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車載中控屏核心板開機(jī)不良的詳細(xì)分析

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2022-06-21 13:56 ? 次閱讀

1.案例背景

某車載中控屏,在終端客戶運(yùn)行半年左右發(fā)生無顯示以及黑屏異常。新陽檢測中心(下稱“本中心”)通過對中控屏主板的應(yīng)力分析(對殼體、核心電子元器件PCB實施壓力),初步鎖定主板上的BGA封裝器件可能存在連接性失效。

2.分析過程

針對該樣品出現(xiàn)的問題,本中心采取了X-Ray檢測、切片分析以及工藝分析的方式。具體的測試過程如下——

2.1 X-Ray 檢測

pYYBAGKxYLKAJux_AACfqPTgQQA870.jpg

結(jié)果:eMMC檢出異常。


2.1.1 異常點位

poYBAGKxYLKAZT6oAAEljAQdtr8793.jpg
點位 異常 正常
a pYYBAGKxYO2AJG8cAAGbZl4Za7M241.png pYYBAGKxYPKAf_PNAAH_O_8IfkA864.png
b poYBAGKxYPiAZsUPAAHk3WRZ9j0666.png pYYBAGKxYQCAUGSJAAIeU5Q0Hcc705.png

結(jié)果:異常焊點與正常焊點的X-Ray圖像比對如下,由圖可見,存在虛焊的可能性。

說明:取異常品、正常品(功能)對比檢測。


2.1.2 3D X-Ray檢測

pYYBAGKxYLKAL9azAAER6MPPgWU965.jpgpoYBAGKxYLKAJa1EAAD5mPIdO-A169.jpg

結(jié)果:異常焊點a存在虛焊可能性。


2.1.3 功能影響的確認(rèn)

poYBAGKxYLKAZT6oAAEljAQdtr8793.jpg

X-Ray圖

pYYBAGKxYLKAHvVgAAEKQVMELE4610.jpg

功能圖

結(jié)果:異常焊點a為data功能,若虛焊,會造成直接影響;焊點b無功能作用。

2.2 切片分析

poYBAGKxYLKAGcJcAAA63v0ZkSo290.jpgpYYBAGKxYLKAEFbAAAAz1OfIrUM467.jpgpoYBAGKxYLOAUE9uAABOrwdJz-k707.jpgpYYBAGKxYLOALT4IAABJ3NgSxlM612.jpgpoYBAGKxYLOAJTnEAABwOs3bKyw890.jpg

結(jié)果:BGA枕焊不良。

說明:圖5所示間隙2.965μm。

2.2.1 eMMC異常焊點a的斷面金相分析

pYYBAGKxYLOAX2TBAABvmCBjpgs198.jpg

截面積比較:異常點焊球截面積明顯小于正常焊球截面積。

poYBAGKxYLOASssTAACNtyVLIrU519.jpg

斷面錫膏上錫寬度比較:異常點上錫寬度約正常焊點寬度67%。

pYYBAGKxYLOAPO17AACaurWUVMQ172.jpg

斷面錫膏上錫寬度比較:焊盤上錫64.2%(截面),焊錫厚度僅0.034mm。結(jié)果:異常焊點a存在印刷錫少可能性。


2.2.2 與正常的BGA焊球相比,eMMC 異常焊點a同排焊點的斷面金相

poYBAGKxYLOAPsw8AAB49cP7-Fc730.jpgpYYBAGKxYLOANxyyAACKPE2dBoE149.jpg

結(jié)果:與正常的BGA焊球相比,焊球呈拉伸狀態(tài)。

說明:BGA焊點呈拉伸狀態(tài)原因,可能是焊接過程中BGA焊球未充分坍塌,即存在錫液相時間不足的可能性。

2.2.3 eMMC異常焊點a的斷面SEM分析

poYBAGKxYLOAeeg6AAES5t9q4Oc734.jpgpYYBAGKxYLSAe-ALAAGbbYfP6wg795.jpg

結(jié)果:BGA焊球與錫膏處于未熔合狀態(tài),并伴有錫填充量不足的現(xiàn)象。異常焊點a的斷面SEM分析:IMC層

poYBAGKxYLSAHNuJAACrrp9OKaM328.jpg

結(jié)果:
①IMC有連續(xù)性;
②IMC層致密性不足;
③IMC層厚度不均勻,且整體IMC層厚度偏小。

說明:
IMC層的形成與溫度、錫液相時間直接相關(guān)。常規(guī)焊接情況下,BGA焊接形成的IMC層厚度主要在2.5μm左右,本樣品的IMC層厚度平均小于1μm,進(jìn)一步說明回流時錫液相時間不足。

2.3 工藝分析

2.3.1 SPI錫膏檢測

pYYBAGKxYLSAREIFAABwIXVQ41s604.jpg

結(jié)果:
調(diào)取對應(yīng)批次eMMC位置SPI錫膏印刷數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析(體積數(shù)據(jù)),如圖示,eMMC BGA 印錫過程能力CPK 0.75,說明印刷過程非常不穩(wěn)定。從超范圍的區(qū)間分布判斷,16.5%的焊點存在很大的錫少風(fēng)險。

說明:
前述分析的錫少可能性,通過該組數(shù)據(jù)的分析,可以確定確實存在。


2.3.2 鋼網(wǎng)開口設(shè)計

poYBAGKxYLSAUBxOAABjbXJvcBo006.jpg

結(jié)果:

eMMC BGA 開口面積寬厚比為0.52,遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)0.66及以上,錫在PCB上的沉積量主要由開口寬厚比決定。雖然采用了納米工藝涂層,但面積比過小,還是會影響錫沉積效果,造成印錫的不穩(wěn)定。

說明:

鋼網(wǎng)材質(zhì):納米鋼網(wǎng)

鋼網(wǎng)厚度:0.12mm

eMMC BGA開口:φ0.25mm

2.3.3 回流溫度的設(shè)定分析

pYYBAGKxYLSAcGoPAABmJE4KXU8064.jpg

結(jié)果:

預(yù)熱時間(150℃-190℃)約60s→時間短

最高溫度、220℃以上時間:U1底部大于U1表面,不合理,數(shù)據(jù)有誤(接點與記錄不一致)→BGA實際溫度未知

最高溫度:246.7℃ →無特別異常

220℃以上時間:BGA 47.5s→無特別異常

說明:測溫板標(biāo)本不是實際機(jī)型基板,結(jié)構(gòu)及器件布局上可能存在差異,板的散熱結(jié)構(gòu)也可能存在差異,不能準(zhǔn)確地反映對象機(jī)型的溫度實況。

3.分析結(jié)果

3.1 eMMC(BGA) 虛焊的原因

首先是錫少。具體表現(xiàn)在:沉錫能力CPK 0.75,錫量沉積不足;鋼網(wǎng)開口面積比0.52小于<0.66,對沉錫有影響 ;印刷參數(shù):錫膏管理、鋼網(wǎng)清洗、關(guān)鍵參數(shù)(速度、清洗方式等)。
其次是回流錫液相時間不足。具體表現(xiàn)在:焊接IMC層厚度1.0μm左右;液相時間、溫度不足。預(yù)熱時間、液相時間較短,且溫度未達(dá)到230℃以上;由于錫液相時間不足,BGA焊球與錫未熔合,有裂隙存在。

3.2 eMMC(BGA) 虛焊發(fā)生機(jī)理

錫膏印刷工程沉錫能力低,工程不穩(wěn)定與鋼網(wǎng)及印刷參數(shù)的管理相關(guān)。回流焊接時,印刷錫膏先液化坍塌,BGA焊球后液化坍塌。從金相分析確認(rèn),由于溫度設(shè)定存在缺陷,BGA焊球未完全坍塌時,即發(fā)生降溫冷卻,形成拉升狀焊點。印刷錫少,焊點則出現(xiàn)錫膏與錫球未充分接觸而形成枕焊,造成BGA焊球與錫膏不能有效的接觸、作用。

因此,造成本次問題的原因是這兩個方面綜合導(dǎo)致的——印刷錫少、回流時錫液相時間不足。

4.改善方案

4.1 鋼網(wǎng)
鋼網(wǎng)仍采用納米鋼網(wǎng),厚度變更從0.12mm到0.1mm(面積比由0.52到0.63)。
U8開口保持不變φ0.25mm,其他BGA按照焊盤直徑變更為外切正方形開口。

4.2 回流溫度
制作實板的測溫標(biāo)本,每個BGA焊球溫度需監(jiān)測;
回流溫度的設(shè)定建議:

  • 150-190℃時間:70s-80s之間;
  • 220℃以上時間:60-75s;
  • 230℃以上時間:30s以上。

溫度曲線類型:RTS。

4.3 管理
建議加強(qiáng)車載產(chǎn)品的初期管理,從參數(shù)評估/過程管理評估到固化點檢,確保工藝及工程的穩(wěn)定性。

說明:上述改善方案實施后,跟蹤該產(chǎn)品后續(xù)批次的生產(chǎn),失效問題未在發(fā)生。

想了解更多關(guān)于技術(shù)方面的知識,歡迎關(guān)注“新陽檢測中心”公眾號。

審核編輯:符乾江

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