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淺述絕緣電阻測(cè)試儀要測(cè)絕緣電阻和吸收比試驗(yàn)意義

whhddl ? 來(lái)源:東北科學(xué)研究院 ? 作者:東北科學(xué)研究院 ? 2021-04-06 13:46 ? 次閱讀

一、直流電壓作用下流過(guò)絕緣介質(zhì)的電流

當(dāng)電氣設(shè)備絕緣的兩端施加直流電壓時(shí),將有一電流流過(guò)絕緣介質(zhì),這個(gè)電流具有這樣的性質(zhì):隨時(shí)間而衰減,最后趨于一穩(wěn)定值。將此電流進(jìn)行分解,該電流可分為三個(gè)部分。

由充電電流、吸收電流、泄漏電流三部分組成。

(1) 充電電流

瞬間電路中流過(guò)的最大電流是充電電流,它在開(kāi)始階段起主導(dǎo)作用。隨著時(shí)間的延長(zhǎng),充電電流很快的減少并消失,消失的快慢取決于電容器電容量的大小,外施電壓大小及電源內(nèi)阻情況。

(2) 吸收電流

吸收電流也是隨時(shí)間變化的。電源接通的瞬間,由于電場(chǎng)的建立,在電場(chǎng)的作用下介質(zhì)產(chǎn)生了極化現(xiàn)象,在極化的過(guò)程中,電介質(zhì)中電荷由隨機(jī)排列轉(zhuǎn)變成有規(guī)律順序的排列,排列時(shí)電荷的運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的電流稱為吸收電流。這個(gè)電流同樣隨著時(shí)間的延長(zhǎng)而逐步消失,消失的快慢取決于介質(zhì)材料的不均勻程度和介質(zhì)的結(jié)構(gòu)性質(zhì)。它隨時(shí)間的衰減比充電電流慢得多,在充電電流之后起主導(dǎo)的便是吸收電流。

(3) 泄漏電流

從電壓建立的開(kāi)始,它始終存在,一直不隨時(shí)間變化與電源共存的電流,也被稱為泄漏電流。在充電電流、吸收電流過(guò)后,它起主導(dǎo)作用。它的大小取決于介質(zhì)的本身傳遞電流的能力 。

區(qū)別:

充電電流i1:無(wú)損耗極化電流,衰減特別迅速。

吸收電流i2:有損耗極化電流,衰減緩慢。

泄漏電流i3:大小與時(shí)間無(wú)關(guān),不衰減,大小與絕緣內(nèi)部是否受潮、表面是否清潔等因素有關(guān)。

絕緣電阻和吸收比試驗(yàn)

i流過(guò)絕緣介質(zhì)的總電流

i1 充電電流

i2 吸收電流

i3 泄漏電流

二、絕緣電阻、吸收比和極化指數(shù)

1、絕緣電阻:

是電氣設(shè)備絕緣層在直流電壓作用下呈現(xiàn)的電阻值。

測(cè)量前,應(yīng)將設(shè)備從各方面斷開(kāi),驗(yàn)明無(wú)電壓,確實(shí)證

明設(shè)備無(wú)人工作后,方可進(jìn)行

現(xiàn)場(chǎng)普遍采用絕緣電阻表來(lái)測(cè)量。

2、吸收比:

是指60s時(shí)的絕緣電阻值(R60s)與15s時(shí)的絕緣電阻值(R15s)之比值。用K1表示。

大容量的電氣設(shè)備,規(guī)程上規(guī)定不小于1.3。

3、極化指數(shù):

對(duì)被試品進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試,讀取10min時(shí)的絕緣電阻(R10min)和1min時(shí)的絕緣電阻,計(jì)算出比值R10min/R1min。用K2表示。

應(yīng)用:

和測(cè)吸收比一樣,測(cè)量極化指數(shù)也是為了判斷被試品是否存在受潮、臟污等絕緣缺陷,只是測(cè)量極化指數(shù)是用于高電壓、大容量絕緣電阻吸收曲線達(dá)到穩(wěn)定值需要特別長(zhǎng)時(shí)間的電氣設(shè)備。

本文節(jié)選自東北科學(xué)研究院

編輯:jq

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