語音芯片快速老化的三大原因
語音芯片的老化，除開時(shí)間的原因，也存在有另一些因素在影響著；歲月是無情的，歲月崢嶸，質(zhì)量問題的存在也會(huì)加速IC芯片的老化！
如：
1、外力損壞，工作電壓過高(運(yùn)算放大器的電源很低，一般為2.8V~5.5V)；
2、工作溫度過高、焊接溫度過高且過長(zhǎng)；
3、電源受到影響(靜電、雷擊、電源出現(xiàn)故障時(shí)的電源脈沖)。
責(zé)任編輯：lq
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
運(yùn)算放大器
+關(guān)注
關(guān)注
215文章
4960瀏覽量
173258 -
語音芯片
+關(guān)注
關(guān)注
12文章
1771瀏覽量
36625 -
IC芯片
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
251瀏覽量
26298
原文標(biāo)題：語音芯片快速老化的三大原因
文章出處：【微信號(hào)：jiuxin2010，微信公眾號(hào)：九芯智能】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
Flash語音芯片相比OTP語音芯片的優(yōu)勢(shì)
Flash語音芯片和OTP語音芯片是兩種常見的語音解決方案，在各自的應(yīng)用領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。本文?將介紹Flash
Flash語音芯片相比OTP語音芯片的優(yōu)勢(shì)
Flash語音芯片和OTP語音芯片是兩種常見的語音解決方案，在各自的應(yīng)用領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。本文?將介紹Flash
IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片
芯片知識(shí)：如何將語音精確燒錄至語音芯片
在數(shù)字化浪潮中，將語音融入硬件設(shè)備，為產(chǎn)品賦予“靈魂”，是科技創(chuàng)新的一大亮點(diǎn)。但你知道嗎？將語音寫入語音芯片，并非簡(jiǎn)單地通過電腦一蹴而就。這一過程，實(shí)則是科技與匠心的微妙結(jié)合，需要借助
物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)智能控制產(chǎn)品的語音識(shí)別方案_離線語音識(shí)別芯片分析
01 物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中為什么要使用離線語音識(shí)別芯片 物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中使用離線語音識(shí)別芯片的原因主要基于以下幾個(gè)方面： 1、實(shí)時(shí)性與可靠性 實(shí)時(shí)性好：
物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中音頻方案的“大腦”_語音芯片
01 物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中為什么要使用語音芯片 物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中使用語音芯片的原因可以歸結(jié)為以下幾個(gè)方面： 1、提升用戶體驗(yàn)
燒結(jié)銀AS9378火爆的六大原因
低溫?zé)Y(jié)銀AS9378近年來在電子材料領(lǐng)域迅速崛起，其火爆程度令人矚目。這款采用納米技術(shù)和低溫?zé)Y(jié)工藝的高性能材料，憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)在眾多應(yīng)用中脫穎而出。以下，我們將深入探討低溫?zé)Y(jié)銀AS9378火爆的六大原因。
IGBT老化后結(jié)電容會(huì)變化嗎
絕緣柵雙極晶體管（IGBT）是一種廣泛應(yīng)用于電力電子領(lǐng)域的半導(dǎo)體器件，具有高輸入阻抗、低導(dǎo)通壓降、快速開關(guān)速度等特點(diǎn)。然而，IGBT在長(zhǎng)時(shí)間工作過程中，由于各種因素的作用，會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象，影響其性能
晶體的老化原因？如何防止老化？
術(shù)語“晶體的老化“指的是石英振蕩器中頻率隨時(shí)間的變化。然而，根據(jù)國(guó)際無線電咨詢委員會(huì)(CCIR)的定義，老化是“由于振蕩器內(nèi)部變化導(dǎo)致頻率隨時(shí)間的系統(tǒng)性變化”。圖1典型的老化行為老化被
基于唯創(chuàng)語音芯片的三大煙霧報(bào)警器語音方案
在智能設(shè)備與物聯(lián)網(wǎng)(IoT)技術(shù)的飛速發(fā)展中，語音播報(bào)功能的重要性日益凸顯，已成為提升用戶體驗(yàn)、實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互的關(guān)鍵一環(huán)。本文將深入探討三種創(chuàng)新性語音播報(bào)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案：傳統(tǒng)方案——獨(dú)立的語音
愛普生語音芯片的特點(diǎn)與應(yīng)用市場(chǎng)
隨著物聯(lián)網(wǎng)與智能家居的普及，越來越多的電子產(chǎn)品有了語音播報(bào)的需求。但是很多客戶沒有類似的開發(fā)經(jīng)驗(yàn)或者他們的產(chǎn)品內(nèi)部只能承載一個(gè)蜂鳴器。這樣的情況下要如何實(shí)現(xiàn)快速的產(chǎn)品升級(jí)呢?下面讓我們來看一下差普生
三合一老化試驗(yàn)臺(tái)，三合一老化測(cè)試案例
三合一老化測(cè)試控制儀簡(jiǎn)介 三合一老化測(cè)試軟件是一款適用于車載充電器 OBC+DC/DC+PDU三合一產(chǎn)品在高溫環(huán)境下進(jìn)行老化試驗(yàn)專用。該設(shè)備主要由老
什么是晶體振蕩器老化？老化的原因 如何測(cè)量晶體振蕩器的老化？
什么是晶體振蕩器老化？晶體振蕩器老化的原因 如何測(cè)量晶體振蕩器的老化？ 晶體振蕩器是一種以晶體諧振頻率為基準(zhǔn)在電子設(shè)備中產(chǎn)生穩(wěn)定時(shí)鐘信號(hào)的器件。然而，隨著時(shí)間的推移，晶體振蕩器會(huì)出現(xiàn)
晶振失效三大原因及解決辦法
晶振失效三大原因及解決辦法 晶振失效是指晶體振蕩器無法正常工作，造成電子設(shè)備不能正常運(yùn)行的情況。晶振在電子設(shè)備中起到非常關(guān)鍵的作用，它是產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)的核心元件。晶振失效會(huì)導(dǎo)致設(shè)備的計(jì)時(shí)不準(zhǔn)確甚至
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論