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LED屏品質(zhì)好壞的五大關(guān)鍵技術(shù)

電子設(shè)計(jì) ? 來(lái)源:電子設(shè)計(jì) ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2020-12-24 11:42 ? 次閱讀

LED顯示屏由一列發(fā)光二極管排列組合而成,因此LED的質(zhì)量直接影響顯示屏的整體品質(zhì)。

1、亮度與視角

顯示屏亮度主要取決于LED的發(fā)光強(qiáng)度和LED密度。近幾年LED在襯底、外延、芯片及封裝等方面的新技術(shù)層出不窮,尤其是氧化銦錫(ITO)電流擴(kuò)展層技術(shù)及工藝的穩(wěn)定與成熟,使LED的發(fā)光強(qiáng)度有了大幅提高。目前,國(guó)際一流品牌小功率LED在水平視角為110度、垂直視角為50度的情況下,綠管的發(fā)光強(qiáng)度已高達(dá)4000mcd,紅管達(dá)1500mcd,藍(lán)管達(dá)1000mcd。在像素間距為20mm時(shí),顯示屏亮度可達(dá)到10000nit以上。顯示屏可在任何環(huán)境下全天候工作。

在談到顯示屏視角時(shí),有一個(gè)值得我們思考的現(xiàn)象:LED顯示屏尤其是室外顯示屏,人們的觀察角度基本是從下而上,而以現(xiàn)有LED顯示屏的產(chǎn)品形態(tài)來(lái)看,有一半的光通量消失在茫茫天空中。

2、均勻性與清晰度

LED顯示屏技術(shù)發(fā)展到今天,均勻性已成為衡量顯示屏優(yōu)劣的最重要指標(biāo)。人們常說(shuō)LED顯示“點(diǎn)點(diǎn)燦爛,片片輝煌”,就是對(duì)像素之間和模塊之間嚴(yán)重不均勻的一種形象比喻。專業(yè)一點(diǎn)的說(shuō)法是“灰塵效應(yīng)”和“馬賽克現(xiàn)象”。

造成不均勻現(xiàn)象的根源主要有:LED各項(xiàng)性能參數(shù)的不一致;顯示屏在生產(chǎn)、安裝過(guò)程中組裝精度的不足;其他電子元器件的電參數(shù)一致性不夠;模塊、PCB設(shè)計(jì)的不規(guī)范等。

其中“LED各項(xiàng)性能參數(shù)的不一致”是主因。這些性能參數(shù)的不一致主要包括:光強(qiáng)不一致、光軸不一致、色坐標(biāo)不一致、各基色光強(qiáng)分布曲線不一致以及衰減特性不一致等。

如何解決LED性能參數(shù)的不一致現(xiàn)象,目前業(yè)內(nèi)主要有兩種技術(shù)途徑:一是通過(guò)對(duì)LED規(guī)格參數(shù)的進(jìn)一步細(xì)分,提高LED各項(xiàng)性能的一致性;二是通過(guò)后續(xù)校正的方式來(lái)改善顯示屏均勻性。后續(xù)校正也從早期的模組校正、模塊校正,發(fā)展到今天的逐點(diǎn)校正。校正技術(shù)則從單純的光強(qiáng)校正,發(fā)展到光強(qiáng)色坐標(biāo)校正。

但是,我們認(rèn)為后續(xù)校正并不是萬(wàn)能的。其中,光軸不一致、光強(qiáng)分布曲線不一致、衰減特性不一致、拼裝精度差以及設(shè)計(jì)的不規(guī)范等是無(wú)法通過(guò)后續(xù)校正來(lái)消除的,甚至這種后續(xù)校正會(huì)使光軸、衰減、拼裝精度方面的不一致更加惡化。

因此,通過(guò)實(shí)踐我們的結(jié)論是:后續(xù)校正僅僅是治表,而LED參數(shù)細(xì)分才是治本,才是LED顯示產(chǎn)業(yè)未來(lái)的主流。

而論到顯示屏均勻性與清晰度的關(guān)系,業(yè)界則常常存在一個(gè)認(rèn)識(shí)上的誤區(qū),即以分辨率替代清晰度。其實(shí)顯示屏清晰度是人眼對(duì)顯示屏分辨率、均勻性(信噪比)、亮度、對(duì)比度等多項(xiàng)因素綜合的主觀感受。單純縮小物理像素間距提高分辨率,而忽視均勻性,對(duì)提高清晰度是毫無(wú)疑義的。試想一個(gè)存有嚴(yán)重“灰塵效應(yīng)”和“馬賽克現(xiàn)象”的顯示屏,即使它的物理像素間距再小,分辨率再高,也不可能得到一個(gè)良好的圖像清晰度。

因此,從某種意義上講,目前制約LED顯示屏清晰度改善的主因是“均勻性”而不是“物理像素間距”。

3、顯示屏像素失控

造成顯示屏像素失控的原因很多,其中最主要的原因就是“LED失效”。

LED失效的主因又可分為兩個(gè)方面:一是LED自身品質(zhì)不佳;二是使用方法不當(dāng)。通過(guò)分析我們歸納出LED失效模式和上述兩個(gè)主因之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

上述我們談到很多LED的失效通常在LED的常規(guī)檢驗(yàn)測(cè)試中是無(wú)法發(fā)現(xiàn)的。除了在受到靜電放電、大電流(造成結(jié)溫過(guò)高)、外部強(qiáng)力等不當(dāng)使用外,很多LED失效是在高溫、低溫、溫度快速變化或其他惡劣條件下,由于LED芯片、環(huán)氧樹脂、支架、內(nèi)引線、固晶膠、PPA杯體等材料熱膨脹系數(shù)的差異,引發(fā)其內(nèi)部應(yīng)力的不同而產(chǎn)生的,因此,LED的質(zhì)量檢測(cè)是一項(xiàng)十分復(fù)雜的工作。

審核編輯:符乾江
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