光模塊損壞的三個常見原因

一、光模塊損壞常見原因分析

1．光口污染和損傷

由于光接口的污染和損傷引起光鏈路損耗變大，導致光鏈路不通。產(chǎn)生的原因有：

a、光模塊光口暴露在環(huán)境中，光口有灰塵進入而污染；

b、使用的光纖連接器端面已經(jīng)污染，光模塊光口二次污染；

c、帶尾纖的光接頭端面使用不當，端面劃傷等；

d、使用劣質的光纖連接器；

e、插拔不當，陶瓷套筒破裂等。

2．ESD 損傷

ESD 是ElectroStatic Discharge 縮寫即”靜電放電”，是一個上升時間可以小于1ns（10 億分之一秒）甚至幾百ps（1ps＝10000 億分之一秒）的非常快的過程，ESD 可以產(chǎn)生幾十Kv/m甚至更大的強電磁脈沖。靜電會吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命；ESD的瞬間電場或電流產(chǎn)生的熱，使元件受傷，短期仍能工作但壽命受到影響；甚至破壞元件的絕緣或導體，使元件不能工作（完全破壞）。ESD 是不可避免，除了提高電子元器件的抗ESD 能力，重要的是正確使用，引起ESD 損傷的因素有：

a、環(huán)境干燥，易產(chǎn)生ESD；

b、不正常的操作，如：非熱插拔光模塊帶電操作；不做靜電防護直接用手接觸光模塊靜電敏感的管腳；運輸和存放過程中沒有防靜電包裝；

c、設備沒有接地或者接地不良。

二、光模塊使用過程的注意事項

光模塊里面集成了精密的光學元件和電路元件，在日常使用過程中要注意按規(guī)范操作，否則很容易導致光模塊損壞，下面為大家介紹光模塊日常使用注意事項：

1、模塊的正確安裝

a、確保模塊安裝妥當。安裝光模塊時要用力將模塊插到底，聽到“啪”的聲音或感到輕微震動，表示模塊卡鎖卡到位。光模塊卡鎖沒卡到位時，金手指和單板上連接器微接觸，鏈路有可能連通，但是在震動、碰撞等情況下，光模塊會發(fā)生瞬斷、甚至松動等故障；

b、光模塊內部有陶瓷部件，拿取光模塊時要小心，若不慎掉落或用力磕碰，該光模塊不建議再上架使用，以免后續(xù)出現(xiàn)故障；

c、往光模塊中插入光纖線時要求動作輕緩、正對著光口插入，用力過猛或斜著插入，有可能會損壞光模塊；

d、大部分光模塊都支持熱插拔，但是不推薦經(jīng)常性熱插拔，容易造成電氣損壞；

e、確認拔插光模塊動作規(guī)范：取光模塊時，不要碰到光模塊的金手指部分，以免對光模塊造成損壞；插入光模塊時，確認光模塊的拉手是貼在光模塊的光口上然后插入；拔出光模塊時，先將光纖線拔出，將拉手拉到和光口約90度位置后緩慢拔出，拔出時不能太用力或是拉手沒到位就拔出，有可能會對光模塊屏蔽罩造成損壞。

2、防止模塊光口污染

a、盡量選用優(yōu)質的光纖連接器；

b、插入光模塊的光纖跳線接頭使用前最好用高純度酒精棉進行搽拭，避免因光跳線端面污染而導致光口的交叉污染；

c、光模塊避免長時間暴露，暫不使用的光纖跳線和光模塊不使用時務必及時塞上防塵帽，以免灰塵進入光模塊而影響其性能。防塵帽不使用時儲存在防塵干凈處；

d、光纖連接器插入是水平對準光口，避免端面和套筒劃傷；

e、 光纖連接器的端面保持清潔，避免劃傷。

3、防止靜電損傷

ESD是自然界不可避免的現(xiàn)象，預防ESD從防止電荷積聚和讓電荷快速放電兩方面著手：

a、保持環(huán)境的濕度30～75％RH；

b、對光模塊操作時做靜電防護工作（如：帶靜電環(huán)或將手通過預先接觸機殼等手段釋放靜電），接觸光模塊殼體，避免接觸光模塊PIN 腳；

c、使用的相關設備采用并聯(lián)接地的公共接地點接地，保證接地路徑最短，接地回路最小，不能串聯(lián)接地，應避免采用外接電纜連接接地回路的設計方式；

d、包裝和周轉的時候，采用防靜電包裝和防靜電周轉箱/車；

e、禁止對非熱插拔的設備，進行帶電插拔的操作；

f、避免用萬用表表筆直接檢測靜電敏感的管腳。

4、長距模塊注意光飽和度

對于長距光模塊，由于其平均輸出光功率一般大于其最大輸入光功率（即光飽和度），因此請用戶使用時關注光纖使用長度，若不具備條件又需要事先調試時，請務必使用10-20dB的光信號衰減器將光纖信號強度有效衰減，以保證光模塊的實際接收光功率小于其光飽和度，否則有可能造成光模塊重要部件的損壞。

5、避免多模、單模光纖的混用

多模模塊使用多模光纖，單模模塊使用單模光纖，混用的情況下會出現(xiàn)信號丟失等故障。

6、單纖雙向模塊，避免波長搞混

單纖雙向模塊，成對使用，A設備發(fā)射波長和B設備的接收波長要一致，波長搞混情況下會出現(xiàn)Link不上等故障。

7、CWDM波長模塊，避免使用普通FP生產(chǎn)光模塊

CWDM波長光模塊，波長要求常溫±3nm，F(xiàn)P波長光模塊，波長為±20nm，波分復用器通道帶寬10nm左右，如果采用FP波長光模塊經(jīng)過波分復用后出纖功率小、導致光路不通等現(xiàn)象。

8、電壓用錯

1′9光模塊供電方式有3.3V和5V兩種，SFF SFP光模塊供電方式只有一種，為3.3V，如果電壓供錯情況下會出現(xiàn)光路不通等現(xiàn)象，電壓加高甚至把模塊燒壞。

9、電平速率用錯

TTL電平為單端輸入輸出，PECL或CML電平為差分輸入輸出，電平用錯情況下會出現(xiàn)信號丟失等故障；低速率模塊用錯到高速率上，會出現(xiàn)誤碼、視頻不通等到現(xiàn)象，高速率模塊用在低速率上，長距離會受到限制，高速率模塊接收靈敏沒有低速率靈敏度高。

三、光模塊損壞常見的判斷步驟

1．測試光功率是否在指標要求范圍之內，如果出現(xiàn)無光或者光功率小的現(xiàn)象。

處理方法：

a、檢查光功率選擇的波長和測量單位（dBm）

b、清潔光纖連接器端面，光模塊光口。

c、檢查光纖連接器端面是否發(fā)黑和劃傷，光纖連接器是否存在折斷，更換光纖連接器做互換性試驗

d、檢查光纖連接器是否存在小的彎折。

e、熱插拔光模塊可以重新插拔測試。

f、同一端口更換光模塊或者同一光模塊更換端口測試。

2．光功率正常但是鏈路無法通，檢查link 燈。