有一種“篤定”叫我有操作手冊(cè)。遇見(jiàn)對(duì)的,就讓自己的一顆心,從此安定下來(lái)!
MPI TS200操作手冊(cè)
第一步:
準(zhǔn)備本次測(cè)試的 DUT 和相應(yīng)的探針與電纜,將相應(yīng)的探針擺放完畢,佩戴相應(yīng)的手套、防靜電手環(huán)等
第二步:
打開(kāi) CCD 開(kāi)關(guān)、光源開(kāi)關(guān)并調(diào)節(jié)光強(qiáng)度
第三步:
打開(kāi)真空氣泵的開(kāi)關(guān)
第四步:
將拉桿抬起防止誤操作而損傷探針或待測(cè)件
第五步:
拉出載物臺(tái)后并放置待測(cè)器件,按照 DUT 大小打開(kāi)相應(yīng)尺寸的真空吸附開(kāi)關(guān)。
第六步:
將機(jī)臺(tái)艙門關(guān)閉,移動(dòng) chuck,將待測(cè)物移動(dòng)至顯微鏡光斑正下方,方便觀測(cè)。
第七步:
通過(guò)chuck上X、Y、Z、Theta四個(gè)方向的千分尺可再次精準(zhǔn)調(diào)節(jié)DUT的位置。
第八步:
由于每一片芯片的反光度不同,調(diào)節(jié)光源的亮度至合適為止。
第九步:
通過(guò)旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)顯微鏡至小倍率確定待測(cè)芯片位置,然后切換至大倍率進(jìn)行扎針測(cè)試。
第十步:
探針臺(tái)拉桿緩慢放下的同時(shí)觀察探針是否與待測(cè)件接觸,如果即將接觸請(qǐng)停止,升高探針座Z軸旋鈕,直到拉桿全部放下為止前探針頭部都不要和DUT接觸。
第十一步:
旋轉(zhuǎn)各個(gè)探針座的 X、Y、Z 來(lái)扎 PAD 實(shí)現(xiàn)測(cè)試。
第十二步:
測(cè)試結(jié)束后,將探針臺(tái)拉桿抬起、探針回到初始化位置,防止錯(cuò)誤操作。
第十三步:
更換卡爾文探針流程如下,將背面螺絲松開(kāi)后更換,更換完畢后鎖緊螺絲。
關(guān)于探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)更多產(chǎn)品信息和解決方案,請(qǐng)聯(lián)系深圳市易捷測(cè)試技術(shù)限公司
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