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羅德與施瓦茨推出新的低成本多DUT同時(shí)測(cè)試方案

羅德與施瓦茨資訊 ? 來(lái)源:羅德與施瓦茨資訊 ? 作者:羅德與施瓦茨資訊 ? 2021-02-08 09:34 ? 次閱讀

用戶(hù)在測(cè)試5G FR1介質(zhì)濾波器、隔離器這類(lèi)無(wú)源器件的S參數(shù)時(shí),由于產(chǎn)品自身物理特性的限制,通常每個(gè)器件都需要調(diào)試。

測(cè)試挑戰(zhàn)

元器件生產(chǎn)調(diào)試時(shí)間長(zhǎng),需求很多VNA調(diào)試工位,測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下

為了滿(mǎn)足批量生產(chǎn)的需求,用戶(hù)需要布置很多工位來(lái)調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA,這樣整個(gè)車(chē)間會(huì)需求大量的VNA,導(dǎo)致用戶(hù)的測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下。如何進(jìn)一步降低測(cè)試成本,成為用戶(hù)當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)。

傳統(tǒng)測(cè)試方案帶來(lái)大量的資源閑置

在調(diào)試這類(lèi)無(wú)源器件時(shí),通常只需觀(guān)測(cè)一個(gè)測(cè)量畫(huà)面下的曲線(xiàn)變化情況,與儀器相關(guān)的參數(shù)配置基本固定不變。而現(xiàn)代VNA測(cè)量功能非常強(qiáng)大,可以同時(shí)配置多組測(cè)量通道(Channel)和測(cè)量顯示界面(Diagram),各測(cè)量通道之間的切換速度非常之快,肉眼幾乎無(wú)法辨別。顯然,一臺(tái)VNA只對(duì)應(yīng)一個(gè)DUT的傳統(tǒng)測(cè)試方案,會(huì)造成儀器測(cè)量資源大量閑置。為了提高儀器的使用效率,迫切需要對(duì)儀器資源進(jìn)行復(fù)用

羅德與施瓦茨推出新的解決方案

羅德與施瓦茨提供更具性?xún)r(jià)比的多端口方案,用于多個(gè)DUT同時(shí)測(cè)試

針對(duì)以上情況,為了進(jìn)一步降低測(cè)試成本,羅德與施瓦茨提供了一種更具性?xún)r(jià)比的測(cè)試方案:基于R&SZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和R&SZN-Z84開(kāi)關(guān)矩陣的多端口擴(kuò)展方案,該方案可對(duì)一臺(tái)R&SZNB主機(jī)進(jìn)行多工位復(fù)用。

方案特點(diǎn):

多端口同時(shí)測(cè)試

測(cè)試速度快,成本低

可多屏呈現(xiàn)且互不干擾

R&SZN-Z84即插即用,與主機(jī)連接方便

R&SZN-Z84采用固態(tài)開(kāi)關(guān),開(kāi)關(guān)切換速度快

用戶(hù)界面友好,用戶(hù)無(wú)需對(duì)R&SZN-Z84進(jìn)行額外操作

視頻中,基于一臺(tái)二端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&SZNB 和一臺(tái)二進(jìn)六出開(kāi)關(guān)矩陣R&SZN-Z84,可將測(cè)量端口擴(kuò)展成六個(gè)。用戶(hù)可以將這六個(gè)測(cè)量端口劃分為3組二端口測(cè)試,同時(shí)在R&SZNB中創(chuàng)建三個(gè)Channel 并顯示成三個(gè)獨(dú)立的畫(huà)面,每個(gè)Channel分別對(duì)應(yīng)一個(gè)二端口DUT 測(cè)試(如Channel1對(duì)應(yīng)Port1/Port2 …. Channel3對(duì)應(yīng)Port5/Port6)。借助外置的商用視頻切割器,將三個(gè)測(cè)試畫(huà)面切割并獨(dú)立輸出顯示,這樣每個(gè)測(cè)量工位只顯示自己DUT的測(cè)量畫(huà)面。

三個(gè)DUT通過(guò)共用一臺(tái)網(wǎng)絡(luò)分析儀,實(shí)現(xiàn)了獨(dú)立調(diào)試和獨(dú)立顯示、互不干擾,從而大大降低了產(chǎn)線(xiàn)成本。同時(shí),測(cè)試速度和測(cè)試精度俱佳。

同理,如果開(kāi)關(guān)矩陣配置為最大24個(gè)端口,用戶(hù)可以將24個(gè)端口劃分為12個(gè)二端口測(cè)試,最多同時(shí)調(diào)試12個(gè)二端口器件。

責(zé)任編輯:xj

原文標(biāo)題:【方案介紹】低成本多DUT同時(shí)測(cè)試方案

文章出處:【微信公眾號(hào):羅德與施瓦茨資訊】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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原文標(biāo)題:【方案介紹】低成本多DUT同時(shí)測(cè)試方案

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