如何制造出具有更高采樣率的示波器？

當 ADC 技術已經在最大采樣率方面達到限制時，示波器廠商如何制造出具有更高采樣率的示波器？追求更高采樣率或許只是想滿足示波器用戶對于“越高越好”的認知，或者用戶認為若要獲得更高的帶寬實時示波器測量效果，實際上可能需要更高的采樣率。但是，若使示波器具有更高的采樣率，并非像選擇具有更高采樣率的現(xiàn)成模數(shù)轉換器那樣簡單。

所有主要示波器廠商均采用一種常見的技術，即交叉多個實時 ADC。但是，請不要將此交叉采樣的技術與重復采集技術相混淆，我們將后者稱之為“等效時間”采樣。

圖 1 顯示由兩個 ADC 利用相位延遲采樣技術構成的實時交叉 ADC 系統(tǒng)結構圖。在本例中，ADC 2 一律對 ADC 1 采樣之后的 ? 時鐘周期進行采樣。在每個實時采集周期完成后，示波器的 CPU 或波形處理 ASIC 會對存儲在每個 ADC 采集存儲器中的數(shù)據(jù)進行檢索，然后交叉樣本以獲得實時的數(shù)字化波形，且樣本密度也會翻倍（是采樣率的兩倍）。

具有實時交叉采樣特征的示波器必須遵守兩個要求。一是，若要實現(xiàn)無失真的準確交叉，每個 ADC 的垂直增益、偏移和頻率響應必須嚴格匹配。其二，必須對相位延遲時鐘進行高精度的校準，以滿足 Nyquist 規(guī)則二的要求，即等間隔采樣。換句話說，ADC 2 的取樣時鐘必須在樣品 ADC 1 之后精確地延遲 180 度。這兩個條件對于準確交叉都非常重要。但是，為了對因交叉不良而導致的錯誤有更直觀的理解，后文將重點分析僅因相位延遲定時不佳而導致的錯誤。

圖 1：由兩個交叉 ADC 構成的實時采樣系統(tǒng)

圖 2 中所示的定時圖說明，如果兩個交錯的 ADC 相位延遲時鐘系統(tǒng)彼此之間沒有呈現(xiàn)精確的 ? 采樣周期延遲，則交錯采樣會出現(xiàn)定時誤差。此圖顯示了實時數(shù)字化的點（紅點）相對于輸入信號進行實際轉換的位置。但是，由于對相位延遲定時校準不理想（紫色波形），這些數(shù)字化的點沒有進行等間隔采樣，因此也就違背了 Nyquist 的第二條規(guī)則。

當示波器的波形處理引擎對每個 ADC 采集存儲器所存儲的數(shù)據(jù)進行檢索時，首先會假設每個存儲設備中的采樣數(shù)據(jù)為等間隔采樣。當您嘗試著對初始輸入信號的形狀進行重建時，示波器 Sin（x）/x 重建濾波器所表示的信號將出現(xiàn)嚴重失真（如圖 3 所示）。

由于輸入信號與示波器取樣時鐘之間的相位關系是隨機的，當您查看重復采集時，實時采集失真（有時稱為“采樣噪聲”）可能會被誤釋為隨機噪聲。但該相位關系也不完全是隨機的，也具有一定的確定性，且與示波器的取樣時鐘直接相關。

圖 2：非等間隔采樣的定時圖

圖 3：該定時圖顯示了因相位延遲定時不佳而造成失真的波形，使用 Sin（x）/x 濾波器對其進行重建
編輯：lyn