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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表> 如何設(shè)置自動(dòng)測(cè)試向量生成 (ATPG) 的目標(biāo)指標(biāo)

如何設(shè)置自動(dòng)測(cè)試向量生成 (ATPG) 的目標(biāo)指標(biāo)

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2016-07-22 09:07:571721

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ATPG有效性是什么意思

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2021-07-29 08:47:31

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`書號(hào):978-7-111-34114-7作者:路輝 編著出版時(shí)間:201107自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)作為設(shè)備可靠運(yùn)行的必要保證,在航空、航天、汽車、船舶等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。測(cè)試描述語言作為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
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2010-01-27 14:10:3525

一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件平臺(tái)的設(shè)計(jì)

針對(duì)當(dāng)前自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域儀器無關(guān)化、通用化、模塊化、TPSs可移植等要求,借鑒國(guó)外相應(yīng)的理論和技術(shù),以及國(guó)內(nèi)的工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),設(shè)計(jì)了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件平臺(tái),該平臺(tái)通過提
2010-03-02 14:25:5317

基于GPIB技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本文首先闡述基于GPIB技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的組成,然后介紹了GPIB技術(shù)的特點(diǎn)和工作原理,最后給出自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建的軟硬件要求,并給出了儀器的控制程序流程圖。其結(jié)論對(duì)從
2010-03-02 15:42:4627

基于多MCU的自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

詳細(xì)介紹了基于多P89C668單片機(jī)的組合邏輯電路自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì),包括硬件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)。該自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)采用USB接口實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與診斷平臺(tái)的通信,其移動(dòng)式結(jié)構(gòu)
2010-07-02 16:56:5018

一種通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

為了提高自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的通用性,本文將三層結(jié)構(gòu)的客戶/服務(wù)器模型引入到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,提出了一種基于數(shù)據(jù)字典,通過數(shù)據(jù)映射對(duì)系統(tǒng)軟硬件進(jìn)行解耦的方法,并在實(shí)踐中發(fā)
2010-07-14 14:39:067

基于PXI及GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

通過使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來代替大量專用測(cè)試設(shè)備,不僅可以降低成本,而且可以有效的提高測(cè)試效率。介紹了基于PXI總線和GP IB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)
2010-08-25 15:25:2432

EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及手機(jī)EMI測(cè)試實(shí)現(xiàn)

主要內(nèi)容一、為什么需要做自動(dòng)測(cè)試?二、EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)三、EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)四、EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成實(shí)例五、手機(jī)EMI自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)
2010-09-21 11:29:2362

電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響

電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響
2010-12-24 17:57:170

IPM自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的研究及實(shí)現(xiàn)

摘 要: IPM測(cè)試需要測(cè)試多個(gè)參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測(cè)試平臺(tái)。本文通過對(duì)各種不同參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行研究,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。問題的提出火車
2006-03-11 13:45:29744

電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響

摘要:目前有許多測(cè)試公司設(shè)計(jì)、制造并銷售引腳數(shù)眾多的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。這些測(cè)試設(shè)備具有非常復(fù)雜的集成電路,用于驅(qū)動(dòng)設(shè)備的每個(gè)引腳。一臺(tái)測(cè)試設(shè)備的引腳數(shù)可能多達(dá)409
2009-05-05 08:29:59953

基于GPIB的車載音響自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是計(jì)算機(jī)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物,目前廣泛應(yīng)用于眾多領(lǐng)域。本文在介紹基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)組成和GPIB技術(shù)原理和特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,著重介紹
2009-05-16 09:04:261369

基于VEE的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

介紹使用Agilent VEE軟件在IEEE4 88總線上對(duì)儀器進(jìn)行控制,進(jìn)而建立的以PC機(jī)為中心的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。  關(guān)鍵詞:自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);GP-IB總線;VEE Integrated Capacitance Automat
2009-10-15 21:44:141385

基于Delphi的直流伺服電機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

基于Delphi的直流伺服電機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì) 介紹利用工控機(jī)和GPIB卡測(cè)試直流伺服電機(jī)性能參數(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)和基本的系統(tǒng)硬件配置
2009-10-16 22:18:131161

DFT掃描設(shè)計(jì)在控制芯片的測(cè)試中的應(yīng)用

  本文通過對(duì)一種控制芯片的測(cè)試,證明通過采用插入掃描鏈和自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)技術(shù),可有效地簡(jiǎn)化電路的測(cè)試,提高芯片的測(cè)試覆蓋率,大大減少測(cè)試向量的數(shù)量,縮
2010-09-02 10:22:522024

反潛自導(dǎo)魚雷聲制導(dǎo)頭的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

  本文主要設(shè)計(jì)了用于某型反潛自導(dǎo)魚雷聲制導(dǎo)頭的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。首先對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀、組成以及被測(cè)試聲制導(dǎo)頭的組成和工作原理作了介紹。然后對(duì)測(cè)試方法和
2010-12-23 11:40:551178

末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成4種不同體制末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試任務(wù),具有體積小、結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)化、測(cè)試準(zhǔn)確度高、速度快,提高了雷達(dá)系統(tǒng)的維修性和保障性,增加戰(zhàn)備完好率和任務(wù)成功率,降低系統(tǒng)的維修保障費(fèi)用。
2011-03-07 10:24:071605

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備加流測(cè)壓及加壓測(cè)流的設(shè)計(jì)

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于測(cè)試分立器件、集成電路、混合信號(hào)電路直流參數(shù)、交流參數(shù)和功能的測(cè)試設(shè)備。主要通過測(cè)試系統(tǒng)軟件控制測(cè)試設(shè)備各單元對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,以判定被測(cè)器件
2011-04-23 11:08:025968

電子裝備自動(dòng)測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)

隨著現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù)、微電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也隨著復(fù)雜電子裝備的需求而不斷發(fā)展,通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)今后發(fā)展的必然方向。簡(jiǎn)要介紹了自
2011-05-06 16:27:2148

基于OP7200的應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

為了提高某型應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試效率,降低開發(fā)成本,提出一種基于顯示控制模塊OP7200 的應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。介紹了應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)思路,詳細(xì)分析了電源模塊、電壓電
2011-05-12 17:13:2522

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中自校準(zhǔn)與信號(hào)分配電路的設(shè)計(jì)

在基于虛擬儀器的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中,經(jīng)常會(huì)遇到待采集的信號(hào)變化范圍大、數(shù)目遠(yuǎn)大于數(shù)據(jù)采集單元通道數(shù)的情況,給系統(tǒng)資源的分配帶來困難.同時(shí),自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的自校準(zhǔn)也是一個(gè)
2011-06-10 17:32:1655

毫米波天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本文提出了一種 毫米波 天自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。通過自行設(shè)計(jì)關(guān)鍵部件,降低了天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的成本。本文對(duì)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)射與接收系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)論述,并給出了軟件控制流程
2011-07-04 11:16:3540

USB通信技術(shù)在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(Automatic Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備,計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分析,對(duì)被測(cè)單元進(jìn)行自動(dòng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)、性能測(cè)試和故障
2011-09-26 13:45:041323

基于AXIe總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

文中通過分析目前流行的PXI和LXI總線的基本特性和優(yōu)缺點(diǎn),對(duì)基于新型總線AXIe的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)進(jìn)行了介紹,并預(yù)測(cè)了自動(dòng)測(cè)試總線未來的發(fā)展趨勢(shì)。
2011-11-04 11:20:2037

基于LabVIEW的EDFA自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

開發(fā)了一種EDFA自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):按照時(shí)域法測(cè)量原理設(shè)計(jì)了硬件系統(tǒng),利用GPI B接口對(duì)系統(tǒng)的各個(gè)器件進(jìn)行自動(dòng)控制,實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)測(cè)量,提高了測(cè)試效率,降低了測(cè)試難度,減少了人為
2011-11-23 16:06:5660

Mellanox Technologies 選用 Mentor Graphics Tessent階層化ATPG解決方案

,以管理復(fù)雜度及削減其先進(jìn)的集成電路 (IC) 設(shè)計(jì)生成測(cè)試向量所需的成本。高品質(zhì)的 IC 測(cè)試需要大量的制造測(cè)試向量,Mellanox 運(yùn)用 Tessent 階層化 ATPG,顯著減少了生成這些測(cè)試向量所需的處理時(shí)間和系統(tǒng)內(nèi)存。
2015-05-19 17:12:051762

基于虛擬儀器的IGBT電氣參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)_姚丹

基于虛擬儀器的IGBT電氣參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)_姚丹
2017-01-08 10:47:212

復(fù)雜信號(hào)可重構(gòu)復(fù)用技術(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)_王永

復(fù)雜信號(hào)可重構(gòu)復(fù)用技術(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)_王永
2017-01-12 22:27:280

RF IC自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)

RF IC自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)
2017-01-12 22:02:4914

APU外部件自動(dòng)測(cè)試方法研究_羅云林

APU外部件自動(dòng)測(cè)試方法研究_羅云林
2017-01-31 21:14:561

基于PXI設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)時(shí)性能分析信朝陽

基于PXI設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)時(shí)性能分析_信朝陽
2017-03-17 08:00:000

基于CAN的自動(dòng)測(cè)試的設(shè)計(jì)及應(yīng)用

美國(guó)英特佩斯公司開發(fā)的 VSPY3 是一款功能強(qiáng)大且價(jià)格低廉的總線分析工具,可以快捷方便的實(shí)現(xiàn)節(jié)點(diǎn)仿真,數(shù)據(jù)解碼,自動(dòng)測(cè)試,數(shù)據(jù)采集等多種功能,可以同時(shí)支持高速 CAN,中速 CAN,LSFT
2017-09-08 18:29:436

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元

集成電路(Integrated Circuit,IC)測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分,而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215

基于labview的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

不同的車載電子 模塊進(jìn)行手動(dòng)、半自 動(dòng)乃至全自動(dòng)測(cè)試, 且通過內(nèi)置的算法,將龐大的測(cè)試結(jié)果加 以處理及簡(jiǎn)化,便于 測(cè)試人員實(shí)際使用, 能大大提升車載電子 產(chǎn)品的開發(fā)進(jìn)度。 基于LABVIEW 的電子產(chǎn)品測(cè)試,搭 建新的測(cè)試平臺(tái),針 對(duì)測(cè)試目標(biāo)、配置方 式以及輸入、輸出信 號(hào)進(jìn)行處
2017-11-21 17:24:4928

NSAT1000射頻組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)使用說明書

測(cè)試數(shù)據(jù)并生成報(bào)表。系統(tǒng)具有以下特點(diǎn): l 、兼容41所、安捷倫、Protek、日本安立、RS等主流網(wǎng)絡(luò)分析儀型號(hào); 2、 智能識(shí)別匹配儀器型號(hào); 3、自動(dòng)測(cè)量無源器件的S參數(shù)、增益、損耗、阻抗等指標(biāo); 4、 自動(dòng)保存配置信息、測(cè)試數(shù)據(jù)到數(shù)據(jù)庫中,
2018-03-16 15:59:397

非侵入式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的研制

為了解決智能變電站二次回路測(cè)試效率低和安全性不足的問題,引入了非侵入式的概念?;贗EC 61850第二版標(biāo)準(zhǔn)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù),研制了非侵入式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。首先分析了二次回路測(cè)試原理及目的,其次闡述
2018-03-29 11:06:160

集成電路故障建模的基本概念與ATPG工具的使用步驟

可見,ATPG的優(yōu)點(diǎn)是明顯的。首先,它是一個(gè)自動(dòng)的過程,所以它可以減少向量生成的時(shí)間,并且生成向量可以用故障覆蓋率的標(biāo)準(zhǔn)來衡量好壞;其次,ATPG是根據(jù)各類故障模型來生成向量的,因此一旦在測(cè)試
2020-04-13 15:52:3811655

買ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)來成都虹威

1、ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開關(guān)電源的PCBA連板的特性測(cè)試,量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目,測(cè)試效能佳,符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求
2020-05-15 10:25:031098

組合邏輯自動(dòng)測(cè)試生成的PDF文件免費(fèi)下載

本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是組合邏輯自動(dòng)測(cè)試生成的PDF文件免費(fèi)下載包括了:? 自動(dòng)測(cè)試生成(ATPG)相關(guān)問題 ? 組合(Combinational)邏輯ATPG算法相關(guān)概念 ? 組合邏輯ATPG
2020-12-01 08:00:001

時(shí)序邏輯自動(dòng)測(cè)試生成的PDF文件免費(fèi)下載

時(shí)序邏輯自動(dòng)測(cè)試生成的PDF文件免費(fèi)下載包括了:時(shí)序邏輯電路 ? 時(shí)間幀(Time Frame)擴(kuò)展法 ? 基于仿真(simulation)方法 ? 測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮與解壓縮 ? 商用ATPG工具介紹
2020-12-01 08:00:0014

基于LXI總線的多通道自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基于LXI總線的多通道自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
2021-06-16 10:34:358

小功率電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)

率AC-DC電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于生產(chǎn)型企業(yè),制造企業(yè)節(jié)省測(cè)試時(shí)間,提高企業(yè)批量生產(chǎn)效率。 產(chǎn)品特點(diǎn): 01.可一次同時(shí)測(cè)試多個(gè)產(chǎn)品,測(cè)試產(chǎn)品數(shù)量由硬件配置決定 02.硬件配置靈活,系統(tǒng)兼容性強(qiáng) 03.模塊化系統(tǒng)平臺(tái)軟件 04.自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告,可設(shè)置
2021-10-14 17:57:591633

MCU學(xué)習(xí)筆記_ATPG

設(shè)定:set_atpg-power_budget40set_atpg-filladjacentset_atpg-power_efforthighset_atpg-quiet_chain_test其中第一個(gè)命令的40可以換成其他數(shù)值,設(shè)置的越低toggle率越低,但是檢出率也會(huì)降低,根據(jù)實(shí)際需要選擇合適的數(shù)值report 命令:report_power -per_pattern -perc...
2021-12-28 19:18:360

基于Cascade半自動(dòng)探針臺(tái)的簡(jiǎn)易自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

實(shí)驗(yàn)箱、測(cè)試電路組成的簡(jiǎn)易自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。自動(dòng)測(cè)試軟件在安捷倫IO 庫提供的程序范例基礎(chǔ)上開發(fā),編程語言 為 VB.NET。最后對(duì)某公司的 RFID 晶圓進(jìn)行測(cè)試,結(jié)果表明系統(tǒng)運(yùn)行情況良好,測(cè)試效率高。
2022-06-02 10:04:413082

探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試的流程分析

測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率,來縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手,提出幾種
2022-06-06 10:50:071145

ATE電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的適用行業(yè)范圍

源儀電子ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用范圍: ATE電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備適用于交流- DC/DC交流(DC同步輸出)/DC-DC電源產(chǎn)品的綜合性能測(cè)試,一般市面上常用的電源測(cè)試基本上都使用。但是用戶選擇
2022-06-27 15:55:361092

開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

源儀電子開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適合測(cè)試適配器、充電器、定制電源和LED驅(qū)動(dòng)電源、工業(yè)電源等不同類型電源產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試。 開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 的特點(diǎn) 效率高:采用同步平行之測(cè)試架 系統(tǒng)穩(wěn)定度強(qiáng):AC
2022-07-02 15:23:532620

數(shù)字萬用表在在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的廣泛應(yīng)用

數(shù)字萬用表除了在實(shí)驗(yàn)室或工作臺(tái)單臺(tái)使用外,在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中也有廣泛的應(yīng)用。數(shù)字萬用表可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行電量參數(shù)的測(cè)量,來保證產(chǎn)品的一致性和指標(biāo)合規(guī)。
2023-01-09 14:16:16402

電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是什么?高性價(jià)比電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何選擇?

隨著科技的發(fā)展,電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)成為電子行業(yè)的重要組成部分。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試電源性能的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),它可以自動(dòng)檢測(cè)電源的輸入電壓、輸出電壓、輸出電流、輸出功率、輸出頻率等參數(shù)
2023-03-28 16:24:511149

使用高速PCIe或USB接口提高測(cè)試性能并允許在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試

更容易處理。得益于 EDA 社區(qū)的創(chuàng)新,可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 和自動(dòng)測(cè)試模式生成ATPG) 為 IC 測(cè)試 的挑戰(zhàn)帶來了豐富的方法。
2023-05-24 18:05:06983

虹科新品 | 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備

近期廣州虹科電子科技有限公司與德國(guó)SpectrumInstruments達(dá)成合作,正式成為其在大中華區(qū)的銷售和技術(shù)支持中心,一起致力于為測(cè)試測(cè)量行業(yè)提升高性能數(shù)字化儀解決方案。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備計(jì)算機(jī)控制
2022-01-04 10:03:56353

測(cè)試向量是什么意思

測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量(Test Vector)的一個(gè)基本定義是:測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一定義聽起來似乎很簡(jiǎn)單,但在真實(shí)應(yīng)用中則復(fù)雜得多
2023-10-30 11:23:511139

led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率?

led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率? LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試LED電源的設(shè)備,其作用是通過自動(dòng)化的方式對(duì)LED電源進(jìn)行各項(xiàng)功能和性能的測(cè)試。使用LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以提高測(cè)試
2023-11-09 09:12:04494

開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試指標(biāo)都有什么?

開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試指標(biāo)都有什么? 開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于對(duì)開關(guān)電源進(jìn)行全面測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備,它可以測(cè)試許多關(guān)鍵性能指標(biāo)以確保開關(guān)電源的可靠性和穩(wěn)定性。下面將詳細(xì)介紹開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試
2023-11-09 09:18:32413

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