基于失效聚集度的自適應隨機測試算法
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標簽:自適應(18661)
對于現(xiàn)有的自適應隨機測試(ART)算法針對點狀失效模式普遍存在有效性和效率均比隨機測試(RT)差的問題,提出一種基于失效聚集度的自適應隨機測試( CLART)算法,對傳統(tǒng)的ART-固定候選集(FSCS)、區(qū)域排除隨機測試( RRT)等算法進行改進。首先,根據(jù)被測程序的輸入域估計主失效聚集度,確定局部搜索區(qū)域;然后,在區(qū)域內(nèi)使用傳統(tǒng)ART算法生成若干測試用例(TC)進行測試;若未發(fā)現(xiàn)錯誤,重新選擇局部區(qū)域生成TC;重復這一過程直至發(fā)現(xiàn)錯誤。仿真實驗顯示在點狀失效模式和塊狀失效模式下CLART算法的有效性比FSCS算法提高約20%,效率比FSCS算法提高約60%。實驗結(jié)果表明CLART算法利用多個局部區(qū)域依次搜索可以快速鎖定引發(fā)失效輸入分布密集高的失效區(qū)域,從而提高測試的有效性和效率。
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