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華為擁有這些5G能力的背后需要解決非常多的技術(shù)挑戰(zhàn)

cMdW_icsmart ? 來(lái)源:芯智訊 ? 2020-01-28 14:29 ? 次閱讀

7月26日,華為正式發(fā)布了旗下首款量產(chǎn)上市的5G智能手機(jī)——Mate20 X 5G版,定價(jià)為6199元,并于當(dāng)天開售接受預(yù)約。而截至8月15日中午12點(diǎn),華為Mate 20 X 5G版的預(yù)約量已突破100萬(wàn)臺(tái)。

今天(8月16日)上午10點(diǎn),華為首款5G手機(jī)Mate 20 X 5G版正式開售。其中天貓作為Mate 20 X 5G版發(fā)售的第一陣地,僅一秒就售罄了,足見Mate 20 X 5G的受歡迎程度。

特別值得一提的是,Mate 20X 5G版是世界唯一商用搭載雙7nm 5G終端芯片模組、唯一商用支持SA/ NSA 5G雙模、首個(gè)中國(guó)5G進(jìn)網(wǎng)許可證、首個(gè)泰爾5G通信能力五星證書、首個(gè)GCF 5G能力認(rèn)證證書的手機(jī)。

華為終端手機(jī)產(chǎn)品線總裁何剛強(qiáng)調(diào),5G時(shí)代華為擁有領(lǐng)先的端到端5G研發(fā)與產(chǎn)品能力,包括5G算法、5G終端芯片、5G手機(jī)、5G CPE、5G無(wú)線設(shè)備、5G傳輸設(shè)備、5G核心網(wǎng)和5G云服務(wù)與內(nèi)容等。而華為在擁有這些5G能力的背后則需要解決非常多的技術(shù)挑戰(zhàn)。

為進(jìn)一步提高頻譜效率、克服傳播損耗等問(wèn)題,5G大規(guī)模天線基站普遍采用波束成形技術(shù)。基站要通過(guò)波束掃描找到手機(jī),然后手機(jī)和基站之間通過(guò)業(yè)務(wù)波束信號(hào)建立業(yè)務(wù)交互。這是一個(gè)很吸引人的設(shè)計(jì),當(dāng)然實(shí)現(xiàn)起來(lái)也是非常復(fù)雜的。波束使用同頻還是異頻,波束參數(shù),信號(hào)質(zhì)量、端到端性能,OTA射頻性能等看起來(lái)簡(jiǎn)單幾個(gè)問(wèn)題,其實(shí)從系統(tǒng)設(shè)計(jì)與仿真階段就要考慮進(jìn)來(lái),一個(gè)成功的系統(tǒng)設(shè)計(jì)能夠顯著降低產(chǎn)品生命周期各階段的風(fēng)險(xiǎn)。

無(wú)線測(cè)試大規(guī)模MIMO和波束成形

在大規(guī)模的MIMO系統(tǒng)中,基站天線的數(shù)量遠(yuǎn)超用戶終端的數(shù)量。因此,5G標(biāo)準(zhǔn)納入了多用戶MIMO(MU-MIMO) 技術(shù),其中基站向有源天線系統(tǒng)饋送預(yù)編碼信號(hào),然后在空間上將多路同步數(shù)據(jù)流發(fā)送給多個(gè)用戶,用戶端的每個(gè)接收器均可選擇其所需的數(shù)據(jù)流。為了實(shí)現(xiàn)該空間多路復(fù)用,gNB需要將輻射能量通過(guò)波束成形技術(shù)集中至各個(gè)接收器?;诓ㄊ尚渭夹g(shù),工程師可以實(shí)現(xiàn)MU-MIMO,以提高gNB容量并減少發(fā)射過(guò)程中的能量消耗。

圖:通過(guò)波束成形實(shí)現(xiàn)空間復(fù)用

隨著5G商業(yè)化的逐步實(shí)現(xiàn),由于管理和測(cè)試數(shù)十甚至數(shù)百個(gè)連接會(huì)增加復(fù)雜性和成本,占用較大的物理空間以及引入更高的插入損耗,許多波束成形系統(tǒng)可能會(huì)放棄使用天線連接器。目前的趨勢(shì)是使用片上天線(AoC)和封裝天線(AiP)設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)毫米波頻率下的波束成形,但這種設(shè)備沒有可用的RF測(cè)試端口,迫使業(yè)界亟需尋找可以使用OTA輻射測(cè)試方法來(lái)進(jìn)行設(shè)備特性分析的測(cè)試系統(tǒng)。

通過(guò)OTA進(jìn)行準(zhǔn)確的特性分析

在許多情況下,使用50Ω儀器進(jìn)行測(cè)試時(shí),PA輸出的行為會(huì)與PA連接到天線陣列時(shí)的行為有所不同。這會(huì)使等效全向輻射功率(EIRP)和總輻射功率(TRP)測(cè)量值產(chǎn)生誤差。在接收器端,當(dāng)接收到的信號(hào)通過(guò)帶通濾波器時(shí),接收器路徑評(píng)估并不會(huì)對(duì)天線阻抗過(guò)度敏感。但是5G AoC和AiP設(shè)備的天線會(huì)與無(wú)線電緊密耦合,導(dǎo)致無(wú)線電噪聲可能會(huì)改變天線溫度,從而影響有效全向同性靈敏度(EIS)和總接收靈敏度(TIS)。當(dāng)天線的噪聲與無(wú)線電的噪聲耦合時(shí),OTA測(cè)量可以更準(zhǔn)確地測(cè)量芯片組的實(shí)際RF性能。

遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量挑戰(zhàn)

隨著轉(zhuǎn)向使用OTA測(cè)試方法,工程師所面臨的挑戰(zhàn)是建立動(dòng)態(tài)OTA測(cè)試系統(tǒng)來(lái)準(zhǔn)確測(cè)試RF性能。因此,工程師將DUT放置在電波暗室內(nèi)受控的RF環(huán)境中,與測(cè)量系統(tǒng)呈一定距離和角度,進(jìn)行OTA特性分析和驗(yàn)證測(cè)試。

圖:天線測(cè)量區(qū)域

為避免使用大型RF暗室,許多研究人員正在研究近場(chǎng)測(cè)試,但是采樣天線的安裝位置如果過(guò)于靠近DUT,會(huì)引起諸多問(wèn)題。如果要正確分析半導(dǎo)體特性,需要做到以下幾點(diǎn):避免將DUT能量耦合至輻射近場(chǎng)的測(cè)量系統(tǒng);不僅要準(zhǔn)確采集幅度數(shù)據(jù),也要準(zhǔn)確采集相位數(shù)據(jù),以便正確進(jìn)行近遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換;評(píng)估EVM、ACLR或SEM,因?yàn)榻h(yuǎn)場(chǎng)變換最適合載波傳播測(cè)量,但結(jié)果不如高帶寬調(diào)制信號(hào)可靠。

對(duì)于波長(zhǎng)僅為幾毫米的毫米波設(shè)備,合理設(shè)計(jì)的RF暗室并不需要像sub-6 GHz設(shè)備的測(cè)試裝置那么大型。5G毫米波OTA RF 機(jī)箱可以是1m甚至更短,以滿足遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試條件。這里的主要挑戰(zhàn)包括,采樣天線的位置;DUT定位器的機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)至少具有兩個(gè)可維持參考極化方向的自由軸;機(jī)箱的屏蔽性能;能夠進(jìn)行熱循環(huán)測(cè)試,不會(huì)因環(huán)境問(wèn)題對(duì)暗室造成損害;正確分析靜區(qū)的性能,靜區(qū)是一個(gè)矩形體,其中墻壁、地板和天花板所反射 的電磁波應(yīng)低于規(guī)定的最小值。

圖:5G OTA測(cè)試系統(tǒng)

由于陣列大小隨波長(zhǎng)而發(fā)生變化,在毫米波頻率下將所有電子器件安裝在陣列中變得越來(lái)越困難。也就是說(shuō),當(dāng)元件數(shù)量相同時(shí),20 GHz用的陣列的大小是40 GHz用的陣列大小的兩倍。另外,兩個(gè)頻率下的天線陣列的輻射功率可能相同,但是40 GHz設(shè)備消耗的直流功率是20 GHz設(shè)備的四倍。這使得工程師必須設(shè)計(jì)、充分分析并測(cè)試設(shè)備,以進(jìn)行適當(dāng)?shù)臒峁芾砗徒殿~處理。而且每條傳輸路徑和每個(gè)天線元件可以承受的功率電平也有限制。

就接收器路徑而言,難點(diǎn)在于設(shè)計(jì)低噪音系統(tǒng)并分析天線增益對(duì)于接收器噪聲、溫度或G/T的影響。這增加了接收鏈路在設(shè)計(jì)和測(cè)試方面的負(fù)擔(dān)。此外,天線與LNA之間的損耗會(huì)直接降低接收器靈敏度。

圖:每個(gè)天線陣列元件的平均接收功率

然而暗室內(nèi)的材料,例如RF吸收泡沫和機(jī)械定位器部件,可能會(huì)由于頻繁的溫度和濕度波動(dòng)而受到損壞。OTA特性分析的一部分難點(diǎn)在于進(jìn)行有效的熱測(cè)試,以最小化熱質(zhì)量并避免損壞暗室或干擾RF測(cè)量。

空間掃描測(cè)試挑戰(zhàn)

3GPP標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的OTA測(cè)試程序可幫助工程師根據(jù)波束中心、波束寬度、EIRP、TRP和靈敏度確定新的波束成形性能。

圖:OTA TX和RX測(cè)試程序

OTA校準(zhǔn)程序

首先是使用增益已知的饋送天線和基準(zhǔn)天線來(lái)校準(zhǔn)測(cè)量值。校準(zhǔn)過(guò)程需要測(cè)量整個(gè)發(fā)射和接收路徑的復(fù)合損耗。這包括所有天線和放大器增益,以及信號(hào)通過(guò)空中接口、電纜、開關(guān)和組合器等的損耗。工程師針對(duì)每個(gè)測(cè)量路徑和每個(gè)極化重復(fù)校準(zhǔn)測(cè)量。

3D天線方向圖

系統(tǒng)校準(zhǔn)后,工程師將調(diào)制的5G測(cè)試信號(hào)饋送到DUT,并使用如下圖所示的網(wǎng)格分別對(duì)每個(gè)正交極化執(zhí)行空間掃描。之后測(cè)量系統(tǒng)返回DUT的3D天線方向圖和發(fā)射波束峰值方向。然后工程師驅(qū)動(dòng)DUT,使其在后續(xù)測(cè)試期間保持鎖定在該特定方向。

輻射功率和調(diào)制測(cè)試

工程師不僅需要通過(guò)測(cè)量特定方向的EIRP來(lái)分析設(shè)備的特性,而且其測(cè)試解決方案還必須整合每個(gè)極化的網(wǎng)格上每個(gè)點(diǎn)處測(cè)量得到的功率,以便計(jì)算TRP。 除獲得這些結(jié)果所面臨的技術(shù)挑戰(zhàn)外,EVM、ACLR和頻譜發(fā)射等傳統(tǒng)測(cè)量現(xiàn)在也與空間密切相關(guān)。測(cè)試區(qū)域(靜區(qū))中的反射信號(hào)必須進(jìn)行衰減,直至測(cè)量不確定性(MU)維持在預(yù)設(shè)值以下。例如,3GPP關(guān)于測(cè)試方法5的研究指出, 為了測(cè)量EVM,工程師必須: 使用預(yù)定義的網(wǎng)格,通過(guò)3D EIRP掃描找到TX波束峰值方向;在測(cè)試期間將波束鎖定在該方向上;測(cè)量EVM以獲得調(diào)制信號(hào)的Φ和θ極化 。

圖:OTA空間掃描網(wǎng)格

接收器測(cè)試

在測(cè)試完整的5G無(wú)線電時(shí),測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)下行信號(hào)來(lái)與DUT建立連接。測(cè)試系統(tǒng)必須確定每個(gè)極化的功率電平(吞吐量超過(guò)指定參考測(cè)量信道的要求時(shí)的θ和?值)。然后系統(tǒng)返回接收波束峰值方向,此方向的EIS最小?;谶@一接收波束峰值方向,可分析接收器的動(dòng)態(tài)范圍及其在θ和?極化下抑制通道內(nèi)分塊信號(hào)的能力。這便提出了一個(gè)挑戰(zhàn):同步生成5G信號(hào)來(lái)連接DUT和寬帶干擾源。

細(xì)空間網(wǎng)格和測(cè)試時(shí)間挑戰(zhàn)

當(dāng)工程師使用3GPP指定的網(wǎng)格進(jìn)行OTA分析和驗(yàn)證測(cè)試時(shí),他們可能會(huì)發(fā)現(xiàn)其測(cè)量精度需要提高。這是因?yàn)椴ㄊ逯捣较蚩赡軣o(wú)法與空間中的采樣點(diǎn)完全對(duì)齊,從而產(chǎn)生測(cè)量誤差。

圖:粗采樣網(wǎng)格引起的波束峰值測(cè)量誤差

毫米波測(cè)量 - 不確定性挑戰(zhàn)

采用OTA測(cè)試解決方案的工程師應(yīng)綜合考慮這些因素,才能為所有測(cè)量結(jié)果計(jì)算誤差范圍。這些不確定性來(lái)源可分為系統(tǒng)誤差、校準(zhǔn)測(cè)量誤差、DUT測(cè)量誤差三大類。而減小OTA測(cè)量不確定性的更深一層解決方案是,將不確定性來(lái)源分離到系統(tǒng)子組件中:測(cè)量設(shè)備、暗室、定位器、測(cè)量和基準(zhǔn)天線。

測(cè)量設(shè)備挑戰(zhàn)

在校準(zhǔn)毫米波設(shè)備OTA測(cè)試系統(tǒng)的總路徑損耗時(shí),工程師必須準(zhǔn)確地測(cè)定寬帶RF功率。在毫米波頻率下校準(zhǔn)功率測(cè)量值首先需要使用多個(gè)二極管傳感器來(lái)覆蓋所需的頻率范圍,但這項(xiàng)技術(shù)正在轉(zhuǎn)向基于熱電偶技術(shù)的寬帶功率傳感器。工程師可以校準(zhǔn)從24 GHz到52 GHz的5G毫米波頻段的寬帶功率。此外,使用單一連接可減少使用多個(gè)傳感器可能產(chǎn)生的誤差。

當(dāng)使用矢量信號(hào)發(fā)生器和分析儀切換到連續(xù)波和調(diào)制波形測(cè)量時(shí),由于儀器的插入損耗、輸出和輸入阻抗匹配以及平坦度和幅值精度規(guī)范,工程師必須考慮信號(hào)路徑上的總體不確定性。此外還需要考慮在低信噪比測(cè)試場(chǎng)景中,噪聲作為系統(tǒng)誤差源產(chǎn)生的影響。

射頻暗室測(cè)量挑戰(zhàn)

頻率和空間上的功率和相位變化是由測(cè)量天線處直接波和反射波矢量迭加引起的。

工程師在創(chuàng)建靜區(qū)并測(cè)量其性能時(shí),面臨的一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)是將基準(zhǔn)天線放置在各個(gè)參考點(diǎn)和方向的情況下進(jìn)行測(cè)量。由于存在離軸指向,因此他們通常需要校正測(cè)量距離和天線方向性方面的差異。

圖:分析NR毫米波靜區(qū)的性能

定位測(cè)量挑戰(zhàn)

通常由于定位器的機(jī)械間隙或不確定性,或者夾具松動(dòng)導(dǎo)致DUT安裝不一致,也會(huì)出現(xiàn)角度偏差的情況。嚴(yán)謹(jǐn)?shù)腄UT定位器設(shè)計(jì)還可以避免由于相位中心偏離旋轉(zhuǎn)軸而引起的誤差。

圖:DUT相位中心偏離旋轉(zhuǎn)軸

驗(yàn)證基準(zhǔn)天線和測(cè)量天線是否對(duì)齊也很重要,這可以避免降低基準(zhǔn)天線對(duì)測(cè)量天線的增益,特別是因?yàn)橄到y(tǒng)校準(zhǔn)需要使用最大天線增益來(lái)計(jì)算路徑損耗。

圖:天線指向不一致

天線測(cè)量挑戰(zhàn)

暗室內(nèi)的天線對(duì)與其自身極化進(jìn)行交叉極化的入射場(chǎng)分量具有有限的隔離作用。即垂直極化天線接受來(lái)自水平極化信號(hào)的部分功率,反之亦然。這會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,具體取決于交叉極化隔離度。在最壞情況下,天線會(huì)發(fā)生明顯的交叉極化泄漏,垂直和水平方向上均出現(xiàn)入射波形,并且泄漏分量完全同相。

圖:交叉極化鑒別率

工程師還必須處理來(lái)自基準(zhǔn)天線饋源電纜的另一個(gè)誤差源,該來(lái)源僅出現(xiàn)在校準(zhǔn)階段,并且在測(cè)試DUT時(shí)可能會(huì)消失或改變。布線、彎曲和旋轉(zhuǎn)接頭也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

程序測(cè)量挑戰(zhàn)

如上所述,校準(zhǔn)階段和DUT測(cè)量階段之間的插入損耗變化也會(huì)引入了不確定性。也就是說(shuō),校準(zhǔn)天線可能可以更好地匹配50 Ω儀器,并且布線也不同于DUT。此外,工程師可能不知道某些DUT中天線陣列的確切位置,也會(huì)引入不確定性,因?yàn)闇y(cè)試夾具上的天線位置與預(yù)期不同。

圖 :“黑盒”測(cè)量的距離不確定性

對(duì)于需要進(jìn)行RF-RF或IF-RF OTA性能分析或AiP器件或天線模塊設(shè)計(jì)驗(yàn)證的毫米波半導(dǎo)體工程師而言,NI毫米波OTA參考設(shè)計(jì)使其能夠準(zhǔn)確測(cè)量DUT在所有傳輸方向上的完整輻射場(chǎng)。

通過(guò)硬件定時(shí)的運(yùn)動(dòng)控制,加快測(cè)試速度

NI OTA參考解決方案實(shí)現(xiàn)了基于硬件的實(shí)時(shí)運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng),可以更加快速地驅(qū)動(dòng)DUT定位器,更加迅速地掃描空間網(wǎng)格,同時(shí)觸發(fā)5G RF快速測(cè)量。這樣可縮短測(cè)試時(shí)間,提高可重復(fù)性,并減少測(cè)量?jī)x器和運(yùn)動(dòng)組件之間的非確定性關(guān)系。

NI毫米波OTA參考解決方案將實(shí)時(shí)運(yùn)動(dòng)控制與毫米波VST的寬帶功能、高隔離度電波暗室、DUT 定位器以及RF透明熱機(jī)箱(如果需要)集成在一起,可用于分析DUT的溫度特性。

圖:NI毫米波OTA參考解決方案簡(jiǎn)圖

快速執(zhí)行后,測(cè)試定序器會(huì)為工程師提供測(cè)量結(jié)果,如EIRP、TRP、EVM、半功率帶寬等。此外,工程師還可以利用各種可視化工具,例如一維切片分析、一維極坐標(biāo)圖、三維天線方向圖、熱圖和最佳波束索引

毫米波OTA參考解決方案的圖形化用戶界面提供了一種方法,能讓客戶使用許多不同測(cè)量參數(shù)、掃描參數(shù)和連接設(shè)置來(lái)配置執(zhí)行。它還可以執(zhí)行后處理算法,并以易于理解的報(bào)告形式顯示測(cè)量結(jié)果。

RF暗室及其靜區(qū)、校準(zhǔn)天線和參考定位器在測(cè)試解決方案中都起著至關(guān)重要的作用。NI的這些元件均可提供出色的RF性能,快速平穩(wěn)的運(yùn)動(dòng),以及可靠且可重復(fù)的定位精度,而不會(huì)影響針對(duì)不同類型的DUT的定位靈活性。

過(guò)渡至批量5G設(shè)備生產(chǎn)

無(wú)論是研發(fā)階段還是生產(chǎn)環(huán)節(jié),5G新空口設(shè)備的寬前端模塊、PA和其他RFIC在進(jìn)行特性分析和驗(yàn)證時(shí)始終面臨著一些挑戰(zhàn)。每當(dāng)談及OTA測(cè)試解決方案,就不會(huì)不提到RF暗室,RF暗室已然成為OTA測(cè)試解決方案的必要組件。對(duì)于設(shè)計(jì)分析、驗(yàn)證、合規(guī)性和一致性測(cè)試,適當(dāng)?shù)腞F暗室可提供安靜的RF環(huán)境,確保設(shè)計(jì)滿足所有性能和法規(guī)要求,并具有足夠的裕量和可重復(fù)性。然而對(duì)于批量生產(chǎn)來(lái)說(shuō),傳統(tǒng)的微波暗室會(huì)占用大量的生產(chǎn)空間,并增加資本支出。

為解決上述問(wèn)題,市場(chǎng)上出現(xiàn)了具有 OTA 功能的 IC 測(cè)試插座(帶有集成天線的小型RF外殼), 從而將半導(dǎo)體 OTA 測(cè)試功能小型化(如下圖)。盡管測(cè)量天線距離 DUT IC 只有幾厘米,但是對(duì)于每個(gè)天線元件的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量來(lái)說(shuō),這個(gè)距離已經(jīng)足夠。不過(guò),小型測(cè)試插座存在反射問(wèn)題,反射會(huì)妨礙整個(gè)天線陣列的波束成形測(cè)量,這種測(cè)量的遠(yuǎn)場(chǎng)距離一般是 10 厘米甚至更遠(yuǎn)。因此,工程師需要特定的DUT測(cè)試模式,使其能夠單獨(dú)訪問(wèn)每個(gè)元件,并能夠創(chuàng)建可列表的測(cè)試序列,以便減少軟件與DUT和測(cè)試儀器的交互作用,從而提高測(cè)試執(zhí)行速度。

圖:用于多站點(diǎn)測(cè)試的RFIC OTA測(cè)試插座

即使采用小型RF外殼,工程師也面臨著OTA鏈路預(yù)算有限而帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn)。例如,在28 GHz 時(shí),DUT和天線之間僅僅10 cm的距離也會(huì)導(dǎo)致自由空間路徑損耗超過(guò)30 dB(包括發(fā)射和接收天線的增益),而如果使用同等長(zhǎng)度的同軸電纜,損耗僅為1 dB左右。對(duì)于接收機(jī)IP3測(cè)量,OTA方法要求測(cè)試儀器在發(fā)射天線處生成高出30 dB的輸出功率,才能在DUT處獲得同等水平的接收功率。這對(duì)于基于RF暗室的OTA配置來(lái)說(shuō)可能是一個(gè)挑戰(zhàn),而對(duì)于位于1.5厘米遠(yuǎn)的OTA插座式解決方案而言,所需的傳輸功率要低得多。

另一種OTA測(cè)試方法是生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)采用更長(zhǎng)的RF機(jī)箱這里的測(cè)試挑戰(zhàn)在于識(shí)別芯片和封裝基板之間的連接是否斷開或很弱,同時(shí)還要測(cè)量封裝內(nèi)天線的質(zhì)量。

新的測(cè)試平臺(tái)還必須能夠應(yīng)對(duì)目前5G設(shè)備對(duì)測(cè)試需求所提出的挑戰(zhàn),例盡管眾多制造商仍在繼續(xù)研究如何充分測(cè)試24至52GHz頻段內(nèi)的設(shè)備,但研究人員也在探索WLAN IEEE 802.11所定義的57至66GHz頻段內(nèi)的協(xié)議共存,以期不斷突破頻率和互操作性的局限性。

如上文所述,NI用于特性分析和驗(yàn)證任務(wù)的模塊化測(cè)試平臺(tái)可完全滿足生產(chǎn)車間的測(cè)試需求,這要?dú)w功于其較小的占地面積、較低的成本以及自動(dòng)化設(shè)計(jì)。該解決方案結(jié)合了數(shù)十個(gè)雙向RF端口,可直接用于5G測(cè)試,并與高端臺(tái)式儀器的寬帶性能相匹配,同時(shí)每分鐘可以測(cè)試更多設(shè)備。

對(duì)于外包半導(dǎo)體組裝和測(cè)試公司而言,設(shè)計(jì)5G可擴(kuò)展性并預(yù)測(cè)新生半導(dǎo)體技術(shù)變得至關(guān)重要。將測(cè)試技術(shù)更快地推向市場(chǎng)的最有效方式是設(shè)計(jì)一種模塊化測(cè)試架構(gòu),通過(guò)內(nèi)置的靈活性來(lái)優(yōu)化初始測(cè)試功能或添加新測(cè)試功能,以滿足未來(lái)需求,避免系統(tǒng)快速被淘汰。

NI將所有這些功能集成到單平臺(tái)測(cè)試解決方案中,不僅可直接用于量產(chǎn)環(huán)境,而且還能夠以經(jīng)濟(jì)高效的方式快速、可靠地進(jìn)行5G測(cè)試,同時(shí)最大限度地降低費(fèi)用和占地面積要求,從而讓生產(chǎn)投資回報(bào)最大化。雖然專為實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的大型毫米波測(cè)試儀器在尺寸和價(jià)格上不斷增大,但NI將PXI 毫米波VST的強(qiáng)大功能和高性價(jià)比直接納入到適用于量產(chǎn)的ATE中。

圖:基于半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的毫米波生產(chǎn)解決方案

如今開發(fā)周期正不斷縮短,靈活且可擴(kuò)展的測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于 OTA 測(cè)試來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。為保證5G商用的快速落地,NI 將繼續(xù)與行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)保持密切合作,采用平臺(tái)化方法,開發(fā)高度模塊化的RF儀器和軟件定義的測(cè)試策略和解決方案。

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原文標(biāo)題:首款5G手機(jī)熱銷的背后:需要攻破這些5G難關(guān)!

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