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功能ECO理論基礎(chǔ):邏輯等價性檢查

電子設(shè)計 ? 來源:電子設(shè)計 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2020-12-24 17:43 ? 次閱讀

邏輯錐Logic Cone

從數(shù)字網(wǎng)表的角度來看,可以把設(shè)計分成若干個“以DFF為終點的邏輯塊”,如下圖。DFF的CK(時鐘)、D(數(shù)據(jù))、RN(復(fù)位)、SN(置位)就是這個“邏輯塊”的終點,它們的輸入都是一個組合邏輯。時鐘和復(fù)位很可能是clock tree或者buffer tree,也可能有與門、或門、異或門、選擇器等稍復(fù)雜的邏輯。

(圖一)

如果設(shè)計(module)是組合邏輯輸出,也可想像在設(shè)計外面有一個DFF,如下圖。

(圖二)

而這些組合邏輯的輸入是什么呢?不外乎兩種情況:一是,前一級DFF的輸出;二是,設(shè)計(module)的輸入pin。

(圖三)

那跨模塊優(yōu)化的又是什么情況呢?如下圖,組合邏輯分到了兩個模塊里。但如果忽略設(shè)計的層次關(guān)系,兩段組合邏輯可以合并成一段。好處是:綜合工具可以兩段組合邏輯一起考慮,看有沒有邏輯可以復(fù)用,所以面積和時序會優(yōu)化得更好。壞處是:模塊的端口可能不存了,也可能產(chǎn)生了新的端口。所以綜合和LEC的選項ungroup(flatten)就是這個作用,讓工具忽略層次關(guān)系。

(圖四)

因此,設(shè)計(module)就是“以DFF為終點的邏輯塊”組成。不僅網(wǎng)表如此,RTL也是一樣。我們知道所有數(shù)字電路都可以用always和assign這兩種語法來實現(xiàn)(latch可以看作是DFF的一種)。這些“以DFF為終點的邏輯塊”我們把它叫作邏輯錐。

Keypoint Mapping

有了邏輯錐的概念后,關(guān)鍵點映射(keypoint mapping)就好理解多了。從上文知道邏輯錐的終點是DFF的CK(時鐘)、D(數(shù)據(jù))、RN(復(fù)位)、SN(置位),如果這幾個“關(guān)鍵點”的邏輯都相同或者等價,那么這兩個邏輯錐的邏輯就等價。對于組合邏輯直接輸出的邏輯錐來說,“關(guān)鍵點”就是output pin。那么,總結(jié)一下“關(guān)鍵點”有以下幾種:DFF的輸入(CK、D、RN、SN)頂層模塊的輸出pin
要檢查等價性,那么keypoing mapping是前提,是基礎(chǔ)。如果keypoing mapping都錯了,等價性檢查結(jié)果一定Fail。

對于要對比的兩個設(shè)計,我們通常叫作golden和revised(S家叫reference和implement)。golden可能是RTL、綜合網(wǎng)表,也可能是APR網(wǎng)表,ECO網(wǎng)表,不是絕對的,只是表明以此設(shè)計作為基準(zhǔn)來對比。所以在做等價性檢查時golden和revised弄反了也問題不大。但是S家的工具依賴svf(setup verification file),所以還是要注意一下。

當(dāng)修改RTL或者網(wǎng)表ECO后,邏輯錐的“關(guān)鍵點”可能發(fā)生較大的變化,比如:

新加DFF刪掉DFFDFF改名

復(fù)位變成置位上升沿變下降沿還可能DFF從模塊A挪到模塊B寄存器合并寄存器復(fù)制multi bit寄存器

所以,keypoint mapping時,要能夠考慮到這些情況??梢允止し治?,也可以參考綜合的svf文件,還可以用一些算法來測試和分析。

形式驗證

在關(guān)鍵點(keypoint)映射正確后,就可以開始做形式驗證了。如果邏輯錐的輸入不一致,例如下圖中修改后的設(shè)計中增加了輸入4和5,就需要分析這兩個新增加的輸入是不是與golden的輸入是等價或者反相等價的關(guān)系。如果沒有任何關(guān)系,純粹是新加的條件,那么這兩個邏輯錐一定會fail。

(圖五)

經(jīng)過上一步對邏輯錐輸入的檢查后,接下來就需要通過數(shù)學(xué)的方法來檢查等價性。這種數(shù)學(xué)的方法的原理很簡單,如下,每個keypoint的邏輯都可以用下面的公式來描述:Y = F(a, b, c, ... , n)

對golden和revised邏輯錐施加相同的測試向量,看是否有相同的輸入。理論上,對于有N個輸入的keypoing,一共有2^N種輸入可能性。遍歷一下,就知道等價性的結(jié)果。

如果其中有一個測試向量fail,那么這個keypoint就不等價,剩余的測試向量也就沒有必要繼續(xù)。如果都pass,就需要遍歷完所有的測試向量。

為了節(jié)省測試時間,LEC工具需要對邏輯錐進(jìn)行優(yōu)化?,F(xiàn)在市場上已經(jīng)出現(xiàn)一些基于機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)和深度學(xué)習(xí)(deep learning)的形式驗證算法的LEC工具。

審核編輯:符乾江
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