模擬IP驗(yàn)證及模擬環(huán)境知識(shí)簡介

通過定義最佳設(shè)計(jì)余量，遵循嚴(yán)格的驗(yàn)證程序，并遵守常識(shí)指南，可以避免模擬電路中的大多數(shù)錯(cuò)誤。尋找正確的權(quán)衡是一個(gè)隨著技術(shù)和市場優(yōu)先事項(xiàng)而變化的移動(dòng)目標(biāo)。然而，先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的掩模成本增加使得徹底驗(yàn)證比以往更加必要。在這篇簡短的論文中，我們描述了飛思卡爾半導(dǎo)體汽車微控制器部門為完全驗(yàn)證模擬IP而采取的步驟。

KISS原則

保持小而簡單。驗(yàn)證計(jì)劃（如設(shè)計(jì)）在簡單的情況下有更好的工作機(jī)會(huì)。

包括足以完全驗(yàn)證IP的所有必要模擬，而不會(huì)陷入過于復(fù)雜或過于簡單的情況。

一個(gè)好的驗(yàn)證可交付成果是一個(gè)文檔（驗(yàn)證計(jì)劃），它包含完全模擬IP所需的每個(gè)電路測試平臺(tái)的鏈接，以及解釋模擬正在完成或試圖驗(yàn)證的每個(gè)鏈接的描述。

仔細(xì)選擇您的驗(yàn)證簽名規(guī)范

每個(gè)數(shù)據(jù)表（DS）中的行/規(guī)范應(yīng)至少在模擬測試平臺(tái)中解決。

在可能無法使用DS的早期設(shè)計(jì)階段，可以使用具有暫定規(guī)格的初步建筑文檔。

每個(gè)電氣規(guī)范都將通過CPK達(dá)到生產(chǎn)限制通過PASS/FAIL檢查的值（對于6 sigma設(shè)計(jì)規(guī)范，CPK≥1.67）。

不要將PASS/FAIL應(yīng)用于“很高興”的規(guī)格。它將避免過度設(shè)計(jì)。

如果無法直接計(jì)算規(guī)格的CPK （例如，ADC ENOB），CPK應(yīng)來自所有貢獻(xiàn)參數(shù)。

DS中的電氣規(guī)范必須在驗(yàn)證文檔中作為模擬/表征/測試進(jìn)行適當(dāng)標(biāo)記，并與DS匹配。

盡可能模擬完整的“真實(shí)”電路

使用與僅使用技術(shù)庫中的組件發(fā)送到布局（模型或副本）相同的電路。理想組件必須保留在IP塊之外。

每次我們創(chuàng)建電路副本或使用模型存在復(fù)制可能演變不同并導(dǎo)致錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)：

例如，如果調(diào)節(jié)器的驅(qū)動(dòng)器位于打擊墊中，請使用打擊墊本身進(jìn)行模擬，以便每次打擊墊更改，模擬將考慮這些變化。

當(dāng)模型o使用抽象，確保它們有良好的文檔記錄并理解它們的局限性。

確保正確理解IP和IP/模型之間的接口，并與其他塊所有者保持良好的通信，以便更改

模擬中可能不會(huì)采用接口塊的更改并導(dǎo)致錯(cuò)誤。

永遠(yuǎn)不要在模擬中設(shè)置初始條件，除非通過瞬態(tài)分析證明這些條件足夠確定最慢時(shí)間常數(shù)的時(shí)間，或通過OP分析。

模擬每種操作模式

包括每種操作模式：正常工作模式，低功耗模式，ADC曝光模式，測試模式，自測模式等。

墨菲定律在這里工作：如果你不驗(yàn)證它，它將無法工作。

僅對壓力測試和其他基于可靠性的模擬運(yùn)行典型的功能模擬是可以接受的。

模擬每個(gè)上電狀態(tài)并檢查上電電流

包括每個(gè)電源序列和快/慢速斜率DS。

檢查您的電源是否能夠提供足夠的啟動(dòng)電流來為所有電容器充電。

檢查峰值電流是否會(huì)導(dǎo)致電路出現(xiàn)電遷移。

應(yīng)始終由全球?qū)＜覉F(tuán)隊(duì)和您的經(jīng)理記錄，審核并簽署這些指南的例外情況。