開關(guān)電源32個測試項分析

1、功率因素和效率測試一、目的：測試S.M.P.S. 的功率因素POWER FACTOR， 效率EFFICIENCY（規(guī)格依客戶要求設(shè)計）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;（4）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載。（2）。 從POWER METER 讀取Pin and PF 值， 并讀取輸出電壓， 計算Pout.（3）。 功率因素=PIN / （Vin*Iin）， 效率=Pout / Pin*100%；五。 測試回路圖：

2.能效測試一、目的：測試S.M.P.S. 能效值是否滿足相應(yīng)的各國能效等級標(biāo)準(zhǔn)要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測試條件：（1）。 輸入電壓條件為115Vac/60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件。（2）。 輸出負(fù)載條件為空載、1/4 max. load、2/4 max. load、3/4 max. load、max. load五種負(fù)載條件。四、測試方法：（1）。在測試前將產(chǎn)品在在其標(biāo)稱輸出負(fù)載條件下預(yù)熱30分鐘。（2）。 按負(fù)載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時的輸入功率（Pin），輸入電流（Iin），輸出電壓（Vo）， 功率因素（PF），然后計算各條件負(fù)載的效率。（3）。 在空載時僅需記錄輸入功率（Pin）與輸入電流（Iin）。（4）。計算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時的四種負(fù)載的平均效率，該值為能效的效率值五、標(biāo)準(zhǔn)定義：CEC / 美國EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值標(biāo)準(zhǔn)（IV等級）；（1）。 IV等級效率的規(guī)格是： 1）.Po《1W， Average Eff.≥0.5*Po;2）.1≤Po≤51W，Average Eff.≥0.09*Ln（Po）+0.5; 3）.Po》51，Average Eff.≥0.85.（2）。 輸入空載功率的規(guī)格是：1）.0《Po≤250W， Pin≤0.5W;（3）。 Po為銘牌標(biāo)示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積;（4） 。實際測試的平均效率值和輸入空載功率值需同時滿足規(guī)格要求才可符合標(biāo)準(zhǔn)要求。六、計算方法舉例：（1）.12V/1A的能效效率=（0.09*ln12+0.5 ）*100%= （0.09*2.4849+0.5）*100%=72.36%;（2）。 輸入功率≤ 0.5W;

3. 輸入電流測試一、目的：測試S.M.P.S. 之輸入電流有效值INPUT CURRENT（規(guī)格依客戶要求設(shè)計）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載;（2）。 從功率計中記錄AC INPUT 電流值;

4.浪涌電流測試一、目的：測試S.M.P.S. 輸入浪涌電流INRUSH CURRENT， 是否符合SPEC.要求。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：（1）。依SPEC. 所要求（通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz）。四、測試方法：（1）。 依SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓， 頻率， 將待測品輸出負(fù)載設(shè)定在MAX. LOAD.（2）。 SCOPE CH2 接CURRENT PROBE， 用以量測INRUSH CURRENT， CH1設(shè)定在DC Mode， VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定， CH1作為SCOPE 之TRIGGER SOURCE， TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“+”， TIME/DIV 以5mS 為較佳， TRIGGER MODE 設(shè)定為“NORMAL”。（3）。 CH1 則接到AC 輸入電壓。（4）。 以上設(shè)定完成后POWER ON， 找出TRIGGER 動作電流值（AT 90o 或270o POWER ON）。五、注意事項：（1）。 冷開機（COLD-START）： 需在低（常）溫環(huán)境下且BULK Cap.電荷須放盡， 以及熱敏電阻亦處于常溫下， 然后僅能第一次開機，若需第二次開機須再待電荷放盡才可再開機測試。（2）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器。六、測試回路圖：

5. 電壓調(diào)整率測試一、目的：測試S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而AC LINE 變動時， 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤1%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測試負(fù)載LOAD 條件。（2）。 調(diào)整輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值。（3）。 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)。（4）。 Line reg.=（輸出電壓的最大值（Vmax.）-輸出電壓的最小值（Vmin.））/Vrate volt.*100%.五。 注意事項：（1）。 測試前先將待測品熱機， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試。（2）。 電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變，輸入電壓變動時計算的值。

6.負(fù)載調(diào)整率測試一、目的：測試S.M.P.S. 在AC LINE 一定而OUTPUT LOAD 變動時， 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤±5%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測試輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值。（2）。 調(diào)整輸出負(fù)載LOAD 值（3）。 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)。（4）。 Load reg.=（輸出電壓的最大/小值（Vmax/min.）-輸出電壓的額定值（Vrate））/Vrate volt.*100%.五。 注意事項：（1）。 測試前先將待測品熱機， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試;（2）。 負(fù)載調(diào)整率值是輸入電壓不變，輸出負(fù)載變動時計算的值。

7. 輸入緩慢變動測試一、目的：驗證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時， 待測品需能自我保護， 且不能有損壞現(xiàn)象;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 設(shè)定輸入電壓為90Vac 或180Vac 和輸出負(fù)載Max. load;四、測試方法：（1）。 將待測品與輸入電源和電子負(fù)載連接好， 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載;（2）。 逐步調(diào)降輸入電壓， 每次3 Vac/每分鐘。（3）。 記錄電壓值（包括輸入電壓和輸出電壓）， 直到待測品自動當(dāng)機為止。（4）。 設(shè)定好輸入電壓為0Vac，逐步調(diào)升輸入電壓， 每次3 Vac/每分鐘，直到待測品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止，記錄電壓啟動時輸出電壓和輸入電壓值。五、注意事項：（1）。 待測品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動作發(fā)生， 以及失效情形;（2）。 產(chǎn)品當(dāng)機和啟動時的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值。

8. 紋波及噪聲測試一、目的：測試S.M.P.S. 直流輸出電壓之紋波RIPPLE 及噪聲NOISE（規(guī)格定義常規(guī)為≤輸出電壓的1%）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3） OSCILLOSCOPE / 示波器;（4） TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測試條件：各種LINE 和LOAD 條件及溫度條件， 各種輸入電壓& 輸出負(fù)載（Min.-MAX. LOAD）。四、測試方法：（1）。 按測試回路接好各測試儀器，設(shè)備，以及待測品，測試電源在各種LINE 和LOAD，及溫度條件之RIPPLE &NOISE（下圖為一典型輸出RIPPLE & NOISE A： RIPPLE+NOISE; B： RIPPLE; C： NOISE五、注意事項：（1）。 測試前先將待測輸出并聯(lián)SPEC. 規(guī)定的濾波電容， （通常為10uF/47uF電解電容;或鉭電容及0.1uF陶瓷電容） 頻寬限制依SPEC. 而定（通常為20MHz）。（2）。 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊.

9.上升時間測試一、目的：測試S.M.P.S. POWER ON 時，各組輸出從10% ~ 90% POINT 之上升時間（常規(guī)定義為≤20mS）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD 。（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為TRIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定。（3）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測待測品各組輸出從電壓10% 至90% 之上升時間。五. 注意事項：測試前先將待測品處于冷機狀態(tài)，待BUCK Cap. 電荷放盡后進行測試.

10. 下降時間測試一、目的：測試S.M.P.S. POWER ON 時，各組輸出從90% ~ 10% POINT 之下降時間（常規(guī)定義≥5mS）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD.（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為TRIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”，TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定;（3）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測待測品各組輸出從電壓90% 至10% 之下降時間。五. 注意事項：測試前先將待測品熱機， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試.

11. 開機延遲時間測試一、目的：測試S.M.P.S. POWER ON 時， 輸入電壓AC LINE 與輸出之時間差（常規(guī)定義為≤3000mS）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載（一般LOW LINE & MAX. LOAD時間最長）。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE， CH2 接AC LINE.（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差。五. 注意事項：（1）。 測試前先將待測品處于冷機狀態(tài)， 待BULK Cap. 電荷放盡后進行測試;（2）。 示波器（OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器.

12. 關(guān)機維持時間測試一、目的：測試S.M.P.S. POWER OFF 時， 輸入電壓AC LINE 與輸出OUTPUT 之時間差（常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac ）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測試條件：四、測試方法：（1）。 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE， CH2 接ACLINE.（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”， VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差。五. 注意事項：（1）。 測試前先將待測品熱機， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試;（2）。 示波器（OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器。

13. 輸出過沖幅度測試一、目的：測試S.M.P.S. POWER ON 時， 輸出DC OUTPUT 過沖幅度變化量（常規(guī)定義為≤10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：依SPEC. 所要求，輸入電壓范圍與輸出負(fù)載（Min. – Max. load）。四、測試方法：（1）。 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE;（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+” 和“-”， VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“VOLT”， 量測待測品輸出過沖點與穩(wěn)定值之關(guān)系。（5）。 ON / OFF 各做十次， 過沖幅度%=△V / Vo *100%;五、注意事項：產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿足規(guī)格要求.

14. 輸出暫態(tài)響應(yīng)測試一、目的：測試S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時， 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：依SPEC.所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE， 變化的負(fù)載LOAD， 頻率及升降斜率SR/F 值。四、測試方法：（1）。 測試時設(shè)定好待測品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY.（2）。 測試時設(shè)定好待測品輸出條件： 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率。（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測點， 量其電壓之變化。（4）。 CH2 接CURRENT PROBE 測試輸出電流， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER MODE設(shè)定為“AUTO.”。五、注意事項：（1）。 注意使用CURRENT PROBE 時，每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO，（2）。 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

15. 過流保護測試一、目的：測試S.M.P.S. 輸出電流過高時是否保護， 保護點是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義過流點為輸出額定負(fù)載的1.2-2.5倍/ CV模式產(chǎn)品初外）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和電子負(fù)載。四、測試方法：（1）。 將待測組輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD.（2）。 以一定的斜率（通常為1.0A/S） 遞增， 加大輸出電流直至電源保護， 當(dāng)保護后， 將所加大之電流值遞減， 視其輸出是否會自動RECOVERY.（3）。 OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE， 以PROBE 檢測輸出電流。（4）。 CH1 則接到待測輸出電壓， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“AUTO”， TIME/DIV 視情況而定。五、注意事項：（1）。 注意使用CURRENT PROBE 時，每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO，（2）。 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.（3）。 產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.

16. 短路保護測試一、目的：測試S.M.P.S. 輸出端在開機前或在工作中短路時， 產(chǎn)品是否有保護功能。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4）。 低阻抗短路夾三。 測試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值和低阻抗短路夾。四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測試條件： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值（一般為MAX.LOAD）。（2）。 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪罚?偵測輸出特性。（3）。 開機后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開機SHORT THEN TURN ON 各十次。五、注意事項：（1）。當(dāng)SHORT CIRCUIT 排除之后， 檢測待測品是否自動恢復(fù)或需重新啟動（視SPEC 要求），并測試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o零件損壞（產(chǎn)品要求應(yīng)正常）。（2）。 產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.

17. 過壓保護測試一、目的：測試S.M.P.S. 輸出電壓過高時是否保護， 保護點是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義：Vout《12V，過壓保護點為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V，。過壓保護點為1.5倍輸出電壓）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4）。 DC SOURCE / 直流電源;三。 測試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。四、測試方法：（1）。 測試方式一： 拿掉待測品回授FEEDBACK， 找出過壓保護OVP 點，（2）。 測試方式二： 外加一可變電壓于操作待測品的輸出， 緩慢增大電壓值， 找出過壓保護OVP 點，（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測點， 測量其電壓之變化。（4）。 CH2 則接到其它一組輸出電壓， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“NORMAL”。五、注意事項：產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.

18. 重輕載變化測試一、目的：測試S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時對輸出電壓的影響（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD（MIN. AND MAX.） 值。四、測試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD （MAX. LOAD 和MIN. LOAD）。（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為TRIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定。（3）。 TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV，為滾動狀態(tài)。（4）。 在輸入電壓穩(wěn)定時，變化輸出負(fù)載（最大/最?。?。（5）。 在設(shè)定電壓下測試輸出電壓的最大和最小值。五、注意事項：無

19. 輸入電壓變動測試一、目的：測試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動時，是否會對S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。四、測試方法：（1）。 將待測輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.（2）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“+”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“AUTO”， TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV.（3）。 變動輸入電壓，如：90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.（4）。 測試輸出電壓在輸入電壓變動時的最大值和最小值。五、注意事項：輸出電壓變動的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).

20.電源開關(guān)循環(huán)測試一、目的：測試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4） POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測試儀;三。 測試條件：（1）。 輸入電壓： 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載： 滿載。（2）。 ON/OFF時間： ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.（3）。 環(huán)境溫度： 室溫。四、測試方法：（1）。 連接待測品到電源開/關(guān)測試儀及電源。 （115Vac和230Vac &滿載， 或依客戶規(guī)格執(zhí)行）（2）。 S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期，總共測試周期： 5000 CYCLES.（3）。 測試過程中每完成1000周期時，記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓。（4）。 待試驗結(jié)束后，確定待測品在試驗前后電氣性能是否有差異。五、注意事項：測試過程中或測試完成階段， 待測品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生。

21.元件溫升測試一、目的：測試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境， 電壓， 頻率和負(fù)載條件時， 元件的溫升狀況。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 HYBRID RECORDER / 混合記錄儀（DR130）;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測試條件：依SPEC. 規(guī)定： 輸入電壓AC LINE， 頻率FREQUENCY， 輸出負(fù)載LOAD 及環(huán)境溫度。四、測試方法：（1）。 依線路情況先確定溫升較高的元件， 后用溫升線粘貼所確定的元件。（2）。 依規(guī)格設(shè)定好測試條件（AC LINE AND OUTPUT LOAD） 再開機， 并記錄輸入功率和輸出電壓。（3）。 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線， 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果，并記錄輸入功率和輸出電壓。五、注意事項：（1）。 溫升線耦合點應(yīng)盡量貼著元件測試點， 溫升線走勢應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱。（2）。 測試的樣品應(yīng)模擬其實際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài)。（3）。 針對于無風(fēng)扇（ NO FAN）的產(chǎn)品， 測試時應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動對它的影響。

22. 高溫操作測試一、目的：測試高溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀三。 測試條件：（1）。 依SPEC.要求： 輸入條件（RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載（FULL LOAD） 和操作溫度OPERATION TEMP （通常為溫度： 40℃）;（2）。 試驗時間： 4Hrs.四、測試方法：（1）。 將待測品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件， 然后開機;（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度，然后啟動溫控室;（3）。 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓，以及待測品是否有異常;（4）。 做完測試后回溫到室溫，再將待測品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時。五、注意事項：（1）。 產(chǎn)品試驗期間與試驗后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求。

23. 高溫高濕儲存測試一、目的：測試高溫高濕儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機電氣的影響， 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀三。 測試條件：儲存高溫高濕條件： 通常為溫度70±2℃， 濕度90-95% 試驗時間24Hrs（非操作條件）。四、測試方法：（1）。 試驗前記錄待測品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況;（2）。 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度，然后啟動溫控室;（3）。 試驗24Hrs， 試驗結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs，再確認(rèn)待測品外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項：（1）。 產(chǎn)品試驗期間與試驗后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求。

24. 低溫操作測試一、目的：測試低溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：（1）。 依SPEC.要求： 輸入條件（RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載（FULL LOAD） 和操作溫度（OPERATION TEMP.），通常溫度為：（0℃）。（2）。 試驗時間： 4Hrs.四、測試方法：（1）。 將待測品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件， 然后開機。（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度，然后啟動溫控室。（3）。 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓，以及待測品是否有異常;（4）。 做完測試后將待測品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時，然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常。五、注意事項：（1）。 產(chǎn)品試驗期間與試驗后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求。

25.低溫儲存測試一、目的：測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：儲存低溫條件： 通常為溫度-30℃， 試驗時間24Hrs（非操作條件）。四、測試方法：（1）。 試驗前記錄待測品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動溫控室。（3）。 試驗24Hrs， 試驗結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs， 再將待測品做HI-POT 測試， 記錄測試結(jié)果， 之后確認(rèn)待測品的外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項：（1）。 產(chǎn)品試驗期間與試驗后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求。

26. 低溫啟動測試一、目的：測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的整機電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測試條件：儲存低溫條件： 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃， 儲存時間至少4Hrs.四、測試方法：（1）。 試驗前記錄待測品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動溫控室。（3）。 試驗溫度儲存至少4Hrs， 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機各20 次， 確認(rèn)待測品電氣性能是否正常。五、注意事項：（1）。 在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度。

27. 溫度循環(huán)測試一、目的：測試針對S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測試， 用來顯露出在實際操作中所可能出現(xiàn)的問題。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：操作溫度條件： 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃（濕度： 50-90%）， 試驗至少24個循環(huán)。四、測試方法：（1）。 試驗前記錄待測品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi)， 以無包裝，非操作狀態(tài)下。（3）。 設(shè)定溫度順序為66±2 ℃保持1小時， 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時， -40±2 ℃保持1小時， 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘，為一個循環(huán)。（4）。 啟動恒溫恒濕機， 然后記錄其溫度與時間的圖形， 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程，（5）。 試驗完成后， 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出， 放置樣品在空氣中4Hr 再確認(rèn)外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項：（1）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求。

28. 冷熱沖擊測試一、目的：測試高， 低溫度沖擊對S.M.P.S. 的影響，用來揭露各組成元件的弱點。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 儲存最高（70℃）， 低溫度（-30℃）， 測試共10 個循環(huán)， 高低溫轉(zhuǎn)換時間為《2min;（2）。 依客戶所提供的試驗條件。四、測試方法：（1）。 在溫控室內(nèi)待測品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變，并低溫烘烤1Hr.（2）。 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變，轉(zhuǎn)變時間為2min.， 并高溫烘烤1Hr.（3）。 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個周期后， 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出（至少恢復(fù)4小時）。（4）。 確認(rèn)待測品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異。五、注意事項：（1）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象。（2）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求。（3）。 產(chǎn)品為非操作條件。

29. 冷熱沖擊測試一、目的：測試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時間條件下， 是否產(chǎn)生電弧ARCING， 其CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要求， 及是否會對S.M.P.S.造成損傷。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：依SPEC. 要求： 耐壓值（4242Vdc / 3000Vac）、操作時間（1 minute）和CUT OFF CURRENT（3.5mA） 值;四、測試方法：（1）。 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE， 操作時間TIME， CUT OFF CURRENT 值。（2）。 將待測品與耐壓測試儀依要求連接， 進行耐壓測試， 觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING， 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過大。（3）。 耐壓測試后， 確認(rèn)待測品輸入功率與輸出電壓是否正常。五、注意事項：（1）。 測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試儀的測試條件， 待測品的輸入與輸出分別應(yīng)與測試儀接觸良好。（2）。 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求。

30. 跌落測試一、目的：了解S.M.P.S. 由一定高度， 不同面進行跌落DROP， 其結(jié)構(gòu)， 電氣等特性的變化狀況。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：依SPEC. 要求： 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面。四、測試方法：（1）。 所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在。（2）。 確定六個面（小-大）順序依次進行跌落。（3）。 使待測品由規(guī)定的高度及項（2） 所確定的測試點各進行一次跌落， 每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進行確認(rèn)，記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測試一、目的：測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三。 測試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 施加500V直流電壓后進行測試的絕緣阻抗值要高10MOhm（常規(guī)定義）。四、測試方法：（1）。 確認(rèn)好電氣性能后， 在絕緣阻抗測試儀中設(shè)定好施加的電壓（500Vdc）和測試的時間（1 Minute）。（2）。 將待測物輸入端和輸出端分別短路連接， 然后分別連接測試儀對應(yīng)端進行測試。（3）。 再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對應(yīng)端連接進行測試。（4）。 確認(rèn)待測物的測試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.五、注意事項：（1）。 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義。

32. 額定電壓輸出電流測試一、目的：測試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時， 其輸出電流值。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;三。 測試條件：

四、測試方法：（1）。 固定輸入電壓與頻率，依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓。（2）。 開機后待輸出穩(wěn)定時記錄輸出電流值。（3）。 切換輸入電壓與頻率，記錄不同輸入電壓時的輸出電流值。（4）。 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值。五、注意事項：記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定。

原文標(biāo)題：干貨 | 解析開關(guān)電源32個測試項：測試所需工具、測試方法、波形

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