開放式體系結(jié)構(gòu)的概念在2002年的夏季已經(jīng)是公開的秘密。鑒于降低測(cè)試成本的前景,媒體和ATE用戶對(duì)它產(chǎn)生了極大的興趣,也引起ATE供應(yīng)商們極大的關(guān)注。毫無疑問,一個(gè)設(shè)計(jì)良好的開放式體系結(jié)構(gòu)系統(tǒng)會(huì)給用戶帶來令人信服的好處。但它畢竟是一個(gè)新的概念,有必要作進(jìn)一步的介紹和分析。
開放式體系結(jié)構(gòu)的本質(zhì)是一個(gè)硬件、軟件和接口都公開的結(jié)構(gòu),有完善的文件說明并一視同仁地提供給有關(guān)各方,實(shí)現(xiàn)重大的創(chuàng)新。顯然,它與標(biāo)準(zhǔn)不同,它應(yīng)盡量利用可為我所用的標(biāo)準(zhǔn),但如果標(biāo)準(zhǔn)不適合在ATE中使用,也絕不為其所限制。例如,為了方便整合后端功能和設(shè)備自動(dòng)化,采用GEM—SECS標(biāo)準(zhǔn)是十分有意義的;與此同時(shí),在系統(tǒng)內(nèi)用慢數(shù)據(jù)率IEEE488作為傳輸數(shù)據(jù)的主要機(jī)制則是重大的失誤。
開放式體系結(jié)構(gòu)的基本目標(biāo)是提供一個(gè)能保護(hù)和擴(kuò)大ATE投資的結(jié)構(gòu),這就要求結(jié)構(gòu)框架能不斷地創(chuàng)新和研發(fā)。此外,測(cè)試技術(shù)若要跟上半導(dǎo)體基本結(jié)構(gòu)飛速發(fā)展的步伐,需要多方的參與??傊?,為了實(shí)現(xiàn)上述基本目標(biāo),開放式體系結(jié)構(gòu)應(yīng)具備下列重要屬性:可縮放性、可替換性、經(jīng)濟(jì)實(shí)用性,以及第三方參與性。下面分別加以詳細(xì)的論述。
圖1 封裝后的儀器
圖2 廉價(jià)的通用的全封閉式儀器測(cè)試頭插槽
可縮放性
開放性體系結(jié)構(gòu)應(yīng)具有一個(gè)在性能和引腳數(shù)方面可大范圍縮放的平臺(tái)。首先,平臺(tái)基礎(chǔ)設(shè)施要和性能特征相分離。平臺(tái)基礎(chǔ)設(shè)施包括數(shù)據(jù)流、電源管理、報(bào)警和出錯(cuò)處理對(duì)策以及測(cè)試相似性。它應(yīng)在無需重新加工的前提下,提供性能更新的能力,特別是,它不受圖形速率、引腳數(shù)和放置精度的限制。性能特征則與各自的激勵(lì)—響應(yīng)能力和與DUT引腳連接等有關(guān)。性能特征是隨著技術(shù)要求的變化而改變的。
上述要求在很大程度上影響著體系結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)。例如,低性能體系結(jié)構(gòu)系統(tǒng)可以用強(qiáng)迫空氣對(duì)流來冷卻,然而它滿足不了MPU和芯片組生產(chǎn)、驗(yàn)證和性能測(cè)試用高性能電子設(shè)備的散熱要求。因此,這類系統(tǒng)的市場(chǎng)有限,對(duì)第三方缺乏吸引力。基礎(chǔ)設(shè)計(jì)應(yīng)提供大量散熱的經(jīng)濟(jì)實(shí)用冷卻裝置。
其次,高吞吐率隱含著高帶寬的測(cè)試總線。開放式體系結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)設(shè)施要具備滿足上述要求的能力。要想支持?jǐn)?shù)據(jù)密集型儀器,需要400至800MB/S數(shù)據(jù)傳輸率的高帶寬總線。寬帶總線可使用100Base-T單元的星形網(wǎng)絡(luò),一個(gè)本地路由器在硬件單元間來回傳送或集中數(shù)據(jù)。另一種選擇是使用高帶寬環(huán)形總線,將所用儀器環(huán)接起來。在對(duì)各種方案進(jìn)行充分評(píng)估后,似乎環(huán)形總線比星形總線更合適。寬帶數(shù)據(jù)路徑的環(huán)形總線能以合理的等待時(shí)間提供所需帶寬。
為了確保系統(tǒng)的堅(jiān)固性,還需要第二類通信總線。這是一種通向所有儀器的低帶寬系統(tǒng)—監(jiān)測(cè)總線,它完成出錯(cuò)和報(bào)警監(jiān)測(cè)、啟動(dòng)引導(dǎo)程序,以及其它重要的非測(cè)試功能,讓核心軟件持續(xù)管理系統(tǒng)和執(zhí)行診斷功能。一個(gè)完整的包含自身電源的RS-232連接用于這個(gè)功能是十分理想的。
最后,當(dāng)然并非不重要的,應(yīng)為各種儀器提供直流電源,配電線路和測(cè)試儀總線通信一般是通過背板來實(shí)現(xiàn)的。背板是基礎(chǔ)設(shè)施的重要內(nèi)容,通常在第一代測(cè)試裝置中要重新設(shè)計(jì)。無論是性能變動(dòng)、或在子系統(tǒng)間需要更多的性能互連或增加直流電壓,都要求背板加以改動(dòng)。如果對(duì)封閉式體系結(jié)構(gòu)系統(tǒng)總是要求重新設(shè)計(jì)背板而不顧及相關(guān)系統(tǒng)的如何演變,那末由第三方提供解決方案的可縮放開放式體系結(jié)構(gòu)就不能在合理的時(shí)間周期內(nèi)保持背板不變。其解決方案是:無背板的體系結(jié)構(gòu)。
無背板的的決定對(duì)體系結(jié)構(gòu)來說是一個(gè)重要的細(xì)節(jié)。開始以為,傳送多個(gè)直流電壓必須復(fù)雜的、昂貴的、不可靠的電源導(dǎo)線束結(jié)構(gòu)。然而,倘若原始直流電源僅用一個(gè)電壓,每個(gè)PCB負(fù)責(zé)產(chǎn)生自己所需的直流電壓,問題就迎刃而解了。由于沒有背板在PCB間路由信號(hào),PCB的規(guī)格和尺寸應(yīng)足夠大,以便在PCB內(nèi)產(chǎn)生自己和直流電壓和容納完整功能電路。事實(shí)上,鑒于可利用的集成化水平,不難得到多個(gè)完整的功能電路。例如,合理的電路板尺寸完全能容納32條完整的數(shù)字通道或多個(gè)器件電源。儀器內(nèi)安裝完整的功能電路還另有一個(gè)優(yōu)點(diǎn),即儀器很大程度上是獨(dú)立的,僅需極少量的系統(tǒng)功能,如時(shí)鐘、同步信號(hào)、冷卻、以及直流電源(如圖1所示),有利于系統(tǒng)在多點(diǎn)測(cè)試和并行測(cè)試中使用。
可替換性
開放性體系結(jié)構(gòu)應(yīng)支持多方位的應(yīng)用,從純數(shù)字到SoC,還附帶各種模擬要求,它應(yīng)能隨時(shí)更新,方便、有效地?cái)U(kuò)展新設(shè)備,設(shè)置新功能不能影響原有功能的工作。這樣,系統(tǒng)硬件涉及四個(gè)方面:配電線路、數(shù)據(jù)流、總體同步、以及可重配置性。
前面已提及配電線路,這里還要進(jìn)一步驗(yàn)證低噪聲的合格性。高性能數(shù)字邏輯系統(tǒng)通常不是無噪的;另一方面,高精度模擬系統(tǒng)具有極低的本底噪聲,但不能達(dá)到高矢量率。一個(gè)開放式體系結(jié)構(gòu)應(yīng)包含根除不必要接地環(huán)、進(jìn)行屏蔽、以及其它低噪聲設(shè)計(jì)對(duì)策,可放心地部署在兩類應(yīng)用中。
數(shù)據(jù)流也需要附加的合格性。測(cè)試CPU和儀器間的寬帶寬總線就支持儀器自身間的寬帶寬通信。這就可能研制一種測(cè)試解決方案,讓系統(tǒng)中不同儀器處理大量數(shù)據(jù)。
儀器產(chǎn)生和接收同路同步信號(hào)也是十分必要的。當(dāng)在單點(diǎn),或多點(diǎn)測(cè)試混合信號(hào)SoC器件時(shí),這些同步信號(hào)使數(shù)字通道和模擬通道一致地工作。
現(xiàn)有的VXI 和PXI一類開放式儀器系統(tǒng)有多種觸發(fā)傳輸方案,如專用于觸發(fā)扇出任務(wù)的儀器插槽或幾組分立的觸發(fā)總線組合。假定整個(gè)系統(tǒng)是專用于單一測(cè)試過程,這種方案是十分方便的。然而在多點(diǎn)應(yīng)用中,每個(gè)地點(diǎn)要求不同的觸發(fā)信號(hào),或在多個(gè)時(shí)域同步測(cè)試的場(chǎng)合,這些觸發(fā)機(jī)制就很難應(yīng)付。為了解決這個(gè)問題,儀器應(yīng)提供模塊到模塊間分立的連接來傳送觸發(fā)信號(hào)。但這樣做對(duì)測(cè)試系統(tǒng)又附加了額外的配置限制,使重配置更復(fù)雜,更費(fèi)時(shí)。有一種更有效的方案來實(shí)現(xiàn)壽命更長的平臺(tái)同步計(jì)算相結(jié)合的技術(shù),以便讓實(shí)際同步在傳送上是通用的,局部地可計(jì)算的,沒有噪聲,沒有抖動(dòng),也沒有串?dāng)_。實(shí)際的模擬信號(hào)完全限制各自的儀器內(nèi),對(duì)可作用的不同觸發(fā)信號(hào)數(shù)量的限制、觸發(fā)源的選擇、每個(gè)觸發(fā)信號(hào)目的地的數(shù)量不再由傳輸線來確定,而是由可編程數(shù)據(jù)流協(xié)議來確定。
重配置對(duì)一個(gè)可替換性系統(tǒng)是十分重要的,這不僅僅是它的開放性所隱含的,也可為工廠節(jié)省大量的加工機(jī)械。為了使平臺(tái)重配置后具有最佳的測(cè)試效果,所有儀器的插槽應(yīng)是一致的,與類型無關(guān)。任何給定的平臺(tái)應(yīng)能配置眾多不同類型的設(shè)備,或大批量應(yīng)用,而沒有苛刻的配置限制。這一要求進(jìn)一步加強(qiáng)了原先堅(jiān)持的觀點(diǎn):開放式體系結(jié)構(gòu)不能有背板或復(fù)雜的電源導(dǎo)線束(圖2)。
經(jīng)濟(jì)實(shí)用性
平臺(tái)的成本應(yīng)很低。同時(shí),開放式體系結(jié)構(gòu)應(yīng)提供足夠的基礎(chǔ)設(shè)施資源,來安裝低性能或高性能儀器,既可以是模擬的,也可以是數(shù)字的,或是數(shù)、模混合型?,F(xiàn)代測(cè)試儀器的高功率密度基本上摒棄了風(fēng)冷式解決方案。為此,一個(gè)有效的開放式的ATE平臺(tái)的重要特征是它能提供低成本的液冷系統(tǒng),并體現(xiàn)在熱交換的實(shí)施和各個(gè)儀器結(jié)構(gòu)之中。
集中的、專用的、定點(diǎn)的ATE解決方案確有較低的成本,但只有在系統(tǒng)的數(shù)量足夠大且特定的儀器有持續(xù)的研發(fā)空間時(shí)才有意義。為了避免過時(shí),買主必須考慮到增加或改變測(cè)試要求的可靠性。因而,經(jīng)濟(jì)實(shí)用性不僅要計(jì)及系統(tǒng)計(jì)劃應(yīng)用的初始成本,還要計(jì)及系統(tǒng)以供后用的再加工成本。
乍一想,開放式體系結(jié)構(gòu)的這些特性對(duì)經(jīng)濟(jì)實(shí)用性有負(fù)面的影響。事實(shí)卻并非如此,ATE背板,連接器,以及電源總線匯流條都是十分昂貴的?,F(xiàn)代ATE中使用的十二層以上背板其標(biāo)價(jià)通常在30000美元以上。配電用導(dǎo)線束的制作和安裝是高勞動(dòng)強(qiáng)度的,不僅麻煩,成本也很高。本文簡介的開放式體系結(jié)構(gòu)屬性省略了這些高成本的項(xiàng)目,盡管分?jǐn)偟礁鲀x器的僅是節(jié)省費(fèi)用的一少部分,畢竟也是有意義的純成本節(jié)省。
合理設(shè)計(jì)的開放式體系結(jié)構(gòu)ATE有希望獲得較長的平臺(tái)使用壽命。實(shí)現(xiàn)新測(cè)試要求的新儀器的研制和生產(chǎn)成本比全新測(cè)試系統(tǒng)低,要是開放式平臺(tái)有足夠的堅(jiān)固性,且它能突破性能和容量的限制,且適合在工廠環(huán)境中安裝,那末總的測(cè)試成本將隨時(shí)間的推延而 大大降低。此外,長平臺(tái)使用壽命亦有利于第三方的參與。
第三方參與性
開放式體系結(jié)構(gòu)意味著多方參與性,這是十分明確的。不明確的是,它隱含著必須提供的各種文件、設(shè)計(jì)準(zhǔn)則、設(shè)計(jì)要求,以及供研制人員用的輔助工具。
第三方研制人員除了懂得如何安裝外,無需ATE中其它儀器內(nèi)部細(xì)節(jié)的詳盡知識(shí),也無需平臺(tái)本身的任何細(xì)節(jié)知識(shí)。第三方參與者要求在接口設(shè)計(jì)和基礎(chǔ)設(shè)施部件方面得到支持,比如:
結(jié)語
總之,開放式結(jié)構(gòu)體系要想獲得成功,必須具備幾個(gè)重要特性。下面給出必備屬性以便評(píng)估各種方案:
基礎(chǔ)設(shè)施與性能特性無關(guān)。
可應(yīng)用于全性能系列的廉價(jià)冷卻解決方案。
支持寬帶寬/高吞吐率和低成本兩種總線。
無背板或復(fù)雜的電源導(dǎo)線束。
儀器與特定的電壓無關(guān),取而代之產(chǎn)生自己所需的電壓。
測(cè)試頭插槽是通用的,無專用的模擬卡盒或數(shù)字卡盤。
儀器自備診斷與校正用的嵌入式計(jì)量方法。
根據(jù)變化的測(cè)試要求,最終用戶能容易地重新配置系統(tǒng)。
結(jié)構(gòu)體系有詳細(xì)的文件說明,供第三方設(shè)計(jì)、安裝使用。
儀器至結(jié)構(gòu)體系的接口應(yīng)盡量少用,甚至不用定制的部件。
一視同仁地向第三方供應(yīng)商提供IP、測(cè)試基準(zhǔn)程序以及認(rèn)證服務(wù)。
評(píng)論
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