隨著科技的發(fā)展,電子產(chǎn)品的快速更新,對(duì)于電源管理芯片的要求也越來(lái)越高。
更小的封裝尺寸
更大的負(fù)載電流
更高的工作效率
更低的功率損耗
更低的工作溫升
芯片的工作效率就變得尤為重要了。對(duì)于DC-DC芯片來(lái)說(shuō),很大一部分的工作效率的損失來(lái)自開(kāi)關(guān)管的導(dǎo)通損耗及開(kāi)關(guān)損耗。當(dāng)芯片開(kāi)關(guān)上升和下降時(shí)間短,開(kāi)關(guān)頻率較低時(shí),導(dǎo)通損耗便占了芯片總功耗的很大部分。開(kāi)關(guān)導(dǎo)通阻抗(Rdson)的大小決定了導(dǎo)通損耗的大小,所以對(duì)于AE而言,精確測(cè)量Rdson就很重要。
降壓芯片Rdson常用測(cè)量方法的介紹
利用100%占空比測(cè)量上管Rdson
將芯片F(xiàn)B腳對(duì)GND短路,將R1分壓電阻去掉,此時(shí)芯片會(huì)以100%占空比工作。即上管Q1會(huì)長(zhǎng)開(kāi),下管Q2會(huì)關(guān)斷,Vout近似等于VCC。
VCC供電,在Vout與GND之間拉取電流負(fù)載IL(電流盡量避免過(guò)大,以免溫度影響上管Rdson阻值),即流過(guò)上管Q1的電流,電流方向如圖1所示。此時(shí)測(cè)量a點(diǎn)與b點(diǎn)的電壓值U并記錄(電壓測(cè)量點(diǎn)必須緊貼芯片引腳端,最大程度減小PCB走線(xiàn)阻抗)
由歐姆定律R=U/I,可以計(jì)算出Rdson阻值??梢匀《嘟M數(shù)據(jù),取平均值以減小誤差。
注意:此方法只有在芯片上管是PMOS,可以100%占空比工作,才適用
利用示波器進(jìn)行Rdson測(cè)量
簡(jiǎn)單估算
示波器3通道探棒接芯片SW腳(探針緊貼SW引腳,接地線(xiàn)緊貼GND引腳減小PCB走線(xiàn)阻抗),示波器通道4電流探頭(型號(hào):TeKtronixTCP202)測(cè)試電感電流。
VCC供電,讓芯片工作在PWM電流連續(xù)模式,測(cè)試通道3和通道4波形。
測(cè)試通道3
圖中藍(lán)色為SW電壓波形,紅色為電感電流波形;將黃色標(biāo)示放大后繼續(xù)觀察波形
測(cè)試通道4
通過(guò)觀察可以發(fā)現(xiàn):當(dāng)上管導(dǎo)通時(shí)SW電壓是隨電感電流增大而減小的,因此我們可以用以下公式粗略估算上管Rdson:
Rdson=△Vsw/△IL
△Vsw=VA-VB △IL=ID-IC
同理,此方法亦可粗略估算下管Rdson
精確估算
示波器通道1接Vin腳(探針緊貼Vin引腳,接地線(xiàn)緊貼GND引腳,減小PCB走線(xiàn)阻抗),示波器3通道探棒接芯片SW腳(探針緊貼SW引腳,接地線(xiàn)緊貼GND引腳,減小PCB走線(xiàn)阻抗),示波器通道4電流探頭(型號(hào):TeKtronixTCP202)測(cè)試電感電流。
VCC供電,讓芯片工作在PWM電流連續(xù)模式,測(cè)試通道3和通道4波形。
測(cè)試通道3
圖中藍(lán)色為SW電壓波形,紅色為電感電流波形;黃色為Vin電壓波形,將綠色標(biāo)示放大后繼續(xù)觀察波形
測(cè)試通道4
通過(guò)觀察可以發(fā)現(xiàn):
◆當(dāng)在t1時(shí)刻時(shí),PMOS兩端電壓△Vmos1=V1-V3,而此時(shí)流過(guò)上管電流為I1,那么t1時(shí)刻,上管Rdson1=△Vmos1/I1
=(V1-V3)/I1
◆當(dāng)在t2時(shí)刻時(shí),PMOS兩端電壓△Vmos2=V2-V4,而此時(shí)流過(guò)電流為I2,那么t2時(shí)刻,上管Rdson2=△Vmos2/I2
=(V2-V4)/I2
◆由分式合分比定理可以得出
Rdson=
即Rdson=
對(duì)于“利用100%占空比測(cè)量上管Rdson”的測(cè)試,其局限性在于芯片本身可以100%占空比工作;但其測(cè)試值誤差較小,相對(duì)精確(忽略芯片內(nèi)部綁定線(xiàn)阻抗)。
對(duì)于“利用示波器進(jìn)行Rdson測(cè)量”?測(cè)試的簡(jiǎn)單估算,其測(cè)試值誤差相對(duì)較大,但可以用此方法測(cè)試下管Rdson。
對(duì)于“利用示波器進(jìn)行Rdson測(cè)量”測(cè)試的精確估算,其測(cè)試值誤差較小,相對(duì)精確(忽略芯片內(nèi)部綁定線(xiàn)阻抗);但測(cè)試過(guò)程相對(duì)繁瑣,且受限示波器精度影響。
測(cè)試Rdson時(shí),可根據(jù)實(shí)際條件靈活測(cè)試。
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