所謂“車規(guī)級(jí)貼片鋁電解電容”具體指的是什么

（Heyue）合粵電子車規(guī)貼片鋁電解電容

在貼片鋁電解電容的圈子里、器件也分等級(jí)。一般分為軍品，工業(yè)級(jí)，民用級(jí)這三個(gè)級(jí)別，市面流通基本都是工業(yè)級(jí)、民用級(jí)，不同級(jí)別的基本也是通用的，區(qū)別還是在于耐久的問(wèn)題。

合粵電子工業(yè)級(jí)和汽車級(jí)貼片鋁電解電容的主要區(qū)別

工業(yè)級(jí)與汽車級(jí)器件的主要區(qū)別主要在于工作溫度范圍，一般而言，工業(yè)級(jí)貼片鋁電解電容的工作溫度范圍為-40℃~+85℃，汽車級(jí)的貼片鋁電解電容則是-40℃~+150℃。然而，二者的區(qū)別不僅限于此，應(yīng)該說(shuō)汽車級(jí)貼片鋁電解電容比工業(yè)級(jí)有著更好的性能、更強(qiáng)的溫度適應(yīng)能力和抗干擾能力（包括抵抗溫度極限、溫差變化的能力以及其它可靠性等）。

汽車級(jí)貼片鋁電解電容是在工業(yè)級(jí)的基礎(chǔ)上，有著一套更嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)。ISO/TS16949標(biāo)準(zhǔn)和AEC系列標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)成為IC企業(yè)進(jìn)入汽車產(chǎn)業(yè)鏈的基本條件。ISO/TS16949標(biāo)準(zhǔn)是以ISO9001：2000為基礎(chǔ)開(kāi)發(fā)的針對(duì)汽車行業(yè)質(zhì)量系統(tǒng)管理標(biāo)準(zhǔn)，其中PPAP（ProductionPartsApprovalProcess，生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序）要求汽車級(jí)器件需擁有詳細(xì)完整的數(shù)據(jù)和文件，并在PPAP的文件中列出芯片制造商所需采取的生產(chǎn)和質(zhì)量保證程序。

PPAP用來(lái)確定供貨商在零件實(shí)際量產(chǎn)的過(guò)程已經(jīng)正確理解了客戶的工程設(shè)計(jì)記錄和規(guī)格中的所有要求，并評(píng)估其是否具有持續(xù)滿足這些要求的潛在能力，從而保證器件的質(zhì)量。

所謂“車規(guī)級(jí)貼片鋁電解電容”

汽車不同于消費(fèi)級(jí)產(chǎn)品，會(huì)運(yùn)行在戶外、高溫、高寒、潮濕等苛刻的環(huán)境，且設(shè)計(jì)壽命一般為 15 年或 20 萬(wàn)公里，迭代周期會(huì)遠(yuǎn)高于消費(fèi)電子的2-3年，對(duì)環(huán)境、振動(dòng)、沖擊、可靠性和一致性要求也較高。元器件標(biāo)準(zhǔn)的等級(jí)一般是軍工 >(參數(shù)|圖片); 汽車> 工業(yè)> 消費(fèi)電子，OEM會(huì)要求Tire1使用車規(guī)級(jí)元器件，以保證車載產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，那么何為車規(guī)級(jí)元器件？

車規(guī)級(jí)，即Automotive Grade，指要滿足車載等級(jí)要求的元器件，業(yè)界普遍公認(rèn)車規(guī)級(jí)指通過(guò)AEC-Q認(rèn)證的元器件。

AEC即美國(guó)汽車電子委員會(huì)（Automotive Electronics Council），是由通用、福特和克萊斯勒為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立，Q為Qualification的首字母，AEC-Q是AEC的車規(guī)元器件通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

AEC成員包括主機(jī)廠OEM，零部件廠商Tire1和元器件廠商等，AEC-Q是一種自愿性認(rèn)證，不存在官方認(rèn)可一說(shuō)，相當(dāng)于一份元器件全面的“體檢報(bào)告”。NXP、TI等元器件供應(yīng)商對(duì)元器件執(zhí)行AEC-Q驗(yàn)證測(cè)試，然后自我宣稱滿足AEC要求，以提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力和溢價(jià)能力。Tire1選擇并使用通過(guò)認(rèn)證的器件，OEM和Tire1負(fù)責(zé)審核AEC-Q報(bào)告。

AEC-Q適用于汽車用芯片、無(wú)源器件、分立半導(dǎo)體器件等認(rèn)證，針對(duì)不同的器件分別有不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)，不同的標(biāo)準(zhǔn)也分別對(duì)應(yīng)不同的測(cè)試項(xiàng)。AEC-Q100適用于芯片，AEC-Q101適用于分立半導(dǎo)體器件，AEC-Q102適用于分立光電子器件，AEC-Q103適用于MEMS，AEC-Q200適用于無(wú)源元件。

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