半導(dǎo)體可靠性測試系統(tǒng)領(lǐng)導(dǎo)廠商思達(dá)科技,宣布一體化SMU-per-pin測試系統(tǒng)—思達(dá)冥王星STAr Pluto-hiVIP,已獲得半導(dǎo)體標(biāo)竿行業(yè)客戶訂單且完成出貨。此系統(tǒng)配置應(yīng)用在TSV、銅柱(Copper-Pillar)、微凸塊(micro-bump)等多腳數(shù)器件的低/大電流動態(tài)AC電子遷移和老化測試,以及高壓、高功率HCI和NBTI HCI/NBTI,與高壓GOI可靠性測試。
思達(dá)冥王星Pluto系列是次世代可靠性測試解決方案,應(yīng)用范圍包括封裝級和晶圓級驗證,多樣配置可滿足EM、HCI、NBTI、TDDB等的行業(yè)測試要求。此系列中Pluto-hiVIP,是一款新型、支持更高電流和電壓的高端測試系統(tǒng),具有可以輕松升級至大容量系統(tǒng)的彈性架構(gòu),單一系統(tǒng)內(nèi)可進(jìn)行多個應(yīng)用。
最大配置包括48個電源與量測單元 (SMU,Source and Measurement Unit),每個模塊具有2個獨立電源,共有96個電源可進(jìn)行多被測器件數(shù)的驗證,實現(xiàn)更高的測試性能,同時顯著增加高電流和電壓可靠性測試容量。
思達(dá)冥王星Pluto-hiVIP是完整的集成封裝級高溫可靠性測試解決方案,開發(fā)應(yīng)用在支持大電流EM、大功率HCI/BTI和高壓TDDB驗證。設(shè)計用在并行應(yīng)力和測試,最大可支持4.0A dc,高擊穿電壓可達(dá)100V,熱溫室溫度在18至400攝氏度,被測器件(DUT)板具有零插入力測試插座,確保一整個環(huán)境,適合在單個系統(tǒng)內(nèi)進(jìn)行從室溫HCI至高溫EM的全套可靠性測試。冥王星Pluto-hiVIP系統(tǒng),實現(xiàn)了主要而關(guān)鍵的高精度測試結(jié)果和驗證性能。
思達(dá)科技執(zhí)行長與技術(shù)長劉俊良博士表示,“此次接單出貨代表行業(yè)客戶對于STAr Pluto系列,卓越的能力、效率和測試精度的肯定。Pluto系列測試系統(tǒng),是以新的硬件和軟件架構(gòu)為基礎(chǔ),滿足現(xiàn)今和未來的半導(dǎo)體驗證測試要求,同時減少客戶的測試工程人力時間成本,達(dá)到最好的測試表現(xiàn)和更高的產(chǎn)能?!?/p>
Img. 思達(dá)冥王星Pluto-hiVIP測試系統(tǒng)
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