互感器局部放電測量標準GB 5583-85

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1. 適用范圍和目的
1.1 本標準適用于電流互感器和電壓互感器。對電容式電壓互感器的電容器部分應按耦合電容器和電容分壓器相應的國家標準的要求進行試驗。 9 _, y3 @, O" e- U$ T5 j
1.2 本標準的目的是指局部放電的出廠試驗,當制造廠與使用部分商定后,也可作為驗收試驗。
注 :10kV及以下的產(chǎn)品出廠試驗允許采用抽樣試驗的方法。抽樣方法按相應的國家標準規(guī)定。
1.3 本標準適用的最低電壓等級如下: % }9 n# Y2 _+ B5 S; ?& X
固體絕緣 Um=6.9kV
浸體浸漬絕緣 Um=69kV ! w7 ?( ~: ?5 h' S
其中 :Um-設(shè)備的最高電壓. / w! s8 ^7 {1 r5 \9 R
1.4 本標準可以適用于非慣用型(充氣或氣浸式等)的設(shè)備。這種設(shè)備與慣用型設(shè)備相比,尚缺乏足夠的經(jīng)驗,其許可的放電水平應由制造廠與使用部分協(xié)商確定。?
試驗線路 ; {' V- e- c# Q2 b: d* x/ `
2.1 電流互感器的局部放電試驗線路如圖1所示。相對地電壓互感器的局部放電試驗線路如圖2所示。

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A點接地或者B點接地。
國家標準局 1985-11-22發(fā)布 1985-12-01實施
只要可能鐵心和金屬外殼均接到二次繞組的端子 (K1,K2)上。
電容型電流互感器的地屏應接到二次繞組的端子上。

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A點接地或者B點接地。 . g5 f+ F$ S$ B1 ]% \+ X+ s4 E
只要可能鐵心和金屬外殼均接到二次繞組的端子 (a,x)上。
一次繞組端子與地之間的試驗電壓可用外施加壓 ,也可由二次繞組感應出。 + R4 r* T7 ^9 X% z+ M1 V! H
注 :圖1和圖2中,高壓試驗就壓器的電容可以作耦合電容器使用,此時,濾波器Z便可省掉。 2 P( d+ K6 b8 {6 f: E; `
2.2 相對相電壓互感器的局部放電試驗線路應與相對地電壓互感器一樣(見圖2),但應向兩個高壓端子輪流施加電壓,共進行兩次試驗。當一個高壓端子加壓時,另一個高壓端子應接到低壓端子上。
2.3 經(jīng)制造廠與使用部門協(xié)商,也可能采用與本標準中所規(guī)定的試驗線路等效的其他試驗線路。 " A" K4 r& G! ?
3. 測量儀器 L1 n" }: `) z& r# X3 @) @3 _. b
3.1 局部放電的測量儀器是指把測量阻抗兩端的電壓變成與所測成比例的讀數(shù)的儀器。所用儀器應符合相應的國家標準的有關(guān)條款的規(guī)定。 ( ^; p) @' a* M& j- ?6 ]7 p6 V8 Z
3.2 儀器應根據(jù)所要測量的放電參數(shù)來選擇.在本標準中優(yōu)先采用視在電荷q,它以皮庫*(PC)來表示。 - _: u0 o) a7 t3 x) D
注 :局部放電采用寬頻帶(頻帶寬度至少是100kHz)測量時,具有某些優(yōu)點,特別對具有分布電容和電感的試品更加明顯。對于互感器一般使用窄頻帶法測量局部放電就可以了,尤其是當測量頻率可能在0.15～ ! f6 }- y2 a9 f( k6 J. w0 u* i" j
2MHz的范圍內(nèi)選擇時更可滿足。
測量時優(yōu)先采用的頻率是 0.5和1MHz。如有可能,最好是能夠給出最高靈敏度的頻率下進行局部放電測量。 1 b) w3 u" q9 ?, j8 g; k: s
4. 校正 # y7 K" x4 ]0 [1 i
指示回路的指示值來確定局部放電的脈沖強度是通過對所測結(jié)果進行正確的校正來實現(xiàn)的。校正應包括測定測量儀器本身的特性以及接在整個試驗回路中儀器的校正。
皮庫即舊稱微微庫。 5 j/ Q# t5 v( W- g( t
4.1 儀器特征的測定 6 B/ u4 d& ^7 `: Q. H1 x x
儀器特性的測定應按相應的國家標準的規(guī)定進行。 4 {; q1 s) J. N2 \. d+ I% t J5 [
儀器的校驗應根據(jù)經(jīng)驗全部或部分地定期進行 0 Z$ V% \$ d& ^7 l
4.2 整個試驗回路中儀器的校正
這個校正的目的是從指示回路的指示值求出試品中發(fā)生的局部放電強度?；芈返奶匦?,特別是試品電容與耦合電容之比Cx/Ck對校正結(jié)果影響很大,因此在改變上述因素時,必須對回路重新校正。 ' {# `4 Z1 ~7 [( v5 B( b' N
整個試驗回路的校正是通過校正裝置在試品兩注入一個已知電荷來實現(xiàn)的。校正裝置包括一臺電壓幅值為 U0的階躍波發(fā)生器和一個小的、電容值為C0的電容器。其接線如圖3所示。

點接地或者B點接地。 ! F, J3 x% \+ ?) P& w Q
為使校正保持有效 ,校正用電容應不大于0.1(Cx+CkCm-Ck+Cm)式中Cm為測量阻抗兩端的電容;校正脈沖的上升時間應不大于0.1μs;脈沖衰減時間在100μs的范圍內(nèi)。在此條件下,校正脈沖等價于一個放電量值q0; 注 :校正時C0不宜小于10皮法*(PF),同時C0至試品及C0至階躍波發(fā)生器的引線應盡量短以免引起校正誤差。?
試驗
v5.1 局部放電試驗應在試品所有絕緣試品結(jié)束以后進行. . {- t) @% r' S9 S+ ]
5.2 對試驗電壓的要求:

電壓波形應接近正弦形。當波形畸變時 ,應以峰值除以2作為試驗電壓值。 ) R! F( z* D* e8 c9 ]: Z/ E
5.3 試驗程序:
試驗應在不大于 1/3測量電壓下接通電源,升至預加電壓,保持10s以上;然后不間斷地降到測量電壓,保持1min以上,再讀取放電量;最后降以1-3測量電壓以下,方能切除電源。
注 :也可在工頻耐壓之后,當試驗電壓降低到要求的電壓值時,接著進行局部放電測量。如果測得的局部放電量超過表中所列的允許值,則仍應按上述規(guī)定單獨進行局部放電試驗。
皮法即舊稱微微法。
允許的局部放電水平(見表) ^! Q X9 j! w& @4 d

( Z7 e8 j4 d% k2 Q. k
7.1 讀取視在放電量值時應以重復出現(xiàn)的、穩(wěn)定的最高脈沖訊號計算視在放電量。偶而出現(xiàn)的較高的脈沖可以忽略。 6 [" y3 E v( M+ ?, y) A
7.2 測量回路的背景噪音水平應低于允許放電水平的50%。當試品的允許放電水平為10PC或以下時,背景噪音水平可達到允許放電水平的100%。 8 |; b7 a, F0 i, P6 _* E- J) o
測量中明顯的干擾可不予考慮。
.試驗結(jié)果的判斷 , e( a5 c* }. o, c
如在施加電壓的過程中 ,電壓不產(chǎn)生突然下降,而且在施加測量電壓期間,測得的視在放電量不超過表中所規(guī)定的允許值,則判定被試品合格。
只有在制造廠與使用部門商定后,才能按此電壓施加。