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如何為電源設(shè)計(jì)選擇合適的MOSFET

電子設(shè)計(jì) ? 來源:powerelectronicsnews ? 作者:Giovanni Di Maria ? 2021-03-11 12:11 ? 次閱讀

MOSFET是半導(dǎo)體組件,主要用于開關(guān)應(yīng)用,并且具有高電壓和高電流的特點(diǎn)。它們具有更高的效率和更高的高速開關(guān)容量,使其成為電源設(shè)計(jì)中的最佳選擇。讓我們看一些標(biāo)準(zhǔn),以幫助為電力電子項(xiàng)目選擇合適的MOSFET 。

邏輯開關(guān)行為的參數(shù)

不管給定項(xiàng)目使用的邏輯(和模擬)級(jí)別如何,都有不同的閾值確定設(shè)備的明顯飽和或間斷。換句話說,這些值定義了高邏輯電平或低邏輯電平的精確操作。通常,在高低層之間需要一個(gè)過渡區(qū)域,以確保兩個(gè)層之間的過渡不會(huì)太突然。該區(qū)域定義為“非法”或“不確定”區(qū)域,如圖1所示。

圖1:通用MOSFET的邏輯電平

觀察最小和最大柵極-源極閾值電壓很重要,如下所示:

VGS(th)(最小值)是柵極電壓的值,低于該值MOSFET就會(huì)關(guān)斷。

VGS(th)(max)是柵極電壓值,高于該電壓MOSFET將導(dǎo)通。

通常,最小柵極電壓(對(duì)于5V正邏輯)在0.5V至1V之間。那些高于最大閾值的柵極電壓會(huì)導(dǎo)通MOSFET。最低點(diǎn)和最高點(diǎn)之間的電壓可能會(huì)導(dǎo)通或關(guān)斷MOSFET。必須避免使用它們,因?yàn)樗鼈儽硎静淮_定性區(qū)域,并且無法事先預(yù)測(cè)MOSFET的性能。因此,有必要在設(shè)計(jì)新系統(tǒng)的邏輯之前研究每個(gè)器件的門的行為。在圖2中,您可以看到一個(gè)經(jīng)典的電路圖,該圖提供了一個(gè)用96 V電壓供電的8Ω負(fù)載。在這種情況下,MOSFET可以用作電子開關(guān),并且可以通過驅(qū)動(dòng)“門”來激活。一個(gè)合適的電源。對(duì)于UnitedSiC UF3C065080T3S型號(hào),適用于“柵極”的電壓范圍為–25 V至25V。

圖2:電子開關(guān)的總圖

現(xiàn)在,根據(jù)柵極電壓,觀察負(fù)載R1上流過的電流,看看MOSFET的導(dǎo)電性能如何。相對(duì)圖如圖3所示。對(duì)于–25 V至5.8 V之間的所有“柵極”電壓,該組件均保持關(guān)斷狀態(tài)(開關(guān)斷開)。從6.4 V至25 V,MOSFET的行為就像一個(gè)閉合開關(guān)。

圖3:通過改變MOSFET的“柵極”電壓,可以改變MOSFET的工作方式。

柵極電壓在5.8 V至6.4 V之間(等效偏移為600 mV),該MOSFET實(shí)際上在線性區(qū)域內(nèi)工作。如圖4的SiC功率圖所示,必須避免這個(gè)時(shí)間間隔,因?yàn)樵摻M件會(huì)散發(fā)大量的熱功率。實(shí)際上,M1的平均功率(紅色曲線)的耗散如下:

  • 停電期間:0 W
  • 在飽和期間:12.5 W
  • 在不確定時(shí)期和線性范圍內(nèi):133.75 W,峰值為288 W

電路的效率也很大程度上取決于這一方面。

圖4:必須避免在MOSFET的“柵極”上施加不確定的電壓。否則,其耗散將非常高。

R DS(ON)參數(shù)

R DS(ON)的意思是“漏極和源極之間的導(dǎo)通電阻”。MOSFET通常用作功率晶體管的更好替代品,并用于大電流開關(guān)應(yīng)用。如果此參數(shù)較低,則根據(jù)歐姆定律,意味著MOSFET損失的能量更少,并導(dǎo)致更高的能量效率和更少的熱量產(chǎn)生。因此,設(shè)計(jì)人員應(yīng)選擇具有盡可能低的R DS(ON)值的組件模型。在我們的示例中,當(dāng)MOSFET導(dǎo)通時(shí),可以使用以下公式輕松計(jì)算R DS(ON):

R DS(開) = V(漏極) / I(漏極)

從中:

R DS(開) = 1.00574 / 11.87428

根據(jù)組件數(shù)據(jù)手冊(cè)的官方規(guī)格,其返回值等于0.084Ω(84mΩ)。

輸入(C iss)和輸出(C oss)電容參數(shù)

MOSFET本體上的“柵極”,氧化層和相對(duì)連接實(shí)際上就像一個(gè)小電容器一樣起作用。一旦“門”受到電壓,此虛擬電容器就會(huì)開始充電。充電需要時(shí)間,因此打開狀態(tài)會(huì)有延遲。設(shè)計(jì)人員應(yīng)選擇盡可能低的輸入電容的MOSFET,以避免長(zhǎng)時(shí)間的延遲。如果使用直接連接到MCU輸出引腳的MOSFET,則應(yīng)通過外部電阻器連接“門”,以防止產(chǎn)生不良結(jié)果。關(guān)于所使用的SiC模型,其電容參數(shù)如下:

  • 輸入電容(Ciss):在VDS = 100 V,VGS= 0 V,F(xiàn) = 100 kHz時(shí)– 1,500 pF
  • 輸出電容(Ciss):在VDS = 100 V時(shí),VGS= 0 V,F(xiàn) = 100 kHz — 104 pF

與切換速度有關(guān)的參數(shù)

MOSFET特別適合于快速開關(guān)應(yīng)用。頻率越高,變壓器必須越小,但是傳輸?shù)脑肼晻?huì)增加。無論如何,將組件鏈接到開關(guān)速度的一些基本參數(shù)如下:

  • 開啟延遲時(shí)間(tdon):25 ns
  • 上升時(shí)間(tr):14 ns
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間(tdoff):54 ns
  • 下降時(shí)間(tf):11 ns

圖5中的曲線圖顯示了在兩個(gè)頻率下切換MOSFET的兩種不同行為。上圖以1 MHz的開關(guān)頻率為參考,分別顯示了負(fù)載上的電流信號(hào),柵極上的電壓和PWM發(fā)生器的電壓。如您所見,該組件在此頻率下的行為非常好。下圖改為表示頻率為10 MHz的方波信號(hào)。請(qǐng)注意,所有信號(hào)都高度失真,實(shí)際上,MOSFET始終處于導(dǎo)通狀態(tài)。

o4YBAGBJl8mATFCqAAJzkJGfBs0272.png

圖5:MOSFET在不同速度下的不同開關(guān)行為

結(jié)論

對(duì)于那些必須選擇MOSFET(或MOSFETS)的人來說,所檢查的參數(shù)只是其中的幾個(gè)。設(shè)計(jì)人員可以研究與組件有關(guān)的其他特性,例如散熱和其他參數(shù)。與MOSFET一起工作是非常有趣的經(jīng)歷,它可以極大地提高電路效率并擴(kuò)大其工作可能性。要觀察的其他工作參數(shù)是反向恢復(fù),ESD保護(hù),開關(guān)損耗,支持的最大電壓和電流以及許多其他參數(shù)。

編輯:hfy

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