將InGaN基激光器直接生長(zhǎng)在硅襯底材料上,為GaN基光電子器件與硅基光電子器件的有機(jī)集成提供了可能。另一方面,自1996年問世以來,InGaN基激光器在二十多年里得到了快速的發(fā)展,其應(yīng)用范圍遍及信息存儲(chǔ)、照明、激光顯示、可見光通信、海底通信以及生物醫(yī)療等領(lǐng)域。目前幾乎所有的InGaN基激光器均是利用昂貴的自支撐GaN襯底進(jìn)行制備,限制了其應(yīng)用范圍。硅襯底具有成本低、熱導(dǎo)率高以及晶圓尺寸大等優(yōu)點(diǎn),如果能夠在硅襯底上制備InGaN基激光器,將有效降低其生產(chǎn)成本,從而進(jìn)一步推廣其應(yīng)用。
由于GaN材料與硅襯底之間存在著巨大的晶格常數(shù)失配和熱膨脹系數(shù)失配,直接在硅襯底上生長(zhǎng)GaN材料會(huì)導(dǎo)致GaN薄膜位錯(cuò)密度高并且容易產(chǎn)生裂紋,因此硅襯底InGaN基激光器難以制備。
中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所研究員楊輝領(lǐng)導(dǎo)的III族氮化物半導(dǎo)體材料與器件研究團(tuán)隊(duì),采用AlN/AlGaN緩沖層結(jié)構(gòu),有效降低位錯(cuò)密度的同時(shí),成功抑制了因硅與GaN材料之間熱膨脹系數(shù)失配而常常引起的裂紋,在硅襯底上成功生長(zhǎng)了厚度達(dá)到6 μm左右的InGaN基激光器結(jié)構(gòu),位錯(cuò)密度小于6×108 cm-2,并通過器件工藝,成功實(shí)現(xiàn)了世界上首個(gè)室溫連續(xù)電注入條件下激射的硅襯底InGaN基激光器,激射波長(zhǎng)為413 nm,閾值電流密度為4.7 kA/cm2。
以上硅襯底的激光器是做出來了,但是如何獲得高質(zhì)量的晶面作為激光器震蕩用的腔面呢?
我們知道多晶和單晶的區(qū)別,多晶硅沒有一定晶向,晶體生長(zhǎng)是沒有秩序的,單晶如下圖右,因此在解離時(shí)可以沿著某一條結(jié)合力弱的晶向裂開。
常規(guī)的激光器襯底多用襯底的自然解離晶面作為激光器芯片的腔面,硅的解理面(111)面為天然易劈裂面,由硅片劈裂形狀也能判斷出硅片的晶面。在(100)面上,(100)面與(111)面相交成呈90°角,因此(100)面硅片劈裂時(shí)裂紋呈矩形形狀;而(111)面和其他(111)面相交呈60°角,因此(111)面硅片劈裂時(shí)裂紋呈三角形形狀。
但是我們采用硅襯底做激光器外延的襯底就是想在同一個(gè)硅片上做更多的功能器件一起完成激光的產(chǎn)生、傳輸、信號(hào)處理等集成設(shè)計(jì),因此不能直接進(jìn)行劈裂處理,否則也失去用硅做襯底的應(yīng)用意義。
如下圖,LD外延ok之后,通過芯片制作工藝制備脊型激光器芯片,最后采用干法刻蝕出激光器的腔面。但是ICP等工藝制備出來的側(cè)面腔面多是很粗糙的腔面,不能有效形成激光器震蕩的腔面,因此需要進(jìn)一步的降低腔面的粗糙度。因此采用化學(xué)腐蝕的方法。
通常的藥液選用KOH來腐蝕GaN基的芯片外延。但是KOH的腐蝕性又太強(qiáng),且和SiO2可以反映,SiO2在芯片工藝段常被用作LD芯片的鈍化層使用,因此不能收到KOH的刻蝕。
該方法采用TMAH作為處理液。
TMAH處理過LD閾值電流降低。
文中把TMAH加熱到85℃去腐蝕,這事還是挺危險(xiǎn)的,畢竟這個(gè)溶液有腐蝕性而且有毒,小伙伴們悠著點(diǎn),蘇州納米所經(jīng)常做一些無所不用其極的創(chuàng)新。
責(zé)任編輯:haq
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原文標(biāo)題:一個(gè)硅基板上InGaN激光芯片的腔面制作方法
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