的過零延遲時(shí)間也可能存在細(xì)微差別。分離器件搭建的過零檢測(cè)電路,在輸入信號(hào)從正到負(fù)和從負(fù)到正的變化過程中,兩種狀態(tài)下過零延遲不一致的情況也時(shí)有發(fā)生。當(dāng)系統(tǒng)對(duì)檢測(cè)電路的要求較高時(shí),就應(yīng)考慮使用集成化的解決方案。
本次測(cè)評(píng)的BM1Z002FJ-EVK-001評(píng)估板,是采用羅姆單芯片BM1Z002FJ實(shí)現(xiàn)的AC過零檢測(cè)評(píng)估方案,采用非隔離的電路設(shè)計(jì)(另有隔離電路方案,編號(hào)BM1Z002FJ-EVK-002)。
實(shí)物圖如下:
BM1Z002FJ芯片主打高穩(wěn)定性和低功耗,芯片具有寬電壓輸入范圍,可監(jiān)測(cè)最高600V的交流電壓,并且具有欠壓鎖定功能。該芯片待機(jī)電流僅50uA,工作電流150uA,與傳統(tǒng)的獨(dú)立光耦方案相比,具有非常明顯的能耗優(yōu)勢(shì)。
BM1Z002FJ是脈沖輸出,即輸出的電平直接反映交流信號(hào)的相位。芯片提供0延遲的過零檢測(cè),同時(shí)支持過零延遲時(shí)間的精細(xì)調(diào)整,僅需外接一只電阻器,即可實(shí)現(xiàn)過零延遲時(shí)間±200us或者-480us的調(diào)整。通過內(nèi)置的噪聲濾波器,可有效防止由于電壓波動(dòng)造成的異常輸出。
評(píng)估板的說明書非常簡(jiǎn)潔易懂。
焊接好的評(píng)估板如下圖。
上220V工頻交流電,測(cè)試一下波形,50Hz的脈沖,非常干凈漂亮。
芯片支持最大29V的寬供電電壓。評(píng)估板上BM1Z002FJ的供電為5V,該電壓由BD50FA1FP3低壓差線性穩(wěn)壓器產(chǎn)生。實(shí)際上由于芯片的輸出方式是NMOS開漏模式,因此使用時(shí),可根據(jù)需要設(shè)定輸出電壓的范圍,上圖輸出電壓約為5V。
采用單芯片方案代替分離器件電路,一方面提高了檢測(cè)精度和系統(tǒng)可靠性,另一方面,降低了功耗,節(jié)約了PCB面積。可以預(yù)見,單芯片替代分立元件組成的復(fù)雜電路,是未來電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì)。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:測(cè)評(píng) | 羅姆BM1Z002FJ非隔離型AC過零檢測(cè)評(píng)估套件解密(1)
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