新思第二代TetraMAX II測(cè)試工具采用的新型ATPG引擎將運(yùn)行時(shí)速度提高至少一個(gè)數(shù)量級(jí)，一個(gè)大型SoC樣片的驗(yàn)證測(cè)試時(shí)間從過去的數(shù)天降低到數(shù)小時(shí)，劃時(shí)代的里程碑式進(jìn)步，不僅大幅降低了測(cè)試成本，而且還將測(cè)試向量數(shù)量減少了25%。
2016-07-22 09:07:57
1721 使用自動(dòng)校準(zhǔn)模式時(shí)，總鎖定時(shí)間對(duì)某些應(yīng)用來說可能太長(zhǎng)。 本應(yīng)用筆記提出一種通過手動(dòng)選擇頻段來顯著縮短鎖定時(shí)間的方案
2021-06-21 09:53:594651 
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-11 15:40:03
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
測(cè)試的多功能一體解決方案。R&S?CMW280 WiMAX 通信測(cè)試儀將在生產(chǎn)中進(jìn)行高速RF 校準(zhǔn)的非信令模式與移動(dòng)設(shè)備在模擬網(wǎng)絡(luò)條件下進(jìn)行測(cè)試的基站模擬的信令模式結(jié)合在一起。支持所有
2021-02-24 14:52:08
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-07 15:56:19
，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高?！ ⌒掳婺苄?biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令的主要差異： 能效
2021-05-06 19:51:34
GSM信令基礎(chǔ)
2009-05-25 22:56:15
信息、系統(tǒng)信息等信令都可以跟蹤。這些功能對(duì)測(cè)試很有幫助，例如：為了知道切換失敗的原因，可以跟蹤Handover command 、Handover 
2009-11-04 13:50:11
C63.2 和 FCC 合規(guī) 行業(yè)的靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍 時(shí)間域掃描 （TDS） 顯著縮短了整體測(cè)試時(shí)間 直觀的多點(diǎn)觸控用戶界面和 PXE 軟件 X 系列可升級(jí)性，以滿足當(dāng)前和未來的測(cè)試需求美國(guó)
2021-07-01 17:57:21
的測(cè)量為現(xiàn)代芯片組提供快速序列非信令測(cè)試模式，以便大程度地提高吞吐量利用單次采集多項(xiàng)測(cè)量技術(shù)加快序列分析儀模式中的測(cè)試計(jì)劃出眾的測(cè)量精度可以提升產(chǎn)品良率經(jīng)濟(jì)高效的綜合多端口適配器具有計(jì)量級(jí)精度和平衡描述改造生產(chǎn)測(cè)試
2020-06-26 13:13:57
：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； ◆ 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高。 新版能效標(biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令
2021-01-21 19:56:26
、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高。 新版能效標(biāo)簽 EU
2020-09-12 15:47:17
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-10 11:55:59
：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； ◆ 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高?！ ⌒掳婺苄?biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令
2021-01-21 19:54:30
方便的對(duì)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的信令進(jìn)行跟蹤，這也很好的提高了對(duì)終端側(cè)和網(wǎng)絡(luò)側(cè)不易界定的問題的解決概率。另外，隨著OPhone專項(xiàng)測(cè)試的不斷進(jìn)行，眾多產(chǎn)品的MTBF測(cè)試結(jié)果已經(jīng)成為寶貴的產(chǎn)品質(zhì)量數(shù)據(jù)庫(kù)，很多看似普通、容易被忽視的問題在經(jīng)過對(duì)比分析后往往能被準(zhǔn)確的捕捉出來。
2014-11-21 13:46:51
No.7信令(TUP)呼叫過程研究現(xiàn)階段，在電力系統(tǒng)交換網(wǎng)絡(luò)中，No．7信令用戶部分應(yīng)用最多的是TUP方式。其他的(如ISUP)主要是信令消息部分的區(qū)別，因此，文章以一次TUP呼叫接續(xù)為例，分析和說明No．7信令的原理。為便于理解，先對(duì)No．7信令原理進(jìn)行簡(jiǎn)單的介紹。
2009-12-12 10:17:17
本文介紹了PAM-4多級(jí)信令，及其與56G數(shù)據(jù)速率的NRZ相比較后得出的權(quán)衡和優(yōu)勢(shì)。
2021-06-17 10:43:43
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
顯示）兩者的信令，共同分析。本文首先介紹了UMTS網(wǎng)絡(luò)接口和UE狀態(tài)的躍遷，是理解信令的基礎(chǔ)；接著參考各層的無線接口協(xié)議，并結(jié)合外場(chǎng)測(cè)試的情況，詳細(xì)描述了TD-SCDMA系統(tǒng)中Uu接口、Iub接口
2009-06-28 23:41:37
TD－SCDMA終端一致性測(cè)試包括射頻指標(biāo)測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS34.122），協(xié)議信令測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS34.123）和其他測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS31.120）三類測(cè)試
2019-07-19 07:57:43
由器，它的所有物理射頻指標(biāo)都非常優(yōu)異。不知道是為什么？我來到了測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)看到：WiFi路由器受控于芯片公司的測(cè)試工具，其WiFi發(fā)射機(jī)指標(biāo)在非信令測(cè)試儀上顯示：無論功率、EVM還是頻譜等指標(biāo)都是正常的。這
2019-08-09 06:32:49
網(wǎng)絡(luò)的大規(guī)模覆蓋和應(yīng)用，對(duì)WiFi產(chǎn)品的性能要求越來越高，因此測(cè)試WiFi射頻指標(biāo)的要求應(yīng)運(yùn)而生。在業(yè)界，許多設(shè)計(jì)公司、測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、工廠采用非信令方式來測(cè)試WiFi產(chǎn)品，這在生產(chǎn)階段是合適的，但是在研發(fā)
2019-06-10 07:30:31
介紹目前，非信令技術(shù)正方興未艾，主要用于縮減制造測(cè)試時(shí)間和成本，并且適用于廣泛的技術(shù)。芯片組廠商正在想方設(shè)法為手機(jī)制造商提供此類能力。因此開發(fā)針對(duì)特定芯片組的專用測(cè)試模式，尤其是適合蜂窩驗(yàn)證測(cè)試的測(cè)試模式已經(jīng)引起了市場(chǎng)的重視。
2019-09-27 07:07:03
為什么需要進(jìn)行WiMAX協(xié)議一致性測(cè)試看完你就知道
2021-04-15 06:16:57
Alignment 技術(shù)徹底地縮短了測(cè)試時(shí)間3）提高產(chǎn)能，簡(jiǎn)化測(cè)試配置具有極低的不確定性和極高的重復(fù)性。由于RF 輸入和輸出動(dòng)態(tài)范圍較寬，并且具有帶集成開關(guān)功能的RF 前端，因此在測(cè)試配置中無需
2021-12-22 15:02:43
信令校準(zhǔn)方法的R&S? Smart Alignment 和R&S? Multi-Evaluation 技術(shù)顯著地縮短了測(cè)試時(shí)間 ◆?通過整合的RF接口可簡(jiǎn)單地與WiMAX 設(shè)備相連
2019-04-02 17:26:24
通信聯(lián)絡(luò)及業(yè)余休閑娛樂，還覆蓋到更多與工作、出行、消費(fèi)、醫(yī)療等息息相關(guān)的各個(gè)方面，令消費(fèi)者能夠隨時(shí)隨地與他們所需的一切保持連線。
2019-08-12 07:37:26
使用DMM和交換機(jī)系統(tǒng)時(shí)最大限度地縮短總體測(cè)試時(shí)間的技術(shù)
2019-08-15 14:35:47
智能手機(jī)和平板電腦無線綜測(cè)儀IQxstream。三個(gè)月之后，安捷倫生產(chǎn)線測(cè)試事業(yè)部也宣布推出同時(shí)支持4個(gè)雙天線和8個(gè)單天線智能手機(jī)或平板電腦DUT的非信令2G/3G/LTE無線綜測(cè)解決方案
2019-06-06 07:04:28
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-07 16:00:48
個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高?！ ⌒掳婺苄?biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令的主要差異： 能效等級(jí)的計(jì)算從
2021-04-15 17:09:06
1ms之內(nèi)。USB FS和HS都測(cè)試過，效果差不多。 如果使用外加的芯片USB3300，這個(gè)時(shí)間可以縮短到0.3ms，但現(xiàn)在打算用單片機(jī)自帶的USB接口，如何提高這個(gè)速度呢？
2018-09-11 10:19:40
請(qǐng)問大佬如何為運(yùn)算放大器噪聲質(zhì)量控制縮短測(cè)試時(shí)間？
2021-04-13 06:45:33
我想用 CBT（信令測(cè)試）對(duì)藍(lán)牙進(jìn)行 RF 測(cè)試，并讓我的板子進(jìn)入 DUT 模式進(jìn)行測(cè)試。但是我無法從 SDK 中的指南中找到執(zhí)行此操作的方法。什么演示應(yīng)用程序適合這個(gè)？我使用的是 Murata 的 RT1060EVKB 和 1XK WiFi/BT 模塊。
2023-03-28 08:14:12
本文論述了基于大容量 FPGA 片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)NO.7 信令采集終端的設(shè)計(jì)。
2021-04-29 06:54:46
如何利用S32K144去測(cè)試看門狗模塊呢？測(cè)試過程是怎樣的？
2021-11-02 06:58:38
如何確保GPS測(cè)試完整性？如何實(shí)現(xiàn)GPS較短的測(cè)試時(shí)間和較低的測(cè)試成本？
2021-04-15 06:57:09
如何手動(dòng)縮短PLL鎖定時(shí)間？你知道嗎？利用手動(dòng)頻段選擇，鎖定時(shí)間可從典型值4.5 ms 縮短到典型值360 μs。本文以高度集成的解調(diào)器和頻率合成器ADRF6820 為例，告訴大家如何手動(dòng)選擇頻段以縮短PLL鎖定時(shí)間。
2019-07-31 07:54:28
帶寬會(huì)縮短周跳時(shí)間。因此，當(dāng)使用自動(dòng)校準(zhǔn)模式時(shí)，總鎖定時(shí)間對(duì)某些應(yīng)用來說可能太長(zhǎng)。本文提出一種通過手動(dòng)選擇頻段來顯著縮短鎖定時(shí)間的方案，步驟如下：1、按照表1 所示的寄存器初始化序列使器件上電。默認(rèn)
2018-08-04 15:00:17
和非實(shí)時(shí)系統(tǒng)區(qū)別的幾個(gè)顯著特征：2、硬實(shí)時(shí)，強(qiáng)實(shí)時(shí)和軟實(shí)時(shí)二、縱覽各種RTOS，哪家是硬實(shí)時(shí)系統(tǒng)1、VxWorks：2、QNX：3、RTEMS4、ThreadX：5、Green Hills：三、舉例：硬實(shí)時(shí)案例：強(qiáng)實(shí)時(shí)案例：軟實(shí)時(shí)案例：一、背景知識(shí)：
2022-01-10 06:53:10
射頻設(shè)備怎么進(jìn)行調(diào)整？使用非信令技術(shù)改進(jìn)移動(dòng)設(shè)備的射頻測(cè)試
2021-04-15 06:48:19
華天電力專業(yè)生產(chǎn)局部放電測(cè)試儀（又稱開關(guān)柜局放測(cè)試儀），接下來為大家分享局部和非局部測(cè)試有什么區(qū)別。局部放電測(cè)試與沒有局部放電測(cè)試有什么區(qū)別？局部放電測(cè)試是指使用局部放電檢測(cè)設(shè)備對(duì)高壓電氣設(shè)備在運(yùn)
2021-01-11 10:56:18
怎么縮短STlink對(duì)STM8燒錄固件的時(shí)間
2023-10-09 07:02:16
由于業(yè)界正在不斷尋求更低的測(cè)試成本，許多RF測(cè)試工程師必須繼續(xù)地縮短測(cè)量時(shí)間。如你所知，無線網(wǎng)絡(luò)（WLAN）裝置的測(cè)試操作也必須要迎合這個(gè)趨勢(shì)。無論是用于設(shè)計(jì)檢驗(yàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)或者是最終產(chǎn)品的測(cè)試
2019-08-08 08:28:40
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-10 13:47:17
）技術(shù)，IQ2010
測(cè)試系統(tǒng)為滿足這些產(chǎn)品和設(shè)備的關(guān)鍵
測(cè)試需求提供了完善的解決方案。在并發(fā)
測(cè)試架構(gòu)下解決無線
測(cè)試能力的迫切需求，IQ2010
測(cè)試系統(tǒng)能夠
顯著縮短測(cè)試時(shí)間。的同時(shí)還能夠節(jié)省資金?！靖?/div>
2014-08-06 15:23:48
有什么方法可以縮短儀器開發(fā)時(shí)間，以便測(cè)試儀器能夠滿足新的測(cè)量需求嗎？采用SDR技術(shù)一類的應(yīng)用往往具有共同的特征
2021-04-09 06:28:02
周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； ◆ 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； ◆ 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高
2020-12-24 15:00:08
：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； ◆ 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高?！ ⌒掳婺苄?biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令
2021-01-21 20:03:01
測(cè)試信令wifi,開機(jī)首次測(cè)試指數(shù)不正常，然后重啟手機(jī)wifi,參數(shù)恢復(fù)正常，什么原因，能怎么解決？
2016-05-20 14:41:07
`CMW100無線通信生產(chǎn)測(cè)試儀/R&S|CMW100手機(jī)綜測(cè)/非信令測(cè)試儀，東莞市回收CMW500 東莞市德佳儀器有限公司
2020-07-12 15:31:04
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-09 19:48:05
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-10 11:53:36
用您的電源縮短測(cè)試時(shí)間的10 項(xiàng)提示
2019-09-30 14:13:29
用您的電源縮短測(cè)試時(shí)間的10項(xiàng)提示
2019-03-26 14:21:24
的挑戰(zhàn)，測(cè)試項(xiàng)成倍增加，測(cè)試時(shí)間成倍增加，這也就意味著生產(chǎn)成本在大幅提高。移動(dòng)終端的非信令測(cè)試，是近兩年逐步在產(chǎn)業(yè)界得到推廣的測(cè)試技術(shù)，是測(cè)試儀表公司和移動(dòng)終端方案公司共同努力的結(jié)果，極大地提升了移動(dòng)終端
2019-07-17 08:02:56
第二次光信令，路由和管理測(cè)試事件
2019-09-09 17:26:21
請(qǐng)問用Arduino硬件部分怎么連接可以鐵路安全繼電器的時(shí)間特性測(cè)試
2017-05-27 11:10:18
，確保芯片從晶圓產(chǎn)線下來就開啟調(diào)試，把芯片開發(fā)周期極大的縮短。最終進(jìn)入量產(chǎn)階段測(cè)試就更重要了，如何去監(jiān)督控制測(cè)試良率，如何應(yīng)對(duì)客訴和PPM低的情況，如何持續(xù)的優(yōu)化測(cè)試流程，提升測(cè)試程序效率，縮減測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本等等等等。所以說芯片測(cè)試不僅僅是成本的問題，其實(shí)是質(zhì)量+效率+成本的平衡藝術(shù)！
2020-09-02 18:07:06
，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高。 新版能效標(biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令的主要差異： 能效
2021-07-14 20:33:05
通用射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（Automatic Testing Systems）旨在為用戶解決測(cè)試中繁雜的測(cè)試接線（針對(duì)多通道測(cè)試系統(tǒng)），繁瑣的儀器操作，大量的數(shù)據(jù)記錄、分析、處理等問題，從而縮短測(cè)試時(shí)間，減 少隨機(jī)誤差、提高測(cè)試精度，提供更多可追溯數(shù)據(jù)，提高測(cè)試的效率和質(zhì)量。
2019-08-28 07:27:25
個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試時(shí)間大幅減少，但光通維持率的要求大幅提高?！ ⌒掳婺苄?biāo)簽 EU 2019/2015指令相對(duì)于舊版指令的主要差異： 能效等級(jí)的計(jì)算從
2021-04-15 17:08:03
要求； 增加了驅(qū)動(dòng)器能源轉(zhuǎn)換效率的要求； 開關(guān)周期測(cè)試、啟動(dòng)時(shí)間、預(yù)熱時(shí)間測(cè)試被刪除； 測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：光源僅需10個(gè)，驅(qū)動(dòng)器僅需3個(gè)； 耐久測(cè)試3600小時(shí)，其中點(diǎn)燈時(shí)間為3000小時(shí)，測(cè)試
2020-12-11 15:28:22
釗對(duì)現(xiàn)存導(dǎo)彈批量測(cè)試中存在的問題，采用離散仿真方法，論證了在不改變現(xiàn)有測(cè)試規(guī)程，而適當(dāng)增加測(cè)試工位優(yōu)化測(cè)試流程，可顯著縮短批量導(dǎo)彈測(cè)試時(shí)間，提高快速反應(yīng)能力
2008-12-05 14:29:50
14 ● 實(shí)驗(yàn)室專用研發(fā)測(cè)試軟件及產(chǎn)線軟件方案。● 支持發(fā)射功率、靈敏度、丟包率和MAC層、IP層吞吐量測(cè)試?！?快速實(shí)現(xiàn)4×4 MIMO空口（OTA）測(cè)試?！?集成了自動(dòng)化靈敏度搜索程序，一鍵式完成
2022-09-15 10:27:14
● 支持經(jīng)典藍(lán)牙（BR / EDR）協(xié)議測(cè)試，支持低功耗藍(lán)牙（BLE 4.2/ 5.0 / 5.1/5.2）協(xié)議測(cè)試。● 支持 Test Mode、Paring Mode（競(jìng)品分析）、BLE-DTM 以及 BLE 信令測(cè)試?！?支持 CW 校準(zhǔn)與測(cè)試，傳導(dǎo)或空口測(cè)試?！?支持藍(lán)牙吞吐量測(cè)試。
2022-09-15 10:42:34
大多數(shù)測(cè)試程序都會(huì)在等待上花去大部份時(shí)間。除非您正在傳送大量數(shù)據(jù)，否則計(jì)算機(jī)、I/O和儀器通常都不是問題所在。在升級(jí)您的計(jì)算機(jī)硬件或采用更快儀器之前，應(yīng)仔細(xì)檢查程
2010-06-27 21:42:2810 Agenda
模擬數(shù)據(jù)域聯(lián)合調(diào)試
簡(jiǎn)化Xilinx和Altera FPGA系統(tǒng)調(diào)試
數(shù)字系統(tǒng)電源帶載/噪聲/紋波測(cè)試
雷達(dá)脈沖信號(hào)(低占空比)測(cè)量
自動(dòng)保存/記錄
2010-06-29 17:27:2315 綜合時(shí)間測(cè)試儀是一款測(cè)量精度達(dá)納秒級(jí)的時(shí)間/頻率測(cè)試儀表，可針對(duì)多種時(shí)間/時(shí)鐘接口進(jìn)行高精度的測(cè)量、分析和評(píng)估。支持E1、PPS、NTP、PTP等多種測(cè)量接口，主要應(yīng)用于科研單位、實(shí)驗(yàn)室，作為時(shí)間
2024-01-18 11:06:02
無論您的電子測(cè)試是在生產(chǎn)制造，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，還是研發(fā)電子產(chǎn)品，減少測(cè)試時(shí)間都意味著降低成本和縮短產(chǎn)品開發(fā)周期，這兩者都將為您帶來顯著利益。絕大多數(shù)電子測(cè)試都離不開
2010-08-11 08:58:5753 Measurement Studio 2009縮短測(cè)試開發(fā)時(shí)間
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）發(fā)布了Measurement Studio 2009
2009-12-26 08:43:291532 Altair公司聯(lián)手韓國(guó)的LG電子（LGE）已經(jīng)成功地創(chuàng)造了一個(gè)無縫集成的跌落測(cè)試模擬自動(dòng)化系統(tǒng)。智能手機(jī)的跌落測(cè)試模擬是智能手機(jī)設(shè)計(jì)的一個(gè)關(guān)鍵步驟。通常進(jìn)行智能手機(jī)的跌落測(cè)試模擬需要一到兩周的時(shí)間，而該系統(tǒng)可使LG電子的工程師在24小時(shí)內(nèi)完成該項(xiàng)測(cè)試模擬。
2013-09-11 14:28:59872 艾法斯控股公司（Aeroflex Holding Corp.，紐交所代碼：ARX）旗下的全資子公司艾法斯有限公司（Aeroflex Limited）日前宣布：對(duì)其Lector軟件的最新升級(jí)，給在服務(wù)中心進(jìn)行的移動(dòng)設(shè)備RF測(cè)試的速度帶來了巨大的改善。
2014-02-21 13:40:31847 
一直以來，大規(guī)模芯片的測(cè)試過程都是即費(fèi)時(shí)又費(fèi)錢的活，TetraMAX II如何能縮短十倍的時(shí)間！
2016-12-30 14:37:253598 單元（ECU）時(shí)必須執(zhí)行電壓邊限測(cè)試，以驗(yàn)證在極端的偏壓電壓情況下能否正常操作，以及容許度有多大。 在競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車電子市場(chǎng)，測(cè)試時(shí)間是分秒必爭(zhēng)的。在多個(gè)偏壓電壓位準(zhǔn)下進(jìn)行測(cè)試，是ECU 測(cè)試中一項(xiàng)必要但費(fèi)時(shí)的操作。大多數(shù)的系統(tǒng)直流電
2017-11-22 16:42:110 新版的R&S ELEKTRA EMC測(cè)試軟件支持全自動(dòng)化電磁發(fā)射EMI和電磁敏感度EMS測(cè)試，滿足產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試需求的同時(shí)也能夠用于符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證測(cè)試。配合當(dāng)今強(qiáng)大的EMC測(cè)試儀器，用戶現(xiàn)在可以
2018-11-13 11:39:591264 PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:003018 
有接觸過廈門希立儀器氣密性測(cè)試設(shè)備的客戶很多都知道，氣密性測(cè)試設(shè)備在測(cè)試過程中，測(cè)試的壓力和時(shí)間都需要非常的精準(zhǔn)，這樣廈門希立儀器海立姆泄漏檢測(cè)系統(tǒng)才能精準(zhǔn)的判定產(chǎn)品是否是泄漏的，在對(duì)氣密性測(cè)試設(shè)備的參數(shù)值進(jìn)行設(shè)定時(shí)，測(cè)試時(shí)間也需要按照以下情況來進(jìn)行設(shè)置。
2021-04-16 10:39:492415 測(cè)試自動(dòng)化是使用框架和工具自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試以更快地執(zhí)行測(cè)試并減少對(duì)人工測(cè)試人員的需求的實(shí)踐。在這種軟件測(cè)試方法中，創(chuàng)建可重用的測(cè)試腳本來測(cè)試應(yīng)用程序的功能，從而減少整體回歸時(shí)間并促進(jìn)更快的軟件發(fā)布。利用測(cè)試自動(dòng)化可縮短測(cè)試生命周期的回歸時(shí)間并提高發(fā)布質(zhì)量。
2023-05-04 12:02:541115 氧化誘導(dǎo)時(shí)間測(cè)試儀是一種用于測(cè)定高分子材料氧化誘導(dǎo)時(shí)間的儀器。該儀器通過測(cè)量材料在高溫氧化環(huán)境中誘導(dǎo)期的時(shí)間，來評(píng)估材料的熱穩(wěn)定性和氧化誘導(dǎo)速度。本文將詳細(xì)介紹氧化誘導(dǎo)時(shí)間測(cè)試儀的基本原理、使用方法
2023-06-25 11:01:06511 
V2.1和SASO2902標(biāo)準(zhǔn)中的11.4啟動(dòng)時(shí)間測(cè)試方法和11.5啟動(dòng)時(shí)間測(cè)試方法的規(guī)定，確定燈泡的時(shí)間。
2023-07-25 15:58:55349 
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試費(fèi)用：
一測(cè)試生成時(shí)間
-測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間
-故障覆蓋
一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459 
。 泰克今年推出的雙脈沖測(cè)試軟件（WBG-DPT）在4系、5系和6系示波器上均可使用，該軟件包括一種新的專為雙脈沖測(cè)試設(shè)計(jì)的消除時(shí)序偏差（deskew）的校準(zhǔn)技術(shù)。 這種新的方法與傳統(tǒng)方法大有不同，測(cè)試速度顯著加快，縮短了測(cè)試時(shí)間。 該技
2023-11-02 12:15:01280 
開關(guān)電源關(guān)機(jī)維持時(shí)間是指切斷電源后輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時(shí)間。關(guān)機(jī)維持時(shí)間是開關(guān)電源測(cè)試項(xiàng)目之一，測(cè)試時(shí)需要用到交流電源、電子負(fù)載、示波器等測(cè)試設(shè)備。那么開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)要如何測(cè)試關(guān)機(jī)維持時(shí)間呢?
2023-11-20 15:51:00362 
晶振起振時(shí)間測(cè)試原理、測(cè)試方法 晶振起振時(shí)間是指晶振器從電源通電到開始正常工作的時(shí)間。晶振器是現(xiàn)代電子設(shè)備中廣泛使用的一種電子元件，其作用是產(chǎn)生穩(wěn)定的時(shí)鐘信號(hào)，用于同步各個(gè)電子元件的工作。晶振起
2023-12-18 14:09:42716 杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測(cè)試設(shè)備，該設(shè)備具備智能并行測(cè)試功能，能夠顯著縮短測(cè)試時(shí)間，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23363 已全部加載完成
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