矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是射頻微波器件測試必不可少的設(shè)備,主要用于測試器件的S參數(shù)及其衍生參數(shù)。大多數(shù)射頻工程師都有接觸,但是對于其基本組成及測試原理深度探究的并不多。后面計劃寫一些文章,專門介紹矢網(wǎng)的基礎(chǔ)內(nèi)容。本文主要介紹矢網(wǎng)的基礎(chǔ)組成部分——反射計(Reflectometer),包含哪些關(guān)鍵部件,以及基本工作原理。
圖1給出了反射計的基本結(jié)構(gòu)示意圖,主要包含信號源、參考接收機(jī)、測量接收機(jī)、定向元件及衰減器等部分,有的矢網(wǎng)可能還含有Bias-Tee模塊,用于給DUT提供直流偏置。反射計的基本工作過程為:激勵源提供的掃頻信號或者單頻點信號,饋入DUT,經(jīng)DUT反射的信號經(jīng)過定向元件進(jìn)入接收機(jī)測試,將測得的信號與激勵源提供的信號取比值即可得到反射系數(shù)。
曾經(jīng)在給客戶介紹矢網(wǎng)基本原理的時候,被問到“既然矢網(wǎng)上可以設(shè)置功率,為什么還需要參考接收機(jī)?直接利用測量接收機(jī)測試的信號與信號設(shè)置功率比較,不就可以確定DUT的傳輸特性嗎?”
這個問題其實并不難,且不論矢網(wǎng)設(shè)置的功率是否準(zhǔn)確,功率是一個標(biāo)量,只能表征幅度,卻沒有相位信息。而S參數(shù)測試是矢網(wǎng)最基本的測試功能,不僅僅要得到幅度參數(shù),還要有相位信息,如果參與計算的激勵信號是一個標(biāo)量,那怎么可能得到矢量參數(shù)呢?
正因為此,反射計中需要有一個接收機(jī)能夠?qū)钚盘栠M(jìn)行幅度和相位的標(biāo)定,以此作為參考信號,用于計算DUT的S參數(shù),這就是參考接收機(jī)的由來。
圖1. 反射計基本架構(gòu)示意圖
源步進(jìn)衰減器位于激勵源與定向元件之間,主要用于擴(kuò)展矢網(wǎng)端口輸出功率范圍的,適用于高增益有源器件或模塊的測試。接收機(jī)步進(jìn)衰減器位于測量接收機(jī)的通道上,防止接收機(jī)過載飽和而惡化測試精度。一般在測試PA等大功率應(yīng)用下,才會用到接收機(jī)步進(jìn)衰減器。
定向元件作為反射計的核心部件之一,主要用于分離入射波和反射波,這樣才能夠測試反射系數(shù)。對于10 GHz以下的矢網(wǎng),定向元件多數(shù)采用VSWR bridge實現(xiàn),更高頻率的矢網(wǎng)基本都采用雙定向耦合器。
介紹完了反射計基本架構(gòu)及各個部件的作用,下面聊聊一個深度問題:源步進(jìn)衰減器的位置對于測試的影響如何?
目前業(yè)界的矢網(wǎng),源步進(jìn)衰減器除了具有圖1所示的位置,還有一種圖2所示的位置,定向元件不再是雙定向耦合器,而是使用兩個普通的定向耦合器實現(xiàn)的,源步進(jìn)衰減器位于兩個耦合器之間。源步進(jìn)衰減器的位置不同對測試有什么影響呢?
圖2. 衰減器位置不同的反射計架構(gòu)
如果DUT是無源器件,則一般不需要調(diào)節(jié)源步進(jìn)衰減器,所以其位于哪個位置,對測試都沒有影響。如果DUT為高增益有源器件或者模塊,要求的端口輸出功率可能超過了激勵源本身輸出的動態(tài)范圍,此時就需要設(shè)置源步進(jìn)衰減器。
對于圖1,如果使用了源步進(jìn)衰減器,端口輸出的功率減小的同時,饋入到參考接收機(jī)的信號也會減弱,那么SNR就會降低,從而使得測試結(jié)果波動較大。但是這種架構(gòu)的優(yōu)勢就是,強(qiáng)信號(比如-10 dBm)下做完系統(tǒng)誤差校準(zhǔn),測試時激勵功率降低至弱信號時,校準(zhǔn)依然有效,無需重新校準(zhǔn)。
對于圖2,如果在強(qiáng)信號下做完校準(zhǔn),測試時再使用源步進(jìn)衰減器降低端口輸出功率,則校準(zhǔn)將失效。因此,只能在測試時所要求的信號電平上校準(zhǔn)。但是,這樣會惡化校準(zhǔn)精度,因為校準(zhǔn)的過程就是測試校準(zhǔn)件的過程,如果激勵信號小了,測量接收機(jī)的SNR就會降低,從而降低了校準(zhǔn)精度。對于這種測試場景,只能先在高功率狀態(tài)下校準(zhǔn),通過一定的方法事先將引入衰減器后的頻響變化確定下來,然后再進(jìn)行補償,才能保證校準(zhǔn)、測試精度。
從源步進(jìn)衰減器位置的角度看,不同廠家的矢網(wǎng)采用的架構(gòu)不同,在這種要求低功率激勵信號的應(yīng)用下,各家都有自己的應(yīng)對措施。比如圖1這種架構(gòu),為了提高參考接收機(jī)的SNR,可以通過降低測量帶寬或者平均的方式抑制跡線噪聲,這需要在測量速度與精度之間權(quán)衡。采用圖2所示架構(gòu)的廠家,據(jù)稱可以通過技術(shù)手段來消除衰減器的變化引入的影響,由于參考接收機(jī)受SNR的影響較小,所以跡線噪聲相對較小,測試結(jié)果更加平滑。
最后介紹一下如何完成準(zhǔn)確的反射測試。由于組成反射計的部件并非是理想的,會引入損耗與相移,而且還存在失配,所以直接由兩個接收機(jī)測得的信號計算出的反射系數(shù)并不是DUT真實的反射系數(shù),可以稱之為反射系數(shù)測量值。如何得到真正的反射系數(shù)?
這就需要系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)了,對于單端口反射測試,一般采用精度最高的OSM校準(zhǔn),采用OpenShortMatch三個校準(zhǔn)件,就可以求解出所涉及的所有誤差項。關(guān)于OSM校準(zhǔn),具體細(xì)節(jié)在前面發(fā)布的文章中已有描述,此處不再贅述,可以參考上一期文章“淺析矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀誤差模型及校準(zhǔn)”。
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原文標(biāo)題:矢網(wǎng)系列:反射計(Reflectometer)基礎(chǔ)介紹及工作原理
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