光纖光譜儀—塑料、光纖反射探頭、薄膜測(cè)量

今天，小編將為大家介紹有關(guān)塑料、光纖反射探頭、薄膜測(cè)量——光纖光譜儀的知識(shí)。光譜技術(shù)通常在工業(yè)和研究領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。常常被用來(lái)氣體、液體和固體的非接觸式表征，以及近紅外光源，特別是激光的表征。

我司的中紅外光纖光譜儀基于一種新的測(cè)量方案，將中紅外光上轉(zhuǎn)換為近可見(jiàn)光。硅基近可見(jiàn)光探測(cè)器，例如CCD，在探測(cè)率、速度和噪聲方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于中紅外光探測(cè)器。

因此，我司上轉(zhuǎn)換技術(shù)帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)為中紅外光探測(cè)引進(jìn)了新范式。

現(xiàn)有的兩種版本靈敏度均為-80 dBm/nm或更高，預(yù)估最大全譜讀出率為130 kHz。因此，光譜儀能夠以小于10μs的時(shí)間分辨率表征光源（激光）并測(cè)量化學(xué)反應(yīng)過(guò)程中的光譜信號(hào)。

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表征及特點(diǎn)

高靈敏度：高檢測(cè)率允許檢測(cè)低至10 pW/nm的信號(hào)；

優(yōu)良分辨率：2048像素探測(cè)器使得儀器在整個(gè)帶寬中的分辨率為6 cm-1；

堅(jiān)固耐用：沒(méi)有活動(dòng)部件意味著對(duì)振動(dòng)的敏感性低；

良好的線性度：硅基探測(cè)器的響應(yīng)線性度非常高；

高測(cè)試速度：高達(dá)400赫茲的全頻譜讀出率?？啥ㄖ聘哌_(dá)130 kHz的頻率；

低噪聲：上轉(zhuǎn)換和CCD探測(cè)器的結(jié)合極大地避免了熱輻射噪聲；

通用性：曝光時(shí)間具有五個(gè)數(shù)量級(jí)。

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參數(shù)

a、使用100um光纖輸入，最低可至3cm-1；

b、儀器通過(guò)跟蹤獲得的光譜，可增加有效曝光時(shí)間；

c、最小曝光時(shí)間；

d、可定制空間光輸入方式。

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應(yīng)用

1. ns脈沖激光表征

2. 低功率中紅外光源檢測(cè)

3. 氣體探測(cè)

4. 化學(xué)動(dòng)力學(xué)測(cè)試

5. 差分吸收激光雷達(dá)

……

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40kHz單脈沖測(cè)量

使用80 kHz全譜讀出率測(cè)量來(lái)自帶寬約為3.5μm–4.2μm、重復(fù)頻率為40 kHz的超連續(xù)光源的2 ns脈沖的單脈沖。

測(cè)量結(jié)果表明，光譜儀可以很容易地用來(lái)表征紅外激光或其它動(dòng)態(tài)事件。

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塑料的透射測(cè)試

在50μm聚苯乙烯（PS）薄膜和800μm聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯（PET）薄膜的透射率測(cè)量中，使用了30 W的硅碳棒作為光源。光譜儀的曝光時(shí)間設(shè)置為20ms，只采譜一次（未對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行平均或平滑處理）。

對(duì)于塑料識(shí)別或厚度分析，在計(jì)算機(jī)算法的幫助下，曝光時(shí)間更短，因此采集速度更快。

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光學(xué)薄膜透過(guò)率測(cè)試

使用30 W的硅碳棒作為光源測(cè)量光學(xué)涂層的透射率：用于3.7–4.5μm的Ge帶通濾波器（BPF）和涂有1064 nm高反射和2.1–4.5μm高透射率的YAG反射鏡。光譜儀的曝光時(shí)間設(shè)置為20 ms，單次采譜（未對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行平均或平滑處理）。

此類(lèi)測(cè)量用于涂層質(zhì)量控制，甚至用于生產(chǎn)監(jiān)控。

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光纖反射探頭測(cè)量

光纖反射探頭是具有光纖耦合輸入和輸出的衰減全反射（ATR）晶體。

在本次測(cè)量中，來(lái)自30 W 硅碳棒的光被耦合到輸入光纖，輸出光纖連接到光譜儀。

首先在空氣中使用ATR探針進(jìn)行參考，隨后將探針?lè)謩e插入水中、丙烷-2-醇和葵花籽油中，生成這些吸收曲線。均為單次采譜，曝光時(shí)間為100ms，通過(guò)高斯濾波對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理。

那么以上就是有關(guān)塑料、光纖反射探頭、薄膜測(cè)量——光纖光譜儀的介紹，對(duì)此有需求的請(qǐng)咨詢(xún)我們哦~

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審核編輯：符乾江