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FTTH接入工程中的衰耗測(cè)試方案

電子設(shè)計(jì) ? 來(lái)源:電子設(shè)計(jì) ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2020-12-26 02:28 ? 次閱讀

FTTH接入工程中ODN的測(cè)試項(xiàng)目雖然只有衰耗一項(xiàng),但按照《通信線路工程驗(yàn)收規(guī)范》和《寬帶光纖接入工程驗(yàn)收規(guī)范》的要求,測(cè)試的過(guò)程卻非常復(fù)雜,包括:光纜的單盤(pán)檢驗(yàn)、光纜線路的衰耗測(cè)試、光分路器的本機(jī)測(cè)試、ODN光纖鏈路全程測(cè)試。

1、光纜的單盤(pán)檢驗(yàn)

光纜的單盤(pán)檢驗(yàn)主要采用OTDR測(cè)試?yán)|內(nèi)光纖的長(zhǎng)度和衰耗特性。不過(guò),F(xiàn)TTH接入工程中,極少有施工單位對(duì)光纜進(jìn)行單盤(pán)檢驗(yàn)。

如果施工單位在施工前未對(duì)光纜進(jìn)行單盤(pán)檢驗(yàn),在光纜敷設(shè)后若發(fā)現(xiàn)光纜的質(zhì)量問(wèn)題,光纜廠商是可以不負(fù)責(zé)任的。

2、光纜線路衰耗測(cè)試

FTTH接入工程中往往會(huì)涉及到多個(gè)光纜段落的新建,如圖1所示,通常會(huì)涉及配線光纜和引入光纜的新建。光纜在敷設(shè)安裝完成后,應(yīng)對(duì)每個(gè)新建光纜段落的每一纖芯進(jìn)行衰耗測(cè)試。

圖1

引入光纜由于連接有分纖箱,中間有多處分歧,測(cè)試起來(lái)還是比較麻煩的。如圖2所示,1條12芯的光纜共連接6個(gè)分纖箱,測(cè)試時(shí),需先在配線光交處用OTDR逐一測(cè)試每一芯的背向散射曲線,再去每一分纖箱處再測(cè)試一次;如果不正、反雙向進(jìn)行測(cè)試,是無(wú)法測(cè)試出線路中接頭衰耗大小的。

圖2

引入光纜如果只采用光源和光功率計(jì)測(cè)試,是無(wú)法判斷光纜接頭衰耗大小的。

看來(lái)引入光纜的衰耗測(cè)試也是很麻煩的,所以,也很少有施工隊(duì)伍進(jìn)行測(cè)試。

3、光分路器的本機(jī)測(cè)試

光分路器的本機(jī)測(cè)試是指光分路器在安裝前,對(duì)分路器的每一端口插損進(jìn)行測(cè)試;其目的,一是看分路器各端口的插損是否正常,二是看各端口的插損偏差是否正常。分路器各端口的插損是有一定偏差的,譬如1×8分路器的允許偏差為1.5dB。

分路器的插損測(cè)試模型如圖3所示,插損為Pout與Pin之差。

圖3

光分路器的本機(jī)測(cè)試雖然并不復(fù)雜,但好像也很少有施工單位進(jìn)行了這項(xiàng)工作。

4、ODN光纖鏈路全程測(cè)試

ODN光纖鏈路全程是指從OLT的S/R點(diǎn)到ONT的R/S點(diǎn)間的光纖鏈路,但FTTH接入工程的用戶端一般只建設(shè)到分纖箱就結(jié)束了,所以,可測(cè)試的部分一般指從業(yè)務(wù)匯聚點(diǎn)ODF到分纖箱內(nèi)分路器端口的光纖鏈路。

ODN光纖鏈路全程測(cè)試的方法主要有3種:

方法1:利用OLT設(shè)備PON口和光功率計(jì)測(cè)試;

方法2:用光源和光功率計(jì)測(cè)試;

方法3:用 PON光時(shí)域反射儀(OTDR)測(cè)試。

以上3種方法的詳細(xì)介紹參見(jiàn)《光纖到戶(FTTH)工程施工操作規(guī)程》。

如果新增的ODN光纖鏈路是利用原有的PON口,則只能用方法1測(cè)試,如圖4所示。此時(shí)只能測(cè)試下行衰耗,PON口的光功率需從PON網(wǎng)管提取,但需注意網(wǎng)管光功率數(shù)據(jù)和實(shí)際測(cè)試值的差別。當(dāng)然,如果原PON口帶的用戶很少,也可以將PON口斷開(kāi),用光功率計(jì)讀取PON口的光功率。

圖4

5、結(jié)束語(yǔ)

ODN光纖鏈路是無(wú)需進(jìn)行回波損耗測(cè)試的,只有開(kāi)通模擬信號(hào)的光纖鏈路才需要測(cè)試回波損耗。

盡管按照規(guī)范要求,F(xiàn)TTH接入工程中要測(cè)試的內(nèi)容比較多,但實(shí)際工程中并沒(méi)有多少人對(duì)以上內(nèi)容進(jìn)行測(cè)試,就連最重要的ODN光纖鏈路全程測(cè)試也是這樣。

審核編輯:符乾江
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