影響DRAM可靠性和安全性的主要問(wèn)題是什么?

那么，像Spin Memory這樣的MRAM公司在DRAM領(lǐng)域能做什么呢？事實(shí)證明，開發(fā)超高密度、高性能MRAM存儲(chǔ)與垂直外延晶體管有很大關(guān)系，這在DRAM設(shè)計(jì)中非常有用。特別是，它們可以消除行錘攻擊，這些攻擊在較新的DRAM設(shè)計(jì)中可能是慢性的。

與靜態(tài)內(nèi)存不同，DRAM需要一個(gè)刷新周期來(lái)維護(hù)內(nèi)存單元的內(nèi)容。放棄刷新太久，內(nèi)容變成垃圾。傳統(tǒng)的系統(tǒng)通過(guò)定期的刷新周期防止發(fā)生這種情況，因此內(nèi)容不會(huì)降級(jí)到導(dǎo)致錯(cuò)誤的程度。

盡管如此，還是會(huì)出現(xiàn)降級(jí)問(wèn)題，甚至鄰近的訪問(wèn)也會(huì)影響相鄰的數(shù)據(jù)行。行錘擊是一種快速循環(huán)附近行的技術(shù)。對(duì)于系統(tǒng)攻擊者來(lái)說(shuō)，訣竅是在他們想要破壞的數(shù)據(jù)附近運(yùn)行這些事務(wù)，導(dǎo)致軟件以一種攻擊者可以利用的方式失敗。解決方案是隔離行，使附近事務(wù)的影響最小，允許定期刷新周期來(lái)維護(hù)數(shù)據(jù)。

IRPS 2020技術(shù)項(xiàng)目主席Charlie Slayman表示，Row hammer是影響DRAM可靠性和安全性的主要問(wèn)題之一，長(zhǎng)期以來(lái)一直是內(nèi)存行業(yè)的一個(gè)令人煩惱的難題。作為DRAM長(zhǎng)期以來(lái)的主要干擾問(wèn)題，排錘只會(huì)隨著細(xì)胞的縮小而變得越來(lái)越嚴(yán)重。自旋存儲(chǔ)器的通用選擇器提供了一種設(shè)計(jì)垂直電池晶體管的新方法，并已提交給JEDEC任務(wù)組評(píng)估解決行錘擊問(wèn)題的方案。

已經(jīng)有一些軟件方法可以減輕row錘擊的效果，但它傾向于與攻擊者玩“打地鼠”的游戲。

通用選擇器

當(dāng)然，僅僅減輕對(duì)DRAM的攻擊是有效果的，但是自旋存儲(chǔ)器提供的通用選擇器架構(gòu)還有其他優(yōu)點(diǎn)，特別是當(dāng)開發(fā)人員繼續(xù)縮小芯片設(shè)計(jì)的規(guī)模時(shí)。該方法總體上提高了DRAM軟錯(cuò)誤率。4F2 （4F2） DRAM位元配置也可以提高20%到35%的陣列密度。

該技術(shù)適用于新興的內(nèi)存技術(shù)，包括MRAM、ReRAM和PCRAM。這里，通用選擇器允許創(chuàng)建6F2 - 10F2 （6F2 - 10F2）的1T1R內(nèi)存位單元。這相當(dāng)于在相同區(qū)域增加了5倍的內(nèi)存，而只需要最小的晶片處理成本。

Spin Memory首席執(zhí)行官湯姆·斯帕克曼表示，當(dāng)今最創(chuàng)新、最苛刻的技術(shù)需要更先進(jìn)的內(nèi)存來(lái)跟上計(jì)算需求。對(duì)于運(yùn)行在邊緣的復(fù)雜應(yīng)用程序來(lái)說(shuō)，速度和可靠性是必要的，比如自動(dòng)駕駛汽車或健康可穿戴設(shè)備——在這些地方，準(zhǔn)確和實(shí)時(shí)的決策可能決定生死。除了推動(dòng)MRAM進(jìn)入主流市場(chǎng)之外，他們最新的突破性創(chuàng)新還為這些技術(shù)帶來(lái)了令人興奮的新進(jìn)展和能力！
責(zé)任編輯:tzh