什么是單元測(cè)試，為什么要做單元測(cè)試

單元測(cè)試是整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié) ,執(zhí)行一個(gè)完備的單元測(cè)試方案能夠提高整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程的時(shí)間效率,確保軟件的實(shí)際功能與詳細(xì)設(shè)計(jì)說(shuō)明的一致性，使軟件開(kāi)發(fā)的效率和軟件產(chǎn)品的質(zhì)量得到最好的保障 。

什么是單元測(cè)試？單元測(cè)試（unit testing），是指對(duì)軟件中的最小可測(cè)試單元進(jìn)行檢查和驗(yàn)證。通常而言，一個(gè)單元可能是單個(gè)程序、類、對(duì)象、方法等。

為什么要做單元測(cè)試？軟件中存在的錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)得越早，修改和維護(hù)的費(fèi)用就越低，難度也越小。單元測(cè)試是在軟件開(kāi)發(fā)驗(yàn)證過(guò)程的底層和早期進(jìn)行的測(cè)試活動(dòng)，目的是把缺陷消滅在萌芽狀態(tài)。

單元測(cè)試有什么作用？

1.實(shí)現(xiàn)敏捷開(kāi)發(fā)，單元測(cè)試的主要好處之一是它使編碼過(guò)程更加敏捷。當(dāng)軟件中添加越來(lái)越多的功能時(shí)，有時(shí)需要更改舊的設(shè)計(jì)和代碼，但是更改已測(cè)試的代碼既有風(fēng)險(xiǎn)又耗費(fèi)時(shí)間。如果有單元測(cè)試，則有助于安全重構(gòu)。

2.提高代碼質(zhì)量，由于單元測(cè)試是在集成測(cè)試之前對(duì)最小可測(cè)單元的測(cè)試，所以能夠盡早的發(fā)現(xiàn)軟件代碼中的缺陷，并在不影響其他代碼部分的情況下解決問(wèn)題。這些問(wèn)題包括程序?qū)崿F(xiàn)中的錯(cuò)誤和單元規(guī)范中的缺陷及缺失。通過(guò)代碼檢查和已有缺陷的完善，代碼質(zhì)量可以得到大幅度提高。

3.消除深度未知隱患，軟件開(kāi)發(fā)天生就具有極大的復(fù)雜性，沒(méi)人能100%保證自己寫出來(lái)的程序沒(méi)有問(wèn)題。開(kāi)發(fā)中的初步功能驗(yàn)證我們會(huì)用仿真，或模型及代碼調(diào)試技巧進(jìn)行結(jié)果值確認(rèn)，這種測(cè)試一般只能覆蓋部分執(zhí)行路徑，未覆蓋執(zhí)行路徑就留下了很多未知隱患。為了保證我們的程序在各種情況下都能按照預(yù)設(shè)響應(yīng)，就需要對(duì)我們的模型或者代碼進(jìn)行嚴(yán)格的基于需求的測(cè)試和覆蓋率測(cè)試（俗稱：白盒測(cè)試），而這種測(cè)試只能在單元測(cè)試中進(jìn)行。

4.優(yōu)化設(shè)計(jì)和架構(gòu)，單元測(cè)試可以輔助優(yōu)化設(shè)計(jì)和架構(gòu)，比如通過(guò)處理器在環(huán)（Processor In the Loop）來(lái)評(píng)估最長(zhǎng)執(zhí)行時(shí)間（WCET），內(nèi)存和堆棧使用量，優(yōu)化設(shè)計(jì)和架構(gòu)，盡早地回避集成后的執(zhí)行時(shí)間及內(nèi)存的溢出問(wèn)題

5.滿足行業(yè)規(guī)范要求，滿足Automotive SPICE過(guò)程及ISO26262安全規(guī)范對(duì)單元測(cè)試的要求，以從第三方認(rèn)證公司獲取相關(guān)認(rèn)證證書(shū)。

什么時(shí)候開(kāi)始做單元測(cè)試？

單元測(cè)試越早越好，早到什么程度？極限編程講究TDD，即測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)，先編寫測(cè)試代碼，再進(jìn)行開(kāi)發(fā)。在實(shí)際的工作中，可以不必過(guò)分強(qiáng)調(diào)先什么后什么，重要的是高效性和實(shí)用性。從經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，對(duì)于單元測(cè)試可以先編寫產(chǎn)品函數(shù)的框架、編寫測(cè)試函數(shù)，再針對(duì)產(chǎn)品函數(shù)的功能編寫測(cè)試用例，然后編寫產(chǎn)品函數(shù)的代碼。在實(shí)際編碼過(guò)程中，每寫一個(gè)功能點(diǎn)就進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試，并且隨時(shí)補(bǔ)充測(cè)試用例。

單元測(cè)試任務(wù)太重？效率太低？

工業(yè)嵌入式系統(tǒng)單元測(cè)試工具

SmartRocket Unit作為一款單元測(cè)試工具，可以自動(dòng)生成滿足語(yǔ)句、分支、MC/DC準(zhǔn)則的測(cè)試用例，自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試驅(qū)動(dòng)。 通過(guò)使用SmartRocket Unit，用戶可快速對(duì)安全攸關(guān)的代碼進(jìn)行單元級(jí)別的白盒測(cè)試和回歸測(cè)試，從而進(jìn)一步提升單元測(cè)試的效率。SmartRocket Unit通過(guò)智能模擬測(cè)試人員進(jìn)行覆蓋率測(cè)試時(shí)的思路，實(shí)現(xiàn)其核心功能:

l 測(cè)試用例自動(dòng)生成。 動(dòng)態(tài)符號(hào)執(zhí)行求解引擎，采用自動(dòng)推理與符號(hào)執(zhí)行技術(shù)，可自動(dòng)分析程序路徑，產(chǎn)生可滿足特定覆蓋率準(zhǔn)則的測(cè)試用例

l 程序打樁技術(shù)，對(duì)被測(cè)模塊中的函數(shù)調(diào)用自動(dòng)進(jìn)行打樁，自動(dòng)生成測(cè)試驅(qū)動(dòng)

l 測(cè)試驅(qū)動(dòng)將測(cè)試用例作為輸入，自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試用例，記錄并分析執(zhí)行結(jié)果，最終產(chǎn)生測(cè)試報(bào)告，包含覆蓋率分析結(jié)果及測(cè)試用例數(shù)據(jù)等

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