關(guān)于SMD鋁電解電容失效的原因分析

SMD鋁電解電容失效原因分析：

一、電參數(shù)惡化

①電容量下降與損耗增大

鋁電解電容器的電容量在工作早期緩慢下降，這是由于負(fù)荷過(guò)程中工作電解液不斷修補(bǔ)并增厚陽(yáng)極氧化膜所致。鋁電解電容器在使用后期，由于電解液耗損較多、溶液變稠，電阻率因黏度增大而上升，使工作電解質(zhì)的等效串聯(lián)電阻增大，導(dǎo)致電容器損耗明顯增大。同時(shí)，黏度增大的電解液難于充分接觸經(jīng)腐蝕處理的凹凸不平鋁箔表面上的氧化膜層，這樣就使鋁電解電容器的極板有效面積減小，引起電容量急劇下降。這也是電容器使用壽命臨近結(jié)束的表現(xiàn)。

此外，如果工作電解液在低溫下黏度增大過(guò)多，也會(huì)造成損耗增大與電容量急劇下降的后果。在使用上過(guò)溫，過(guò)紋波電流都有可能使電容量下降與損耗增大。

②漏電流增加

漏電流增加往往導(dǎo)致鋁電解電容器失效。工藝水平低，氧化膜損傷與沾污嚴(yán)重，工作電解液配方不佳，原材料純度不高，電解液的化學(xué)性質(zhì)與電化學(xué)性質(zhì)難以長(zhǎng)期穩(wěn)定，鋁箔純度不高，雜質(zhì)含量多等等這些因素均可能造成漏電流超差失效。鋁電解電容器中氯離子沾污嚴(yán)重，漏電流導(dǎo)致沾污部位氧化膜分解，造成穿孔，促使電流進(jìn)一步增大?？傊?，鋁箔中金屬雜質(zhì)的存在，會(huì)使鋁電解電容器漏電流增大，從而縮短電容器的壽命.在使用上過(guò)壓等有可能使電容的漏電流增加。

4.5mm高貼片電解電容

二、爆炸擊穿

鋁電解電容器擊穿是由于陽(yáng)極氧化鋁介質(zhì)膜破裂，導(dǎo)致電解液直接與陽(yáng)極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料，工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷。在外加電場(chǎng)的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜，使陽(yáng)極氧化膜得以填平修復(fù)。但是如果在損傷部位存在雜質(zhì)離子或其他缺陷，使填平修復(fù)工作無(wú)法完善，則在陽(yáng)極氧化膜上會(huì)留下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容器擊穿。

此外，隨著使用和儲(chǔ)存時(shí)間的增長(zhǎng)，電解液中溶劑逐漸消耗和揮發(fā)，使溶液酸值上升，在儲(chǔ)存過(guò)程中對(duì)氧化膜層發(fā)生腐蝕作用。同時(shí)，由于電解液老化與干涸，在電場(chǎng)作用下已無(wú)法提供氧離子修補(bǔ)氧化膜，從而喪失了自愈作用，氧化膜一經(jīng)損壞就會(huì)導(dǎo)致電容器擊穿。工藝缺陷也是鋁電解電容器擊穿的一個(gè)主要原因。如鉚接工藝不佳時(shí)，引出箔條上的毛剌嚴(yán)重剌傷氧化膜，刺傷部位漏電流很大，局部過(guò)熱使電容器產(chǎn)生熱擊穿。在使用上過(guò)溫，過(guò)紋波電流或過(guò)機(jī)械應(yīng)力都有可能使電容擊穿失效。

三、開(kāi)路

鋁電解電容器在高溫或潮熱環(huán)境中長(zhǎng)期工作時(shí)可能出現(xiàn)開(kāi)路失效，其原因在于陽(yáng)極引出箔片遭受電化學(xué)腐蝕而斷裂。對(duì)于高壓大容量電容器，這種失效模式較多。此外，陽(yáng)極引出箔片和陽(yáng)極箔鉚接后，未經(jīng)充分平，則接觸不良會(huì)使電容器出現(xiàn)間歇開(kāi)路。在使用上，過(guò)機(jī)械應(yīng)力有可能使電容開(kāi)路。

四、燒毀

鋁電解電容發(fā)生燒毀，一般是以下原因引起：

①正負(fù)極接反 鋁電解電容器是一種有正負(fù)極的電容器，如果安裝鋁電解電容器時(shí)正負(fù)極接錯(cuò)就會(huì)發(fā)生電容燒毀現(xiàn)象；②耐壓不夠 當(dāng)電壓超過(guò)鋁電解電容器的本身的耐壓值時(shí)，也會(huì)發(fā)生電容燒毀的現(xiàn)象；③質(zhì)量不合格 一些生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的鋁電解電容不合格，也可能引發(fā)電容的燒毀等。

fqj