無(wú)線射頻識(shí)別技術(shù)(RFID)應(yīng)用的關(guān)鍵問(wèn)題在哪里？

目前安全隱私問(wèn)題的解決方案主要從下面3個(gè)方面切人：

（1） 訪問(wèn)機(jī)制

防止RFID標(biāo)簽內(nèi)容泄漏，保證僅授權(quán)實(shí)體才可以讀取和處理標(biāo)簽信息，必須建立相應(yīng)訪問(wèn)控制機(jī)制。

（2） 標(biāo)簽認(rèn)證

防止標(biāo)簽偽造和內(nèi)容濫用，必須在通信前對(duì)標(biāo)簽身份進(jìn)行認(rèn)證。

（3） 加密機(jī)制

禁止采用以明文方式實(shí)現(xiàn)讀寫(xiě)器與標(biāo)簽間的無(wú)線通信。

上面3點(diǎn)必須在充分考慮標(biāo)簽資源有限性的基礎(chǔ)上才有價(jià)值。

4.4 測(cè)試問(wèn)題

RFID測(cè)試是應(yīng)用的技術(shù)保障?？煞譃榧夹g(shù)測(cè)試和應(yīng)用測(cè)試。前者主要測(cè)試產(chǎn)品性能、可靠性等，包括硬件和軟件測(cè)試。后者主要是在具體環(huán)境中應(yīng)用所進(jìn)行的測(cè)試。

目前，國(guó)外RFID測(cè)試已有了實(shí)質(zhì)性進(jìn)展。如HP，IBM，SUN及Microsoft等公司已開(kāi)始在世界各地建立測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，開(kāi)展相關(guān)研究和試驗(yàn)。IBM在歐洲成立了測(cè)試和互操作性實(shí)驗(yàn)室用來(lái)指導(dǎo)并提供RFID技術(shù)，該實(shí)驗(yàn)中心將測(cè)試RFID芯片、數(shù)據(jù)識(shí)別器和相關(guān)應(yīng)用軟件以驗(yàn)證他們之間的兼容情況；SUN公司在美國(guó)達(dá)拉斯設(shè)立了大型RFID測(cè)試中心，用于發(fā)現(xiàn)并解決諸如優(yōu)化標(biāo)簽和后臺(tái)數(shù)據(jù)整合之類的問(wèn)題；韓國(guó)提出了“測(cè)試床建設(shè)計(jì)劃”（test-bed building plan），將于2007～2008年建成RFID／USN綜合測(cè)試中心。

我國(guó)RFID技術(shù)研究開(kāi)發(fā)剛剛開(kāi)始，但是對(duì)測(cè)試工作投入也很大，國(guó)家科技部“863計(jì)劃”已經(jīng)連續(xù)兩年支持RFID測(cè)試研究。

整體上看，RFID的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范還不夠全面。UHF頻段下RFID標(biāo)簽和讀寫(xiě)器物理特性、電氣特性測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)；標(biāo)簽和讀寫(xiě)器的兼容性測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)；標(biāo)簽和讀寫(xiě)器的安全技術(shù)測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)；RFDI中間件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)以及面向應(yīng)用的RFID系統(tǒng)解決方案測(cè)試規(guī)范等，都有待于進(jìn)一步制定。

5 結(jié) 語(yǔ)

基于RFID基本原理及發(fā)展現(xiàn)狀，提出當(dāng)前RFID發(fā)展面臨的幾個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題：RFID系統(tǒng)實(shí)施，RIFD成本問(wèn)題，安全隱私問(wèn)題，測(cè)試問(wèn)題的解決辦法。

編輯：jq