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電子發(fā)燒友網(wǎng)>連接器>高頻數(shù)據(jù)線的TDR測試過程原理解析

高頻數(shù)據(jù)線的TDR測試過程原理解析

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`這是一款本公司開發(fā)的一款A(yù)SIC專用OPPO閃充數(shù)據(jù)線方案。英銳恩現(xiàn)提供支持VOOC閃充技術(shù)的OPPO R7、OPPO R7 Plus、OPPO R7s等手機數(shù)據(jù)線;OPPO快充數(shù)據(jù)線碼片
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拿到樣品和相關(guān)數(shù)據(jù)圖,從原先的4個芯片發(fā)展到2個芯片,到最終一顆集成芯片解決所有問題。11.4日凌晨3點,我們拿到6.1版本的測試版下載安裝。該版本在韓國測試過程中,中國產(chǎn)的多個方案全部不能再
2012-10-27 19:08:26

iPhone5數(shù)據(jù)線破解

iphone5數(shù)據(jù)線芯片破解無BUG 版本終于完成并拿到樣品和相關(guān)數(shù)據(jù)圖,從原先的4個芯片發(fā)展到2個芯片,到最終一顆集成芯片解決所有問題。 11.4日凌晨3點,我們拿到6.1版本的測試版下載安裝。該版本在
2012-11-10 10:19:55

iphone5數(shù)據(jù)線芯片

的外圍配件上大賺一把。可是誰也沒想到,iPhone5數(shù)據(jù)線內(nèi)藏芯片,很難被破解。一開始,山寨廠商們一頭霧水,只是簡單的將原裝數(shù)據(jù)線拆開,發(fā)現(xiàn)藏有4個芯片,且很難找到相關(guān)授權(quán)芯片。直到10月20日,我司
2012-11-16 17:36:05

iphone數(shù)據(jù)線芯片破解

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請教用數(shù)字模擬電路(非單片機)設(shè)計一個能檢測數(shù)據(jù)線錯位的電路?

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請問SRAM等長是數(shù)據(jù)線和地址一起做嗎?

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請問USB數(shù)據(jù)線里面的4條

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通用手機數(shù)據(jù)線電路

  通過對西門子、三星、阿爾卡特、聯(lián)想等多款機型的數(shù)據(jù)線實物及其原理圖的剖析和研究,發(fā)現(xiàn)市面上大多數(shù)機型的數(shù)據(jù)線原理大同小異,只是接口形狀和定義不同而已。不少機型的數(shù)據(jù)線完全可以自制,只要
2012-01-04 16:37:41

通用手機數(shù)據(jù)線的制作

通用手機數(shù)據(jù)線的制作
2012-08-20 19:36:57

高價收購蘋果數(shù)據(jù)線

高價收購蘋果數(shù)據(jù)線高價回收全新蘋果數(shù)據(jù)線,大量收購蘋果數(shù)據(jù)線。深圳帝歐電子專業(yè)多年回收ic電子料,回收手機配件。帝歐趙生***QQ1816233102/764029970郵箱
2021-07-15 19:39:33

動態(tài)模型在軟件系統(tǒng)測試過程中的應(yīng)用研究

系統(tǒng)測試是軟件開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié),系統(tǒng)測試過程的動態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為,做出正確的判斷和決策;相對于已有的軟件測試模型,通過對錯誤發(fā)現(xiàn)效率的
2009-07-16 11:58:558

#硬聲創(chuàng)作季 diy小燈,用廢舊數(shù)據(jù)線#電子制作

數(shù)據(jù)線DIY
jf_46672626發(fā)布于 2022-08-08 19:45:12

411 蘋果數(shù)據(jù)線的秘密

數(shù)據(jù)線手機通信蘋果周邊
車同軌,書同文,行同倫發(fā)布于 2022-08-10 08:50:10

454 數(shù)據(jù)線彈簧

數(shù)據(jù)線DIY
車同軌,書同文,行同倫發(fā)布于 2022-08-10 12:11:50

數(shù)據(jù)線制程#

數(shù)據(jù)線DIY
Hello,World!發(fā)布于 2022-09-27 19:50:27

TDR原理

TDR原理 TDR測試方法中,沿信號通路傳輸高速信號邊沿,并觀察其反射信號。反射能夠說明信號
2010-03-17 08:44:292673

TDR測試過程靜電危害及其預(yù)防

文章簡要介紹靜電產(chǎn)生原理及其危害,詳細分析TDR儀器主體結(jié)構(gòu)及測試過程靜電危害,針對靜電產(chǎn)生環(huán)節(jié)采取預(yù)防措施,并初步取得成效。
2011-12-16 11:24:432930

工業(yè)軟件現(xiàn)場測試過程及其測試數(shù)據(jù)生成方法

在工業(yè)軟件的用戶生產(chǎn)現(xiàn)場測試中,可能由于操作風險、用戶生產(chǎn)限制等約束而導(dǎo)致測試不充分,針對實踐中的難點提出新的現(xiàn)場測試過程及其測試數(shù)據(jù)生成方法。定義了測試拆分子集及相關(guān)屬性概念,根據(jù)現(xiàn)場因素
2017-11-30 10:08:530

壓力傳感器測試過程的可靠性概念概述[圖]

根據(jù)壓力傳感器的實際測試過程中的各個環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響,獲取壓力傳感器真實性能輸出數(shù)據(jù)的因素,采用可靠性的分析方法對其進行分析;提示了測試過程中影響傳感器輸出的規(guī)律,減小傳感器因在測試過程中產(chǎn)生的誤差;并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路,為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。
2018-01-18 11:21:593467

影響TDR測試精度的原因有哪些?

TDR測試目前主要使用于電池電路板廠的PCB印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試。
2018-10-09 11:21:226367

鋰離子電池測試過程的誤差分析

部分動力電池企業(yè)將電池送外檢測,不同結(jié)構(gòu)給出的結(jié)果往往也存在差異,更別提測試過程出現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)波動等異常。
2019-12-02 17:19:265626

什么是TDR?TDR測試原理分析

TDR產(chǎn)生一個階躍信號到待測器件中,會產(chǎn)生入射波,入射波經(jīng)過時延TD之后在待測器件中遇到阻抗不連續(xù)的地方,又會產(chǎn)生發(fā)射波,反射波將會疊加在入射波上,再經(jīng)過時延TD到達TDR的輸出端。
2021-04-12 10:49:5418704

手動撕破強度測試測試過程的詳細解析

手動撕破強度測試儀詳細介紹-上海程斯 測試過程 試樣用儀器所提供的切刀切成如 British, APPITA SCAN 方法為 50 x 62mm,實際撕裂長度為 43mm(比原始切口 62mm
2021-06-18 11:50:05673

氣密性測試過程中為什么會出現(xiàn)負的泄漏值

在進行氣密性測試的時候測試過程中有時候會出現(xiàn)負的泄漏值,為什么會出現(xiàn)負的泄漏值呢?在了解這個問題之前,我們首先需要知道的是檢測過程中的測試原理,是在產(chǎn)品腔體內(nèi)充入一定壓力的氣體,到達設(shè)定的壓力值后再斷開氣體供給
2022-04-08 11:38:274051

滲透測試過程中所使用的抓包方法

本篇只是簡單分享平常筆者滲透測試過程中所使用的抓包方法,后面會繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法,比較適合沒理解過這方面的新手作參考。
2023-02-01 15:41:51990

USB數(shù)據(jù)線測試標準

USB數(shù)據(jù)線檢測標準有那些?USB數(shù)據(jù)線UL62368-1安全報告 USB數(shù)據(jù)線是否合格,是由質(zhì)檢部門嚴格按規(guī)范檢測合格才可以出貨的,對于USB數(shù)據(jù)線檢測也是有行業(yè)標準的,一般從機械性能、老化測試
2023-04-17 10:40:4316182

迪賽康的TDR手持探頭測試應(yīng)用方案

TDR手持探頭主要用于阻抗測試,可以測量信號線路上的阻抗變化和反射情況。通過分析測試結(jié)果,用戶可以評估信號線路的質(zhì)量和匹配情況。此外,TDR手持探頭還可用于故障檢測,例如開路、短路等問題的定位。
2023-06-15 14:29:38269

防靜電ESD測試過程展示

點擊上方藍字關(guān)注我們防靜電ESD測試過程展示本期內(nèi)容為ESD的測試過程,先來看一下規(guī)格書中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的,可用作設(shè)置參考,所以我們要測試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測試
2021-09-30 17:18:58934

海翎光電工業(yè)交換機測試過程

工業(yè)交換機在出廠前要經(jīng)過哪些測試呢?測試過程又是怎么樣的呢?主要是工業(yè)交換機性能檢驗和可靠性檢驗,又包括了電阻檢驗、電容耐壓測試、電源功率測試、線材、模塊、電纜、網(wǎng)卡數(shù)據(jù)流量性能測試、高低溫耐沖擊
2023-07-07 11:03:39259

如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題?

如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題? 隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及,車載部品的測試過程變得更加復(fù)雜和嚴峻。其中一個常見的問題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測試結(jié)果不準確、設(shè)備損壞
2023-11-23 10:33:05205

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