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7nm節(jié)點(diǎn)后光刻技術(shù)從DUV轉(zhuǎn)至EUV,設(shè)備價(jià)值劇增

SwM2_ChinaAET ? 來源:lq ? 2019-10-01 17:12 ? 次閱讀

過去幾十年,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)在摩爾定律的指導(dǎo)下獲得了高速的發(fā)展,為了滿足摩爾定律“同等面積芯片集成的晶體管數(shù)每18個(gè)月翻一番”的要求,晶圓廠一直在推動(dòng)工藝制程的更新。但隨著節(jié)點(diǎn)的演進(jìn),產(chǎn)業(yè)界普遍認(rèn)為傳統(tǒng)的光刻將會在65nm或者45nm的時(shí)候遭受到障礙,為此他們尋找新的解決辦法,EUV就是他們的主要選擇。

所謂EUV,是指波長為13.5nm的光。相比于現(xiàn)在主流光刻機(jī)用的193nm光源,新的EUV光源能給硅片刻下更小的溝道,從而能實(shí)現(xiàn)在芯片上集成更多的晶體管,進(jìn)而提高芯片性能,繼續(xù)延續(xù)摩爾定律。

芯片行業(yè)從20世紀(jì)90年代開始就考慮使用13.5nm的EUV光刻(紫外線波長范圍是10~400nm)用以取代現(xiàn)在的193nm。EUV本身也有局限,比如容易被空氣和鏡片材料吸收、生成高強(qiáng)度的EUV也很困難。業(yè)內(nèi)共識是,EUV商用的話光源功率至少250瓦,Intel還曾說,他們需要的是至少1000瓦。除了光刻機(jī)本身的不足之外,對于EUV光刻機(jī)系統(tǒng)來說,光罩、薄膜等問題也有待解決。

近兩年內(nèi)來看(2019-2020 年),7nm節(jié)點(diǎn)后光刻技術(shù)從 DUV 轉(zhuǎn)至 EUV,設(shè)備價(jià)值劇增。當(dāng)前使用的沉浸式光刻技術(shù)波長 193nm(DUV,深紫外光),而當(dāng)進(jìn)行 7nm 以下節(jié)點(diǎn)制造時(shí)就需采用波長 13nm 的 EUV 光刻機(jī)。根據(jù) ASML 公布的路線圖,EUV 光刻機(jī)首先于2018年在7nm及以下邏輯芯片開始應(yīng)用。在EUV設(shè)備制造過程中,由于EUV波長僅13nm,沒有合適介質(zhì)進(jìn)行精準(zhǔn)折射,因而所有光路設(shè)計(jì)均采用反射的形式,設(shè)計(jì)更加復(fù)雜,對精度要求極高,制造難度極大。全球只有 ASML 生產(chǎn)的 NXE3400B 是唯一支持 7nm 及 5nm 的EUV 光刻機(jī),單臺機(jī)器價(jià)值約 1.17 億美元。

臺積電擁有 EUV 設(shè)備最多,為 ASML 最大客戶,三星次之。EUV 設(shè)備作為 7nm 以下制程必備工藝設(shè)備,對廠商最新制程量產(chǎn)具有至關(guān)重要的作用。由于對精度要求極高,臺積電與 ASML 在研發(fā)上有相關(guān)技術(shù)配合。臺積電與三星是 ASML 前兩大訂購客戶。對于中國大陸廠商來說,并不存在“瓦森納協(xié)議”限制向中國出口最先進(jìn) EUV 光刻機(jī)的情況。中芯國際目前已從 ASML 預(yù)定 1 臺 EUV 光刻機(jī),這對于中芯國際未來發(fā)展 7nm 以下技術(shù)具有積極意義。英特爾 7nm 采用 EUV 雙重曝光技術(shù)已有提前布局,仍有望按原定計(jì)劃量產(chǎn)。

在今年的5月份,三星就發(fā)布了基于7nm EUV工藝的下一代手機(jī)處理器Exynos 9825。三星稱,通過7nm EUV工藝,新處理器的生產(chǎn)過程可以減少 20% 的光罩流程,使整個(gè)制造過程更簡單,還能節(jié)省時(shí)間和金錢,另外還達(dá)成40%面積縮小、以及20%性能增加與55%的功耗降低目標(biāo)。臺積電也在6月份宣布批量生產(chǎn)7nmN7+工藝,這是臺積電第一次、也是行業(yè)第一次量產(chǎn)EUV極紫外光刻技術(shù)。并表明這種新工藝的產(chǎn)量已經(jīng)可以達(dá)到原來7nm工藝的水平了。

在EUV之外,7nm 節(jié)點(diǎn)還有另外一種技術(shù)路徑,即采用 193nm 波長+SAQP 四重圖案化達(dá)到所需分辨率。下圖黃線中紅點(diǎn)處即代表采用193i 浸沒式光刻機(jī)+SAQP四重圖案技術(shù),對應(yīng)英特爾所選擇的技術(shù)路線;7nm在藍(lán)線中藍(lán)色區(qū)域代表采用EUV光刻機(jī)單次圖案化,代表臺積電和三星所選擇的技術(shù)路線。在之后的 5nm 節(jié)點(diǎn),193i 光刻機(jī)技術(shù)難度更大,采用 EUV 雙重圖案化是較為合理的選擇。

從成本角度考量,193i 多重圖案化在某些場景仍然是最為經(jīng)濟(jì)的選擇。根據(jù)東京電子測算的不同曝光工藝標(biāo)準(zhǔn)化晶圓成本,EUV 單次曝光的成本是193i(DUV)單次曝光的 4倍,而 193i 四重圖案曝光 SAQP 是 3 倍,EUV 單次曝光技術(shù)的晶圓成本高于自對準(zhǔn)四圖案曝光(193i SAQP)。采用 193i SAQP 仍然具有成本優(yōu)勢。

盡管 193i更為經(jīng)濟(jì),但EUV 仍是未來更先進(jìn)制程不可或缺的工具。英特爾在 Fab42 工廠已有布局 EUV,計(jì)劃用于 7nm 及以下節(jié)點(diǎn),由于英特爾 7nm 節(jié)點(diǎn)不再面臨 SAQP 四重曝光技術(shù)難題,而是EUV 雙重曝光,有望重回正軌按原定計(jì)劃 2020 年量產(chǎn)。

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原文標(biāo)題:【AET原創(chuàng)】EUV是7nm節(jié)點(diǎn)之后的必然趨勢

文章出處:【微信號:ChinaAET,微信公眾號:電子技術(shù)應(yīng)用ChinaAET】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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