RF射頻芯片測(cè)試座的定義和工作原理

一、RF射頻測(cè)試座定義

RF射頻測(cè)試座是幾個(gè)部分構(gòu)成，首先是測(cè)試座外殼+測(cè)試座常規(guī)探針+RF射頻同軸連接器。

RF射頻測(cè)試座中，大部分結(jié)構(gòu)和普通的測(cè)試座類似，除了同軸連接器的部分。

關(guān)于測(cè)試座的部分，前面也講過(guò)了設(shè)計(jì)思路。

現(xiàn)在主要說(shuō)說(shuō)RF連接器。

RF連接器即射頻同軸連接器，主要起通訊射頻作用。經(jīng)過(guò)全球通訊行業(yè)的共同努力，使RF連接器形成了專業(yè)體系以及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也是連接器的必不可少的組成部分。

二、RF射頻測(cè)試座的工作原理

RF射頻測(cè)試座的常規(guī)pin腳還是采用對(duì)應(yīng)的pogo pin探針，但是由于射頻傳輸信號(hào)需要特別的媒介，所以相應(yīng)的連接器部分也很特殊，我們比較常見(jiàn)的射頻同軸連接器（RF COAXIAL CONNECTOR）就是其中之一，這個(gè)部件會(huì)被嵌入到測(cè)試座中，用于測(cè)試時(shí)候的射頻導(dǎo)通。

對(duì)應(yīng)相應(yīng)測(cè)試座中射頻連接器的設(shè)計(jì)選擇，可以參考如下（不僅限于如下接口），同時(shí)在定制測(cè)試座的時(shí)候，也需要向供應(yīng)商提出自己芯片的插損和回?fù)p要求（即S12/S21和S11），同時(shí)也需要提出自己的接觸阻抗要求：

BNC是卡口式，多用于低于4GHz的射頻連接，廣泛用于儀器儀表及計(jì)算機(jī)互聯(lián)。

TNC是螺紋連接，尺寸等方面類似BNC，工作頻率可達(dá)11GHz，螺紋式適合振動(dòng)環(huán)境。

SMA是螺紋連接，應(yīng)用最廣泛，阻抗有50和75歐姆兩種，50歐姆時(shí)配軟電纜使用頻率低于12.4Ghz，配半剛性電纜最高到26.5GHz。

SMB體積小于SMA，為插入自鎖結(jié)構(gòu)，用于快速連接，常用于數(shù)字通訊，是L9的換代品，50歐姆可到4GHz，75歐姆到2GHz。

SMC為螺紋連接，其他類似SMB，有更寬的頻率范圍，常用于軍事或高振動(dòng)環(huán)境。

N型連接器為螺紋式，以空氣為絕緣材料，造價(jià)低，頻率可達(dá)11GHz，常用于測(cè)試儀器上，有50和75歐姆兩種。

MCX和MMCX連接器體積小，用于密集型連接。

BMA用于頻率達(dá)18GHz的低功率微波系統(tǒng)的盲插連接。

RF測(cè)試圖片，圖片來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)

三、RF射頻測(cè)試座的應(yīng)用

當(dāng)前隨著5G以及WIFI6等高速通訊標(biāo)準(zhǔn)的升級(jí)，新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī)，平板等移動(dòng)設(shè)備，通訊基站等通訊平臺(tái)。RF射頻測(cè)試座的需求越來(lái)越多，也越來(lái)越高，當(dāng)前主要的RF芯片會(huì)用到老化測(cè)試，功能測(cè)試，以及極端環(huán)境下的特種測(cè)試，所以也對(duì)RF射頻測(cè)試座提出了更為高的測(cè)試需求。

四、RF射頻測(cè)試座的制作方法：

產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要依靠數(shù)據(jù)，包括芯片的尺寸（長(zhǎng)寬厚度），芯片間距，芯片的形狀，芯片測(cè)試中芯片需要運(yùn)行的頻率，以及對(duì)應(yīng)的插損，回?fù)p等數(shù)據(jù)。有些RF芯片功率較大，有可能需要提供過(guò)流需求，眾所周知，測(cè)試座pogo pin過(guò)流能力小于1A，所以說(shuō)芯片的電源引腳過(guò)流能力也需要考慮進(jìn)去，要不然會(huì)影響芯片的火力全開的測(cè)試數(shù)據(jù)。

即 Socket + RF同軸連接器(還需要考慮到隔離)

五、RF射頻測(cè)試座的保養(yǎng)：

射頻測(cè)試座的話，需要定期保養(yǎng)，最好是每使用5000次用顯微鏡檢查下接觸探針或者RF射頻連接器的情況，查看針頂部是否有污物以及針的磨損情況，保證測(cè)試座始終保持良好的測(cè)試狀態(tài)。如果是有污物，建議使用超聲波清洗設(shè)備，放入高純度酒精進(jìn)行超聲波清潔，然后用氣槍做最后的清潔，保證測(cè)試座在干燥的狀態(tài)，保證產(chǎn)品的使用壽命以及測(cè)試性能。如果有輕微磨損，不影響測(cè)試（即測(cè)試數(shù)據(jù)沒(méi)有很大的誤差），可以在清潔后繼續(xù)使用。如果說(shuō)很嚴(yán)重的損傷，就需要更換探針以及RF連接器，才能繼續(xù)使用了。

原文標(biāo)題：五點(diǎn)讓你快速了解RF射頻芯片測(cè)試座

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